公开(公告)号：CN116127267A

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202211708192.2

申请日：2022-12-29

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 陈闪闪 ,  张颖 ,  许进峰 ,  郭素敏 ,  潘莹

IPC: G06F17/18 ,  G06F16/2458 ,  G06F16/248

Abstract: 本发明实施例提供了一种基于数据分析的电子元器件设计选用校验评估系统，其特征在于，包括：数据采集模块、数据预处理模块、校验评估模型构建模块、存储模块、可视化展示模块；其中，所述数据采集模块用于采集输入电子元器件设计选用清单数据文件，并对其进行解析；所述数据预处理模块对输入的元器件设计选用清单文件进行预处理；所述校验评估模型构建模块建立校验评估模型；所述存储模块用来存储结构化的选用清单数据和校验评估结果，提供所述数据预处理模块和所述校验评估模型构建模块所需元器件基本属性字典和不同维度质量信息库；所述可视化展示模块将校验和评估结果进行展示，并对设计选用清单进行多维度统计分析。

公开(公告)号：CN105512018A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201410490717.9

申请日：2014-09-23

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 成斌 ,  钱平 ,  王凌 ,  齐宏恩 ,  龚丹丹 ,  陈春萍 ,  李楠 ,  张闯 ,  郭素敏 ,  刘冰川 ,  杨雨翰 ,  蒋坚鸿

IPC: G06F11/36 ,  G06F9/44

Abstract: 本发明公开了一种并行系统性能的形式化分析方法，包括：步骤一、建立并行程序性能模型和并行机模型；步骤二、在并行程序性能模型和并行机模型之间建立映射关系，形成并行系统性能模型，进行并行系统性能分析。本发明提供了一种高效的并行系统性能分析方法。

公开(公告)号：CN106844189A

公开(公告)日：2017-06-13

申请号：CN201510887312.3

申请日：2015-12-07

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 龚丹丹 ,  熊超群 ,  郭素敏 ,  蒋坚鸿 ,  周李蓓

IPC: G06F11/36

CPC classification number: G06F11/3684

Abstract: 本发明公开了一种基于执行路径信息的测试用例约简方法，包括：步骤一、捕获插装信息；步骤二、基于语句覆盖向量和错误定位需求向量执行测试用例约简；步骤三、基于执行路径信息执行测试用例约简；步骤四、得到约简后的测试用例集。

公开(公告)号：CN118132668A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202311762167.7

申请日：2023-12-20

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 王东云 ,  孙凡 ,  丁毅 ,  陶海伟 ,  潘志毅 ,  蔡滨妮 ,  郭素敏

IPC: G06F16/31 ,  G06F16/33 ,  G06F16/903 ,  G06F40/242 ,  G06F40/284 ,  G06F40/30

Abstract: 本发明公开了一种基于规则的元器件规格型号自定义分词方法，以准确地对元器件规格型号文本进行分词，解决现有分词方法对该领域文本处理存在的问题。该方法通过构建元器件规格语料库并分析文本特征，形成领域自定义词典，设计正则表达式规则进行规格符号识别及关键信息保留，确定合理的分词粒度和顺序，基于开源搜索引擎框架集成所构建的词典、规则和策略，实现一个针对元器件规格文本的自定义分词器。应用该分词器，可以有效地支持元器件信息管理系统中对规格文本的索引、检索和知识分析。该方法构建简单有效，可以显著提升对元器件规格文本处理的效果。