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发明公开
一种基于星图灰度分布特征的观星设备质量分类方法审中-实审

公开(公告)号：CN117934899A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202311705049.2

申请日：2023-12-13

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 练鹏 , 杨积东 , 占晓敏 , 蔡滨妮 , 叶宋杭 , 陈继勋

IPC: G06V10/764 , G06V10/774 , G06T7/00 , G06T5/70 , G06T7/90

Abstract: 本发明公开了一种基于星图灰度分布特征的观星设备质量分类方法，包括：S1，星点图像数据采集；S2，星点图像噪声处理；S3，星点图像特征建模；S4，产品质量特征建模；S5，产品质量分类分析。对星点图像进行阈值去噪处理，依据去噪后星点图像的灰度分布特征建立星点图像模型，并以此模型结合光学像差成像原理建立产品质量分类模型，满足产品总装质量的智能分类需求。

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