一种X射线设备用成像质量测试装置

    公开(公告)号:CN114441575B

    公开(公告)日:2025-02-11

    申请号:CN202011123356.6

    申请日:2020-10-20

    Inventor: 周利 谢卫华

    Abstract: 本发明公开了一种X射线设备用成像质量测试装置,涉及X射线设备检测领域,其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体,其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中,本发明可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况,便于判断异常出现位置,利用测试人员可观察到X射线的指示区域,简化测试的操作,提高测试的准确性,且装置本体具有较低的成本,适合于机构日常对X射线设备的自行检测,确保X射线设备的运行成像质量,便于及时发现设备问题,也为第三方检测前便于机构自行提前校正,整体提高X射线设备管理的效率。

    一种X射线设备用成像质量测试装置

    公开(公告)号:CN114441575A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202011123356.6

    申请日:2020-10-20

    Inventor: 周利 谢卫华

    Abstract: 本发明公开了一种X射线设备用成像质量测试装置,涉及X射线设备检测领域,其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体,其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中,本发明可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况,便于判断异常出现位置,利用测试人员可观察到X射线的指示区域,简化测试的操作,提高测试的准确性,且装置本体具有较低的成本,适合于机构日常对X射线设备的自行检测,确保X射线设备的运行成像质量,便于及时发现设备问题,也为第三方检测前便于机构自行提前校正,整体提高X射线设备管理的效率。

    一种X射线设备用成像质量测试装置

    公开(公告)号:CN212622331U

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN202022347649.4

    申请日:2020-10-20

    Inventor: 周利 谢卫华

    Abstract: 本实用新型公开了一种X射线设备用成像质量测试装置,涉及X射线设备检测领域,其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体,其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中,本实用新型可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况,便于判断异常出现位置,利用测试人员可观察到X射线的指示区域,简化测试的操作,提高测试的准确性,且装置本体具有较低的成本,适合于机构日常对X射线设备的自行检测,确保X射线设备的运行成像质量,便于及时发现设备问题,也为第三方检测前便于机构自行提前校正,整体提高X射线设备管理的效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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