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公开(公告)号:CN114414971B
公开(公告)日:2024-05-28
申请号:CN202111530294.5
申请日:2021-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于CMOS图像传感器暗电流来定量质子电离损伤的方法,包括第一步,选取2只同晶圆批的CMOS图像传感器,分为A组、B组,第二步,对A组的CMOS图像传感器进行70MeV质子辐照试验;第三步,对A组CMOS图像传感器进行结构分析;第四步,采用粒子输运软件Geant4计算非电离能损,计算出位移损伤剂量;第五步,采用粒子输运软件Geant4计算非电离能损,根据位移损伤剂量计算出对应的中子注量Fni;第六步,对B组的CMOS图像传感器进行反应堆中子辐照试验;第七步,计算空间质子电离损伤△μi,△μi=μAi‑μBi;第八步,拟合△μi‑Fpi的变化曲线。本发明消除位移损伤的影响、定量评价质子电离损伤,精准预判器件在轨性能退化趋势,提前做好防护措施,对航天器在轨安全运行具有重要意义。
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公开(公告)号:CN117934899A
公开(公告)日:2024-04-26
申请号:CN202311705049.2
申请日:2023-12-13
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/774 , G06T7/00 , G06T5/70 , G06T7/90
Abstract: 本发明公开了一种基于星图灰度分布特征的观星设备质量分类方法,包括:S1,星点图像数据采集;S2,星点图像噪声处理;S3,星点图像特征建模;S4,产品质量特征建模;S5,产品质量分类分析。对星点图像进行阈值去噪处理,依据去噪后星点图像的灰度分布特征建立星点图像模型,并以此模型结合光学像差成像原理建立产品质量分类模型,满足产品总装质量的智能分类需求。
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公开(公告)号:CN117892492A
公开(公告)日:2024-04-16
申请号:CN202311727037.X
申请日:2023-12-15
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F30/20 , G06T13/40 , G06F111/04
Abstract: 本发明提供一种基于动作捕捉系统驱动数字人的干涉约束系统,包括虚拟环境检测盒模组,数字人碰撞检测盒模组,碰撞检测管理模块、动作捕捉数据传输管理模块,数字人运动位姿管理模块;所述动作捕捉系统产生动作捕捉数据;所述动作捕捉数据实时驱动数字人和隐身数字人副本发生运动;所述隐身数字人副本在虚拟环境运动过程中,会与虚拟环境的刚性物体发生碰撞;所述动作捕捉数据传输管理模块接收动作捕捉系统传输过来的人体姿态信息数据包,实时转换形成符合数字人关节点的空间位移和旋转信息,并将转换后的数据分发到数字人的运动位姿管理模块;所述碰撞检测管理模块用于对碰撞检测管理。
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公开(公告)号:CN117872073A
公开(公告)日:2024-04-12
申请号:CN202311695083.6
申请日:2023-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/26 , G01R1/36 , G05B19/042
Abstract: 本发明公开了一种绝缘栅极双极性晶体管环境试验的高压偏置系统,系统采用集成化设计,将开关电路控制模块,开关指令模块和保护电路模块集成于一体。实现在IGBT器件环境可靠性试验过程中对试验系统的保护;实现在线对高压偏置下受试器件的切换功能,避免了因为对受试验器件偏置切换而中环境试验,提高了功率半导体器件环境可靠性试验的效率和安全性。该技术提高了IGBT器件环境可靠性试验的效率,同时保证了IGBT器件在环境可靠性试验中高压偏置下的安全性。本发明的设计方法简单易懂,工程实现容易,对功率半导体器件环境可靠性试验偏置电路的设计具有重要的工程应用价值。
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公开(公告)号:CN113985130B
公开(公告)日:2024-04-12
申请号:CN202110880766.3
申请日:2021-08-02
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种带线电连接器直流电阻测试自动测试系统及测试方法。所述系统包括:计算机(1);测试控制主机(2),包括多路测试单元(5)与运动控制单元(6);配对转接工装(3),包括测试电缆一(21)、转接电缆(22),所述测试电缆一(21)一端与多通道测试接口(16)相连,另一端与转接电缆(22)相连;夹持装置(4),包括正反牙丝杆滑台(23)、步进电机(20)、齿形刀片组合(24)、测试电缆二(25)、送线夹具(26),所述齿形刀片组合(24)为具有多个齿尖刃口的上、下刀片,上刀片(31)与下刀片(32)齿尖与齿尖相对安装固定。本发明可通过一次装夹,简单、高效、准确地实现带线电连接器各接点的直流电阻测试。
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公开(公告)号:CN116960655A
公开(公告)日:2023-10-27
申请号:CN202310628138.5
申请日:2023-05-30
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: H01R9/24
Abstract: 本发明提供了一种测试用板卡快速接线插排,其特征在于,其由插入板卡接线孔的快速接插端子(1)、传输导线(2)和绝缘走线管(3)组成,所述快速接插端子(1)阵列分布于绝缘走线管(3)上,所述传输导线(2)与快速接插端子(1)连接后将测试信号输入到板卡各个端子,所述传输导线(2)在走线管(3)内集束后走出。本发明的测试用板卡快速接线插排适用于多通道数据采集器,在无需逐一重复拧开/拧紧各路接线端子的情况下对有多路测量通道的板卡一次性完成接线,节省人力提升校准效率。
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公开(公告)号:CN113820152B
公开(公告)日:2023-08-11
申请号:CN202110972644.7
申请日:2021-08-24
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01M99/00
Abstract: 本发明的微波器件电热应力自动化测试评价系统包括应力施加、检测控制、电源和数据处理等子系统;应力施加子系统搁置在鱼骨式支撑架上的隔热板上,由隔热板与风扇板构成可变风道;检测控制子系统和电源子系统位于隔热板下方,且与隔热板有间隔;电源与应力施加子系统用电源线互连,电源线上串有电流传感器;检测控制子系统中夹具与热台上设有温度传感器;检测控制子系统采集温度和电流的数据和并发送给数据处理子系统;数据处理子系统分析测量数据并发送反馈指令,由检测控制子系统控制电源、风扇和热台。本发明解决现有微波器件电热应力测试效率低、准确度低和可靠性低等问题。
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公开(公告)号:CN112797914B
公开(公告)日:2023-06-13
申请号:CN202011530335.6
申请日:2020-12-22
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种光学轮廓扫描仪的校准方法,包括:将标准球按放置于指定的5个位置,通过光学轮廓扫描仪分别对标准球进行扫描,以获取所述标准球的测量圆度值和测量直径值;将测量圆度值和标准球的上级标定的圆度值之差作为扫描仪的形状探测误差;将测量直径值和标准球的上级标定的直径值之差作为尺寸探测误差;对光学轮廓扫描仪进行球心距长度校准;将标准球杆放置于指定的7个位置,光学轮廓扫描仪分别进行扫描标准球杆,以获取标准球杆的测量球心距长度;将测量球心距长度和球杆上级标定的球心距长度之差,作为扫描仪的球心距测量示值误差。本发明采用实物标准球和球杆对光学轮廓扫描仪进行形貌校准,从而实现光学轮廓扫描仪扫描精度的校准。
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公开(公告)号:CN116127267A
公开(公告)日:2023-05-16
申请号:CN202211708192.2
申请日:2022-12-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F17/18 , G06F16/2458 , G06F16/248
Abstract: 本发明实施例提供了一种基于数据分析的电子元器件设计选用校验评估系统,其特征在于,包括:数据采集模块、数据预处理模块、校验评估模型构建模块、存储模块、可视化展示模块;其中,所述数据采集模块用于采集输入电子元器件设计选用清单数据文件,并对其进行解析;所述数据预处理模块对输入的元器件设计选用清单文件进行预处理;所述校验评估模型构建模块建立校验评估模型;所述存储模块用来存储结构化的选用清单数据和校验评估结果,提供所述数据预处理模块和所述校验评估模型构建模块所需元器件基本属性字典和不同维度质量信息库;所述可视化展示模块将校验和评估结果进行展示,并对设计选用清单进行多维度统计分析。
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公开(公告)号:CN115655101A
公开(公告)日:2023-01-31
申请号:CN202211230506.2
申请日:2022-10-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法,其特征在于,包括下述步骤:将左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)置于将被测量的火箭筒段(6)的左右两侧;将被测量的火箭筒段(6)的置于测量区域内,将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上,并使基准刻线测量引导装置(3)对齐基准刻线(5);安装标准靶球(4);获得火箭筒段(6)标准靶球(4)坐标;测量获取的标准靶球(4)点坐标进行空间点坐标换算,从而实现对基准刻线偏扭的测量。本发明能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量,该测量方法具有操作简单、通用性强、测量准确度高、测量稳定性高、工作可靠等优点,实用性与经济效益显著。
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