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公开(公告)号：CN116127267A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202211708192.2
申请日：2022-12-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F17/18 , G06F16/2458 , G06F16/248
Abstract: 本发明实施例提供了一种基于数据分析的电子元器件设计选用校验评估系统，其特征在于，包括：数据采集模块、数据预处理模块、校验评估模型构建模块、存储模块、可视化展示模块；其中，所述数据采集模块用于采集输入电子元器件设计选用清单数据文件，并对其进行解析；所述数据预处理模块对输入的元器件设计选用清单文件进行预处理；所述校验评估模型构建模块建立校验评估模型；所述存储模块用来存储结构化的选用清单数据和校验评估结果，提供所述数据预处理模块和所述校验评估模型构建模块所需元器件基本属性字典和不同维度质量信息库；所述可视化展示模块将校验和评估结果进行展示，并对设计选用清单进行多维度统计分析。
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