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公开(公告)号:CN114509452A
公开(公告)日:2022-05-17
申请号:CN202111230312.8
申请日:2021-10-21
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/04 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种成像型X射线显微镜,即使是高能量的X射线也能够增大数值孔径,即使在实验室内也能够以足够的强度得到放大像。具备:包含微焦点且高输出的X射线源(120)和将辐射的X射线向样品聚光照射的聚光镜(130)的X射线照射部;保持样品的样品保持部;将透过了样品的X射线成像的反射镜型X射线镜头部(150);以及取得所成像的X射线像的摄像部(190),构成聚光镜(130)以及反射镜型X射线镜头部(150)的各镜具有形成有对特定波长的X射线具有高的反射率的多层膜的反射面。
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公开(公告)号:CN117280200A
公开(公告)日:2023-12-22
申请号:CN202280032318.0
申请日:2022-05-02
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种得到生物体试样的X射线CT图像的方法等,该方法包含:使造影剂渗透于生物体试样并固化、造影的工序,其中,造影剂包含蜡,渗透于生物体试样并固化的状态的密度为0.95g/cm3以下,并且熔点为40℃~80℃;将被固化的造影剂熔解并再凝固的工序;以及对被再凝固的生物体试样照射具有4~12keV的能量的X射线而取得X射线CT图像的工序,生物体试样的形状是取得所述X射线CT图像的工序中的生物体试样内的X射线的最大光路长度成为2mm以下的形状。
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公开(公告)号:CN119096138A
公开(公告)日:2024-12-06
申请号:CN202380035692.0
申请日:2023-02-21
Applicant: 株式会社理学
Abstract: 提供一种半导体检查装置、半导体检查系统以及半导体检查方法,通过以能够收纳到实验室内的大小且以足够的强度得到放大像,能够按每个局部对半导体内部的微细结构进行检查。一种使用了放大的X射线像的半导体检查装置,具备:X射线照射部,其由微焦点且高输出的X射线源(120)和将放射出的X射线朝向半导体的试样进行聚光照射的会聚镜(130)构成;试样保持部,其对试样进行保持;反射镜型X射线透镜部(150),其对透射过试样的X射线进行成像;以及摄像部(190),其取得所成像的X射线像,构成会聚镜(130)和反射镜型X射线透镜部(150)的各镜具有形成有对于特定波长的X射线具有高反射率的多层膜的反射面。
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