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发明公开
X射线相位成像装置、X射线图像处理装置、X射线图像处理方法以及校正曲线生成方法审中-实审

公开(公告)号：CN119032269A

公开(公告)日：2024-11-26

申请号：CN202380034569.7

申请日：2023-05-08

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 森本直树 , 木村健士 , 土岐贵弘 , 永井石川理沙

IPC: G01N23/041 , G01N23/083

Abstract: 该X射线相位成像装置(100)具备：X射线源(1)；X射线检测器(2)；多个光栅；图像处理部(7a)，其生成第一暗场像(35a)；存储部(8)，其存储针对与光栅方向正交的方向上的每个位置生成的多个校正曲线(20a)；以及控制部(7b)，其使用与每个上述位置对应的多个校正曲线来校正第一暗场像，其中，多个校正曲线的各校正曲线表示上述位置处的、与被摄体(90)的X射线吸收有关的值同与X射线散射有关的值之间的对应关系。

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