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    一种用于旋转圆盘电极原位X射线精细结构吸收谱原位测试的装置
    2.
    发明公开
    一种用于旋转圆盘电极原位X射线精细结构吸收谱原位测试的装置 审中-公开

    公开(公告)号：CN118914254A

    公开(公告)日：2024-11-08

    申请号：CN202410991243.X

    申请日：2024-07-23

    申请人： 南京理工大学

    发明人： 高啸 ,  刘武 ,  易文斌 ,  李晓伟 ,  马序军 ,  顾燕丰

    IPC分类号： G01N23/085 ,  G01N23/223

    摘要： 本发明公开了一种用于旋转圆盘电极原位X射线精细结构吸收谱原位测试的装置。该装置包括依次设置的上盖、聚醚醚酮薄膜、本体、T型圈、通孔螺栓、底座。其中，本体上设有用于放置参比电极的开孔、用于放置对电极的开孔以及进液口、出液口。本发明适用于X射线精细结构吸收谱荧光法的测定，由于聚醚醚酮薄膜具有良好的X射线透射性，能够实现X射线精细结构吸收谱荧光法研究的要求。本发明的装置对工作电极，即旋转圆盘电极采用可伸缩式设置，增大探测器的单位面积接受的光子数，增加了原位测试的信噪比。通过对旋转圆盘电极上涂布的催化剂进行原位测试，有助于研究催化剂在实验室研究体系和工业体系(如膜电极)之间结构的差异。

    一种荧光全场成像设备、成像系统及成像方法
    5.
    发明公开
    一种荧光全场成像设备、成像系统及成像方法 审中-公开

    公开(公告)号：CN118883601A

    公开(公告)日：2024-11-01

    申请号：CN202411040797.8

    申请日：2024-07-30

    申请人： 深圳综合粒子设施研究院

    发明人： 林晓胜 ,  李雷 ,  刘亦帆 ,  崔艺涛

    IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/2204 ,  G01N1/34

    摘要： 本发明提供了一种荧光全场成像设备、成像系统及成像方法，涉及X射线成像领域，荧光全场成像设备包括第一工作台、过滤件、检测件、发射件及聚集件，第一工作台上设置有承托位，承托位用于承托样品，过滤件上设置有过滤孔，发射件用于发射第一X射线束，且第一X射线束为液体金属射流X射线束，聚集件用于接收并聚集第一X射线束，并形成单色的第二X射线束，且第二X射线束沿着第一预设方向射入样品上，以使样品释放X射线荧光，检测件用于采集穿过过滤孔的X射线荧光，相比于固态金属阳极靶X射线源，液体金属射流X射线束亮度高，以使得样品能获得更多的X射线光子数，并能激发更多的荧光光子数，以能缩短检测件获取的采集时间，提高成像效率。

    一种测定单晶硅表面金属镀层厚度的方法
    6.
    发明公开
    一种测定单晶硅表面金属镀层厚度的方法 审中-公开

    公开(公告)号：CN118857175A

    公开(公告)日：2024-10-29

    申请号：CN202410998455.0

    申请日：2024-07-24

    申请人： 大连理工大学

    发明人： 杜韫哲 ,  李基东 ,  郝广平

    IPC分类号： G01B15/02 ,  G01N23/223

    摘要： 本发明提供一种测定单晶硅表面金属镀层厚度的方法，包括在单晶硅表面镀不同厚度的金属薄膜，作为标准样品，用X射线荧光光谱仪测定单晶硅表面的硅元素含量；将测出的硅元素含量求导数，并与金属镀层厚度作图；对硅元素含量的导数与金属镀层的厚度进行线性拟合，得到线性公式，获得两者的线性关系；对任意镀层的单晶硅待测样品进行测试，将硅的含量代入所述线性公式即得到单晶硅表面金属镀层的厚度。该方法基于金属镀层对底层元素荧光信号的屏蔽效应，将底层元素的信号经对数处理后与金属镀层的厚度可以转化为线性关系，可以快速检测金属镀层的厚度，大大简化X射线荧光测厚的过程。

    一种恢复原生沉积地球化学环境的方法
    7.
    发明公开
    一种恢复原生沉积地球化学环境的方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN118817813A

    公开(公告)日：2024-10-22

    申请号：CN202410725677.5

    申请日：2024-06-06

    申请人： 核工业北京地质研究院

    发明人： 钟军 ,  冀华丽 ,  何中波 ,  朱斌 ,  吴玉 ,  东前

    IPC分类号： G01N27/62 ,  G01N23/223 ,  G01N1/04 ,  G01N1/28

    摘要： 本发明属于盆地内砂岩型铀矿找矿领域，具体涉及一种恢复原生沉积地球化学环境的方法，该方法包括：步骤(1)采集目的层泥岩样品；步骤(2)通过地球化学分析，测试样品中微量元素、稀土元素和主量元素含量；步骤(3)通过微量元素特征分析，判断沉积古气候条件；步骤(4)通过稀土元素特征分析，判断沉积速率，从而判断沉积水体状态；步骤(5)通过主量元素特征分析，判断沉积水体古生产力状况和化学风化强度；步骤(6)综合步骤(3)、(4)和步骤(5)判别结果，确定原生沉积地球化学环境。本发明方法利用泥岩主量、微量元素和稀土元素等地球化学元素特征，结合古气候、沉积速率、古生产力、化学风化强度等多指标，综合恢复原生沉积地球化学环境，全面、客观、准确、有效地恢复原生沉积地球化学环境，大大提高恢复原生沉积环境的精度。

    一种用于深海矿物勘探的X射线荧光仪探管
    8.
    发明授权
    一种用于深海矿物勘探的X射线荧光仪探管 有权

    公开(公告)号：CN118050389B

    公开(公告)日：2024-10-22

    申请号：CN202410327596.X

    申请日：2024-03-21

    申请人： 成都理工大学

    发明人： 张庆贤 ,  董浪 ,  蒋彪 ,  肖鸿飞 ,  王子瑒 ,  王明 ,  董春辉 ,  谷懿

    IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/2204

    摘要： 本发明公开了一种用于深海矿物勘探的X射线荧光仪探管，包括外壳，在外壳的内部设置有安装腔体；安装腔体的内部设置有探测装置本体，探测装置本体包括外管、上支撑密封座、下支撑密封座、支撑架、X射线源以及探测器；支撑密封座和下支撑密封座分别设置外管的两端，外管分别与上支撑密封座和下支撑密封座固定连接；在外管的内部设置有支撑架，X射线源固定设置在支撑架上；在外管上设置有铍窗。在本发明中，探测装置本体采用外管、支撑密封座、支撑架等组件结构，设计合理，能够稳固地支撑X射线源和探测器，将X射线源固定在支撑架上，通过铍窗发射X射线，探测器通过第一连接孔接收X射线信号，实现对矿物的荧光光谱检测。

    一种X射线荧光光谱仪
    9.
    发明公开
    一种X射线荧光光谱仪 审中-公开

    公开(公告)号：CN118794973A

    公开(公告)日：2024-10-18

    申请号：CN202411095424.0

    申请日：2024-08-12

    申请人： 派镀科技(深圳)有限公司

    发明人： 宁德 ,  徐泽林 ,  黄姿琦 ,  黄贵骁 ,  龚海敏

    IPC分类号： G01N23/223

    摘要： 本发明公开了一种X射线荧光光谱仪，涉及膜厚检测技术领域，包括主机组件，所述主机组件包括有主机外壳，所述主机外壳的底部固定连接有支撑底板，所述主机外壳的顶部固定连接有固定顶板。该X射线荧光光谱仪，通过启动真空泵，使其产生吸力，此时调节调压阀门能够改变吸力的强弱，避免吸力过大对薄膜产品造成损坏，那么经过连通管将通气腔内部的气体都抽离，因此每个正吸气口和每个斜吸气口都具有吸力，由于薄膜产品平铺在检测板上，检测板表面的吸力会像吸盘一样将薄膜产品吸附住，其中正吸气口对薄膜产品产生的吸力是垂直向下的，而斜吸气口对薄膜产品产生的吸力是斜向外的，具有辅助舒展的功能。