裁切半导体晶片的方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115985850A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202310075436.6

    申请日:2017-12-11

    Abstract: 提供一种裁切半导体晶片的方法。此方法包含裁切一半导体晶片,以形成一第一开口。此外,上述半导体晶片包含一切割胶带与通过一芯片贴合薄膜贴合于上述切割胶带的一基底,上述第一开口是形成于上述基底的一上部。此方法更包含从上述第一开口切穿上述半导体晶片的上述基底与上述芯片贴合薄膜,以在上述第一开口之下形成一中间开口并在上述中间开口之下形成一第二开口,而将上述半导体晶片分割成二个芯片。此外,上述中间开口的侧壁的斜率异于上述第一开口及上述第二开口的侧壁的斜率。

    叠层封装结构
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110391191A

    公开(公告)日:2019-10-29

    申请号:CN201810628042.8

    申请日:2018-06-19

    Abstract: 本发明实施例提供一种叠层封装结构,包含:第一封装件、多个导电凸块、第二封装件以及底部填充胶。导电凸块设置在第一封装件的第二表面上且电连接到第一封装件。第二封装件通过导电凸块设置在第一封装件的第二表面上,且包含半导体器件以及包封半导体器件的包封材料。从包封材料的上部表面到半导体器件的上部表面的最短距离大于或大体上等于半导体器件的厚度的两倍。底部填充胶填充在第一封装件与第二封装件之间。

    半导体装置结构的形成方法

    公开(公告)号:CN108735616A

    公开(公告)日:2018-11-02

    申请号:CN201711219754.6

    申请日:2017-11-29

    Abstract: 提供半导体装置结构的形成方法,此方法包含提供半导体结构,半导体结构具有中央部分和围绕中央部分的周边部分。此方法包含在半导体结构的表面上方形成多个第一导电凸块和多个虚设导电凸块,第一导电凸块在中央部分上方并电性连接至半导体结构,虚设导电凸块在周边部分上方并与半导体结构电性绝缘,第一导电凸块的每一个具有第一厚度和第一宽度,虚设导电凸块的每一个具有第二厚度和第二宽度,第二厚度小于第一厚度,且第二宽度大于第一宽度。

    半导体器件和形成半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN110970396B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN201910927282.2

    申请日:2019-09-27

    Abstract: 形成半导体器件的方法包括接收中介层的第一表面上的导电凸块的第一设计,第一设计中的导电凸块具有相同的截面面积;将第一设计中的导电凸块分组为第一表面的第一区域中的第一组导电凸块和第一表面的第二区域中的第二组导电凸块,其中,第二区域的凸块图案密度低于第一区域的凸块图案密度;通过修改第一设计来形成第二设计,其中,修改第一设计包括修改第二区域中的第二组导电凸块的截面面积;并且根据第二设计在中介层的第一表面上形成导电凸块,其中,在形成之后,第一组导电凸块和第二组导电凸块具有不同的截面面积。本发明的实施例还涉及半导体器件。

    半导体装置结构的形成方法

    公开(公告)号:CN108735616B

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201711219754.6

    申请日:2017-11-29

    Abstract: 提供半导体装置结构的形成方法,此方法包含提供半导体结构,半导体结构具有中央部分和围绕中央部分的周边部分。此方法包含在半导体结构的表面上方形成多个第一导电凸块和多个虚设导电凸块,第一导电凸块在中央部分上方并电性连接至半导体结构,虚设导电凸块在周边部分上方并与半导体结构电性绝缘,第一导电凸块的每一个具有第一厚度和第一宽度,虚设导电凸块的每一个具有第二厚度和第二宽度,第二厚度小于第一厚度,且第二宽度大于第一宽度。

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