公开(公告)号：CN119534498A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411713206.9

申请日：2024-11-27

Applicant: 国网湖北省电力有限公司超高压公司 ,  湖北省超能电力有限责任公司

Inventor： 王身丽 ,  石毅 ,  魏晓晖 ,  吴军 ,  赵威 ,  赵海峰 ,  魏莉芳 ,  郑卫军

IPC: G01N23/083

Abstract: 本发明提供一种输电线路耐张线夹的可变角度的X光检测装置，涉及X光检测技术领域，包括：X光射线管，其包括外壳、以及设置于外壳内的定子、转子、阳极、波浪型靶面板、集射端和阴极，转子一端连接定子、另一端连接阳极，波浪型靶面板安装于阳极表面，集射端与波浪型靶面板相对设置，阴极连接集射端，外壳表面位于波浪型靶面板和集射端之间设有发射窗；夹持机构；以及X光接收面板，其设置于夹持机构背离发射窗一侧。本发明的有益效果：利用波浪型靶面板表面波浪的不断变化，实现折射X光射线角度变化从而产生扫描的效果，实现大范围对于耐张线夹的扫描，而不增加X光射线折射设备功率以及改变耐张线夹的位置，扩大了X光射线检测范围。

公开(公告)号：CN114441575B

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202011123356.6

申请日：2020-10-20

Applicant: 广东德鑫医疗科技有限公司

Inventor： 周利 ,  谢卫华

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/083 ,  G01N23/04

Abstract: 本发明公开了一种X射线设备用成像质量测试装置，涉及X射线设备检测领域，其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体，其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中，本发明可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况，便于判断异常出现位置，利用测试人员可观察到X射线的指示区域，简化测试的操作，提高测试的准确性，且装置本体具有较低的成本，适合于机构日常对X射线设备的自行检测，确保X射线设备的运行成像质量，便于及时发现设备问题，也为第三方检测前便于机构自行提前校正，整体提高X射线设备管理的效率。

公开(公告)号：CN118887218B

公开(公告)日：2024-12-17

申请号：CN202411388830.6

申请日：2024-10-08

Applicant: 宝鸡市力合金属复合材料股份有限公司

Inventor： 郝保国

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/41 ,  G06T7/90 ,  G01N23/18 ,  G01N23/083

Abstract: 本申请涉及图像数据处理技术领域，尤其涉及一种基于X射线的复合板覆材焊缝检测方法。方法包括：获取复合板的焊缝区域的X光图像，并确定X光图像中目标像素点的多个参考像素点；确定目标像素点与焊缝区域之间的第一灰度特征差异值，并确定目标像素点的参考像素点与焊缝区域之间的第二灰度特征差异值，以根据第一灰度特征差异值以及第二灰度特征差异值，确定目标像素点的第一参数值；获取目标像素点的纹理特征值；将目标像素点的纹理特征值以及第一参数值相乘，获得目标像素点的第二参数值，并根据目标像素点的第二参数值从X光图像中确定裂纹区域。通过以上技术方案，能够更为准确地检测出复合板中的裂纹区域。

公开(公告)号：CN113945588B

公开(公告)日：2024-12-13

申请号：CN202111429768.7

申请日：2021-11-29

Applicant: 天津航天长征火箭制造有限公司

Inventor： 刘昆 ,  刘延平 ,  韩晋 ,  薛泉 ,  欧阳婷婷 ,  穆菁 ,  郑骥 ,  王照禹 ,  孙振 ,  陈玉新 ,  张利红 ,  夏磊 ,  李想 ,  毕军成 ,  张金 ,  刘东平 ,  张瑜 ,  于晓蕾 ,  杨旭 ,  田龙 ,  杨瑞 ,  袁祥祥

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/083 ,  G01N23/18 ,  G01C1/00 ,  G01C15/00 ,  F17D5/02

Abstract: 本发明创造提供了一种大直径航天贮箱箱内导管全位置焊焊缝X射线检测方法，包括如下步骤：S1、借助角度测量工装转动激光笔，选择不存在干扰的两个方向，准确定位焊缝间隔90°的两个透照方向；将射线机分别对两个透照方向的胶片照射，对胶片冲洗后评定焊接结果。本发明创造所述的大直径航天贮箱箱内导管全位置焊焊缝X射线检测方法，解决了大直径贮箱箱内导管位置固定，焊缝所在平面位置各异、周边环境与射线束干涉、透照方向难控制等问题，有效的克服了现有技术在大直径航天贮箱箱内导管全位置焊焊缝X射线检测应用过程中的全部缺点。

公开(公告)号：CN119096138A

公开(公告)日：2024-12-06

申请号：CN202380035692.0

申请日：2023-02-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 表和彦 ,  广濑雷太 ,  加藤秀一 ,  尤里·普拉托洛瓦

IPC: G01N23/18 ,  G01N23/04 ,  G01N23/083 ,  G21K1/00 ,  G21K1/06 ,  G21K7/00

Abstract: 提供一种半导体检查装置、半导体检查系统以及半导体检查方法，通过以能够收纳到实验室内的大小且以足够的强度得到放大像，能够按每个局部对半导体内部的微细结构进行检查。一种使用了放大的X射线像的半导体检查装置，具备：X射线照射部，其由微焦点且高输出的X射线源(120)和将放射出的X射线朝向半导体的试样进行聚光照射的会聚镜(130)构成；试样保持部，其对试样进行保持；反射镜型X射线透镜部(150)，其对透射过试样的X射线进行成像；以及摄像部(190)，其取得所成像的X射线像，构成会聚镜(130)和反射镜型X射线透镜部(150)的各镜具有形成有对于特定波长的X射线具有高反射率的多层膜的反射面。

公开(公告)号：CN119032269A

公开(公告)日：2024-11-26

申请号：CN202380034569.7

申请日：2023-05-08

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 森本直树 ,  木村健士 ,  土岐贵弘 ,  永井石川理沙

IPC: G01N23/041 ,  G01N23/083

Abstract: 该X射线相位成像装置(100)具备：X射线源(1)；X射线检测器(2)；多个光栅；图像处理部(7a)，其生成第一暗场像(35a)；存储部(8)，其存储针对与光栅方向正交的方向上的每个位置生成的多个校正曲线(20a)；以及控制部(7b)，其使用与每个上述位置对应的多个校正曲线来校正第一暗场像，其中，多个校正曲线的各校正曲线表示上述位置处的、与被摄体(90)的X射线吸收有关的值同与X射线散射有关的值之间的对应关系。

公开(公告)号：CN115200492B

公开(公告)日：2024-11-12

申请号：CN202210796995.1

申请日：2022-07-06

Applicant: 江麓机电集团有限公司

Inventor： 刘克 ,  陈建文 ,  袁伍丰 ,  左经纬 ,  范远博 ,  王鑫铭 ,  何洪

IPC: G01B11/16 ,  G01N23/083 ,  G01N25/16 ,  G01N21/84 ,  G01N3/42 ,  C23C8/00 ,  G06F30/23

Abstract: 本发明公开了一种测定齿轮钢渗层马氏体相变动力学参数的方法，涉及钢铁行业热处理，解决钢渗碳淬火工件预测准确性和精度欠缺的问题，包括熔炼试样，采用热模拟实验机测定试样在不同冷速下膨胀量‑温度曲线，并进行组织含量检测，确定马氏体转变临界冷速，绘制连续冷却过程的CCT曲线；计算获得5组不同含碳量试样的奥氏体热膨胀系数、马氏体热膨胀系数、相变膨胀系数、Ms点和动力学方程系数α；基于实验结果对Ms点随含碳量和冷却的变化进行拟合，获得马氏体转变温度随含碳量和冷却的变化关系；将获得的相变动力学参数进行齿轮零件的渗碳淬火模拟；本发明提升了钢渗碳淬火模拟计算的准确性和精度，从而指导齿轮零件热处理变形控制。

公开(公告)号：CN118921823A

公开(公告)日：2024-11-08

申请号：CN202411416042.3

申请日：2024-10-11

Applicant: 南通航宇检测科技有限公司

Inventor： 黄辉

IPC: H05G1/26 ,  E05B47/00 ,  G01N23/04 ,  G01N23/083 ,  G01V11/00

Abstract: 本发明涉及应用于测量领域的一种高安全性模块化X射线检测设备，包括有X射线检测机和套设在X射线检测机外侧的防辐射罩，采用重量感应地垫、防护组件、站人采集单元和安全防护单元的配合，一方面能够实现对防辐射罩内部是否站人数据的实时监测作用，促进X射线检测设备的自动化和智能化，保证X射线检测设备应用过程中的安全性，另一方面，有效实现对X射线检测机启动作用的安全性进行双启动验证，进一步保证X射线检测设备的应用安全性，避免出现由于误操作造成对检验人员的辐射损伤，通过智能控制的方式提高X射线检测设备的安全保障作用，以此有效提高X射线检测设备的应用和发展，增大X射线检测设备的经济效益。

公开(公告)号：CN118888181A

公开(公告)日：2024-11-01

申请号：CN202411378003.9

申请日：2024-09-30

Applicant: 安徽吸收谱仪器设备有限公司

Inventor： 金婷 ,  黄立洲 ,  邢兵

IPC: G21K1/06 ,  G01N23/083 ,  G01N23/00

Abstract: 本发明属于半导体材料精加工技术领域，涉及石英弯晶单色器及其制备方法和应用。针对现有技术中石英弯晶单色器需要正反面两次切割石英，成功率较低，划片次数多，耗时长，切割效率低，且易破裂，切割边缘不整齐，易崩边，压弯后的应力传播至表面，影响能量分辨率的技术问题。本申请提供的石英弯晶单色器，包括通过平面玻璃粘接在凹面玻璃上的石英阵列；所述石英阵列包括粘接在所述平面玻璃上的多个单晶石英；所述单晶石英的崩边＜15μm。切割边缘整齐，崩边尺寸小，能量分辨率高。本申还提供石英弯晶单色器制备方法，减少了石英划片次数，降低加工时间，提高了石英切割的效率和成功率。

公开(公告)号：CN118817733A

公开(公告)日：2024-10-22

申请号：CN202410809602.5

申请日：2024-06-21

Applicant: 吉林大学

Inventor： 张冠宇 ,  马文琪 ,  刘洋

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/18 ,  G01N23/083

Abstract: 一种结合结构光传感器的DR检测方法，涉及数字化射线检测技术领域，解决现有技术检测过程中，由于铸件外表面的缺陷影响X射线在物体内部的衰减情况，导致铸件的内部结构图像失真，进而影响铸件内部缺陷检测的结果，本方法基于结构光检测系统获得的铸件表面三维点云数据，识别并记录外表面缺陷区域，然后在DR图像中，针对外表面缺陷区域使用灰度补偿方法，减少由于外表面缺陷引起的灰度值突变，从而提高铸件内部缺陷检测的准确性。本发明的检测方法，实现了补偿被测铸件外表面缺陷对DR检测结果的影响。