公开(公告)号：CN111820927B

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202010201446.6

申请日：2020-03-20

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 土岐贵弘 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: A61B6/03 ,  G06T5/50 ,  G06T5/00 ,  A61B6/42 ,  G01N23/041 ,  G06T5/70 ,  A61B6/40

Abstract: 本发明提供一种X射线相位成像装置以及X射线相位对比度图像生成方法，本X射线相位成像装置具备：摄影系统、用于在退避位置与摄影位置之间切换的位置切换机构、控制退避位置与摄影位置的切换的控制部以及基于第一图像和第二图像来生成X射线相位对比度图像的图像处理部。控制部构成为进行以下控制：将退避位置处的摄影和摄影位置处的摄影作为一系列的动作来执行。

公开(公告)号：CN110913764B

公开(公告)日：2023-08-04

申请号：CN201880046853.5

申请日：2018-09-18

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 白井太郎 ,  木村健士 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明的X射线相位差摄影系统(100)包括X射线源(1)、多个光栅、检测器(4)及图像处理部(6)，图像处理部(6)构成为基于由第一X射线图像(9a)及第二X射线图像(9b)再建的第一相位对比度图像(10a)，来修正由第一X射线图像(9a)及第三X射线图像(9c)再建的第二相位对比度图像(10b)的伪影。

公开(公告)号：CN111465841B

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN201880080701.7

申请日：2018-11-27

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  佐藤允信 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041

Abstract: X射线相位摄像系统(100)具备X射线源(1)、多个光栅(2、3)、检测器(4)、光栅移动机构(8)以及图像处理部(5)，其中，图像处理部(5)构成为基于从通过在短时间内进行多次条纹扫描而获取到的多个X射线图像组(R)提取出的多个第一特征量(12)和第二特征量(14)，来生成相位对比度图像(15)。

公开(公告)号：CN109425624B

公开(公告)日：2022-06-03

申请号：CN201811033808.4

申请日：2018-09-05

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/046

Abstract: 本发明的X射线成像装置具备X射线源、包括第一光栅和第二光栅的多个光栅、检测器、使包括纤维束的被摄体与摄像系统进行相对旋转的旋转机构以及生成暗场像的图像处理部。图像处理部构成为从在多个旋转角度下拍摄到的多个暗场像至少获取包括纤维束的被摄体的三维暗场像。

公开(公告)号：CN109561864B

公开(公告)日：2022-05-17

申请号：CN201780046916.2

申请日：2017-07-10

Applicant: 株式会社岛津制作所 ,  国立大学法人大阪大学

Inventor： 佐野哲 ,  田边晃一 ,  吉牟田利典 ,  木村健士 ,  岸原弘之 ,  和田幸久 ,  和泉拓朗 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  志村考功 ,  渡部平司 ,  细井卓治

IPC: A61B6/00 ,  G01N23/041

Abstract: 本X射线相位差摄像装置(100)具备：X射线源(1)，其照射连续X射线；第一光栅(3)，其用于形成自身像；第二光栅(4)；检测部(5)，其检测连续X射线；以及第三光栅(2)，其配置在检测部(5)与第一光栅(3)之间。而且，以满足规定的式的条件的方式配置第一光栅(3)、第二光栅(4)以及第三光栅(2)。

公开(公告)号：CN108720855B

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN201810354238.2

申请日：2018-04-19

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 田边晃一 ,  木村健士 ,  吉牟田利典 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明提供一种X射线相位成像装置。该X射线相位成像装置包括：位置切换机构，其使一个或多个光栅的相对位置在退避位置与检测位置之间切换，其中，该退避位置为处于图像信号检测器的检测面上的检测范围外的位置，该检测位置为处于图像信号检测器的检测面上的检测范围内的位置；以及焦点直径变更部，其使X射线源的焦点直径与一个或多个光栅的相对位置的切换联动地变更。

公开(公告)号：CN111465841A

公开(公告)日：2020-07-28

申请号：CN201880080701.7

申请日：2018-11-27

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 佐野哲 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  佐藤允信 ,  土岐贵弘 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/041

Abstract: X射线相位摄像系统(100)具备X射线源(1)、多个光栅(2、3)、检测器(4)、光栅移动机构(8)以及图像处理部(5)，其中，图像处理部(5)构成为基于从通过在短时间内进行多次条纹扫描而获取到的多个X射线图像组(R)提取出的多个第一特征量(12)和第二特征量(14)，来生成相位对比度图像(15)。

公开(公告)号：CN109475335A

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201780044614.1

申请日：2017-07-10

Applicant: 株式会社岛津制作所 ,  国立大学法人大阪大学

Inventor： 堀场日明 ,  田边晃一 ,  吉牟田利典 ,  木村健士 ,  岸原弘之 ,  和田幸久 ,  和泉拓朗 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  志村考功 ,  渡部平司 ,  细井卓治

IPC: A61B6/00

Abstract: 该X射线相位差摄像装置(100)具备：X射线源(1)；第一光栅(3)，其用于形成自身像；第二光栅(4)；检测部(5)，其检测X射线；调整机构(6)；以及控制部(7)，其进行基于由检测部(5)检测出的莫尔条纹图案来调整第一光栅(3)的位置偏移或第二光栅(4)的位置偏移的控制。

公开(公告)号：CN109470729A

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201811010609.1

申请日：2018-08-31

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 土岐贵弘 ,  木村健士 ,  白井太郎 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  森本直树

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/20008

Abstract: 本发明提供一种放射线相位差摄影装置。该放射线相位差摄影装置具备X射线源、用于形成自身像的第一光栅、用于与第一光栅的自身像发生干涉的第二光栅以及使用于保持被摄体的被摄体载置台移动的移动机构。移动机构能够使被摄体载置台在第一光栅的X射线源侧和第一光栅的第二光栅侧以越过第一光栅的方式沿X射线的光轴方向移动。

公开(公告)号：CN107427271A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201680021003.0

申请日：2016-03-01

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 田边晃一 ,  古井真悟 ,  吉牟田利典 ,  木村健士 ,  西村晓弘 ,  白井太郎 ,  土岐贵弘 ,  佐野哲 ,  堀场日明 ,  佐藤敏幸

IPC: A61B6/00

Abstract: 在实施例1所涉及的X射线摄影装置(1)中，X射线检测器(5)具有利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件的结构。向X射线检测器(5)入射的X射线中的向遮光壁入射的X射线不被转换为闪烁光而透过X射线检测器(5)。因而，通过向利用格子状的遮光壁划分闪烁体元件所得到的X射线检测器(5)入射X射线，能够与使该X射线通过检测掩膜的情况同样地将透过了被检体(M)的X射线(3a)向X射线检测器(5)入射的区域进一步限制在任意的范围内。因而，能够在EI-XPCi中使用的X射线摄影装置(1)中省略检测掩膜，因此能够降低X射线摄影装置(1)的制造成本。