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公开(公告)号：CN117934899A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311705049.2
申请日：2023-12-13
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/774 , G06T7/00 , G06T5/70 , G06T7/90
Abstract: 本发明公开了一种基于星图灰度分布特征的观星设备质量分类方法，包括：S1，星点图像数据采集；S2，星点图像噪声处理；S3，星点图像特征建模；S4，产品质量特征建模；S5，产品质量分类分析。对星点图像进行阈值去噪处理，依据去噪后星点图像的灰度分布特征建立星点图像模型，并以此模型结合光学像差成像原理建立产品质量分类模型，满足产品总装质量的智能分类需求。
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公开(公告)号：CN113780724B
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202110880770.X
申请日：2021-08-02
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06Q50/04
Abstract: 本发明的产品质量批次稳定性量化评估判据计算方法包括：S1，确定量化评估判据指标集；S2，设计量化评估判据指标计算方法和组合应用逻辑；确定各指标的阀值参数以及质量检测应用中的指标组合应用逻辑，满足小样本测试数据集的产品质量批次稳定性量化评估需求。本发明为产品质量批次稳定性评估设计一套量化评估判据计算方法，利用该量化评估判据计算方法可直接形成产品质量批次稳定性的分析结论，实现了产品质量批次稳定性评估过程规范化、工具化，提高产品质量检验效率和水平。
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公开(公告)号：CN113780724A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202110880770.X
申请日：2021-08-02
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明的产品质量批次稳定性量化评估判据计算方法包括：S1，确定量化评估判据指标集；S2，设计量化评估判据指标计算方法和组合应用逻辑；确定各指标的阀值参数以及质量检测应用中的指标组合应用逻辑，满足小样本测试数据集的产品质量批次稳定性量化评估需求。本发明为产品质量批次稳定性评估设计一套量化评估判据计算方法，利用该量化评估判据计算方法可直接形成产品质量批次稳定性的分析结论，实现了产品质量批次稳定性评估过程规范化、工具化，提高产品质量检验效率和水平。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110333962B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201910407685.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/07 , G06F16/215 , G06F16/25 , G06F16/28 , G06F18/23
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析预测的电子元器件故障诊断模型，包括数据采集模块、数据预处理模块、故障诊断模型构建模块、预测模块和预测结果输出模块；所述故障诊断模型构建模块接收所述“干净”的结构化数据集后进行聚类，得到多个簇类；对于每一簇类，运用分形几何学量化其分维数值，每簇类的分维数值是其故障特征、此量值用于判断批次元器件中存在的故障类型；按故障类型将输入数据分类存储一份到存储模块。本发明减少了人工重复性检测工作、缩短乐检测周期、降低了筛选成本、挖掘制造商电子元器件生产质量控制潜力、实现乐能力与效益的持续提升，为型号提供高质量高可靠性的电子元器件，保证了航天型号产品可靠性和稳定性。
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公开(公告)号：CN116167636A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202211533603.9
申请日：2022-12-01
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06Q50/04 , G06F17/18
Abstract: 本发明的产品质量批次稳定性量化评估判据计算方法包括：S1，确定量化评估判据指标集；S2，设计各量化评估判据指标计算方法以及量化评估判据指标组合应用逻辑；S3，利用量化评估判据指标组合应用逻辑得到产品质量批次稳定性评估定性结论。本发明为产品质量批次稳定性评估设计一套量化评估判据计算方法，利用该量化评估判据计算方法可直接形成产品质量批次稳定性的分析结论，实现了产品质量批次稳定性评估过程规范化、工具化，提高产品质量检验效率和水平。
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公开(公告)号：CN109033205B
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN201810698851.6
申请日：2018-06-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F16/215 , G06F16/22 , G06F16/25 , G06Q10/06 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，包括：序列字典构建模块，设定权值建立序列权值字典；数据采集模块，对航天电子元件测试数据文件进行解析，并做数据清洗，得到结构化数据；行为模型构建模块，结合序列权值字典对结构化数据计算序列得分，建立模型或更新已有模型；存储模块，包括文件系统和数据库；预测模块，通过比较批次数据和相应模型的匹配度得出数据批次的可靠性评估。本发明提供的基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，自动将测试数据转换为数据输入行为数据，充分利用数据本身来提取行为信息，从而从行为的角度对数据的输入进行分析，以一种新颖的方式给出了对测试数据可靠性的校验结果。
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公开(公告)号：CN110333962A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201910407685.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/07 , G06F16/215 , G06F16/25 , G06F16/28 , G06K9/62
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析预测的电子元器件故障诊断模型，包括数据采集模块、数据预处理模块、故障诊断模型构建模块、预测模块和预测结果输出模块；所述故障诊断模型构建模块接收所述“干净”的结构化数据集后进行聚类，得到多个簇类；对于每一簇类，运用分形几何学量化其分维数值，每簇类的分维数值是其故障特征、此量值用于判断批次元器件中存在的故障类型；按故障类型将输入数据分类存储一份到存储模块。本发明减少了人工重复性检测工作、缩短乐检测周期、降低了筛选成本、挖掘制造商电子元器件生产质量控制潜力、实现乐能力与效益的持续提升，为型号提供高质量高可靠性的电子元器件，保证了航天型号产品可靠性和稳定性。
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公开(公告)号：CN109033205A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810698851.6
申请日：2018-06-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
CPC classification number: G06Q10/06395 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，包括：序列字典构建模块，设定权值建立序列权值字典；数据采集模块，对航天电子元件测试数据文件进行解析，并做数据清洗，得到结构化数据；行为模型构建模块，结合序列权值字典对结构化数据计算序列得分，建立模型或更新已有模型；存储模块，包括文件系统和数据库；预测模块，通过比较批次数据和相应模型的匹配度得出数据批次的可靠性评估。本发明提供的基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，自动将测试数据转换为数据输入行为数据，充分利用数据本身来提取行为信息，从而从行为的角度对数据的输入进行分析，以一种新颖的方式给出了对测试数据可靠性的校验结果。
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