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公开(公告)号：CN109409523A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811179076.X
申请日：2018-10-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本发明提供了一种事件实例与事件类之间关系的判定方法，主要内容包括：领域事件知识库的描述与构建、确定并描述待检测的事件实例、事件实例中对象要素的角色判定、事件实例与事件类地点要素的一致性判定、事件实例与事件类动作要素的角色及时序一致性判定、事件断言要素的基于本体知识库一致性的判定，能够解决现有的逻辑推理算法无法提供面向事件的知识推理，且动态推理能力不足的问题；具体用来实现事件实例与事件类之间关系的判定。
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公开(公告)号：CN114417005A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111512535.3
申请日：2021-12-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Inventor： 张亚军
IPC: G06F16/36 , G06F16/215 , G06F16/23 , G06F16/28
Abstract: 本发明的装备试验数据知识图谱构建方法包括：(1)集成已有的装备试验数据；(2)对试验数据进行数据清洗及结构化处理；(3)构建试验数据的元模型；所述元模型包含各类试验数据共有的元数据信息；(4)通过信息化技术，对试验数据进行内容识别、特征提取，再按照元模型进行存储；(5)基于试验数据构建数据实体，建立实体之间的连接；(6)基于知识图谱构建工具，导入所有的实体以及实体之间的关系，形成装备试验数据知识图谱。本发明的装备试验数据知识图谱构建方法解决了装备试验数据的结构化、装备试验数据的可视化等问题。
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公开(公告)号：CN110333962B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201910407685.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/07 , G06F16/215 , G06F16/25 , G06F16/28 , G06F18/23
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析预测的电子元器件故障诊断模型，包括数据采集模块、数据预处理模块、故障诊断模型构建模块、预测模块和预测结果输出模块；所述故障诊断模型构建模块接收所述“干净”的结构化数据集后进行聚类，得到多个簇类；对于每一簇类，运用分形几何学量化其分维数值，每簇类的分维数值是其故障特征、此量值用于判断批次元器件中存在的故障类型；按故障类型将输入数据分类存储一份到存储模块。本发明减少了人工重复性检测工作、缩短乐检测周期、降低了筛选成本、挖掘制造商电子元器件生产质量控制潜力、实现乐能力与效益的持续提升，为型号提供高质量高可靠性的电子元器件，保证了航天型号产品可靠性和稳定性。
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公开(公告)号：CN111079809B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN201911238101.1
申请日：2019-12-06
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F18/2431 , G06F18/10 , G06F18/214
Abstract: 本发明的电连接器智能统型方法包括：1)获取已有的电连接器业务数据；2)获取已有的电连接器失效数据；3)根据统型要求对电连接器数据进行清洗；4)由清洗后的电连接器数据形成电连接器的训练数据集以及测试数据集；5)利用训练数据集构建电连接器统型决策树；6)对电连接器统型决策树剪枝；7)通过剪枝后的电连接器统型决策树对测试数据集中的数据进行分类；8)依据步骤7)分类结果形成电连接器统型表，比对该电连接器统型表与人工统型结果，若比对结果满足要求，即利用步骤5)构建的电连接器统型决策树进行电连接器智能统型。本发明解决电连接器统型依赖领域专家人工处理的问题。
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公开(公告)号：CN109033205B
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN201810698851.6
申请日：2018-06-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F16/215 , G06F16/22 , G06F16/25 , G06Q10/06 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，包括：序列字典构建模块，设定权值建立序列权值字典；数据采集模块，对航天电子元件测试数据文件进行解析，并做数据清洗，得到结构化数据；行为模型构建模块，结合序列权值字典对结构化数据计算序列得分，建立模型或更新已有模型；存储模块，包括文件系统和数据库；预测模块，通过比较批次数据和相应模型的匹配度得出数据批次的可靠性评估。本发明提供的基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，自动将测试数据转换为数据输入行为数据，充分利用数据本身来提取行为信息，从而从行为的角度对数据的输入进行分析，以一种新颖的方式给出了对测试数据可靠性的校验结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111079809A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911238101.1
申请日：2019-12-06
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06K9/62 , G06F16/215
Abstract: 本发明的电连接器智能统型方法包括：1)获取已有的电连接器业务数据；2)获取已有的电连接器失效数据；3)根据统型要求对电连接器数据进行清洗；4)由清洗后的电连接器数据形成电连接器的训练数据集以及测试数据集；5)利用训练数据集构建电连接器统型决策树；6)对电连接器统型决策树剪枝；7)通过剪枝后的电连接器统型决策树对测试数据集中的数据进行分类；8)依据步骤7)分类结果形成电连接器统型表，比对该电连接器统型表与人工统型结果，若比对结果满足要求，即利用步骤5)构建的电连接器统型决策树进行电连接器智能统型。本发明解决电连接器统型依赖领域专家人工处理的问题。
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公开(公告)号：CN110333962A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201910407685.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/07 , G06F16/215 , G06F16/25 , G06F16/28 , G06K9/62
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析预测的电子元器件故障诊断模型，包括数据采集模块、数据预处理模块、故障诊断模型构建模块、预测模块和预测结果输出模块；所述故障诊断模型构建模块接收所述“干净”的结构化数据集后进行聚类，得到多个簇类；对于每一簇类，运用分形几何学量化其分维数值，每簇类的分维数值是其故障特征、此量值用于判断批次元器件中存在的故障类型；按故障类型将输入数据分类存储一份到存储模块。本发明减少了人工重复性检测工作、缩短乐检测周期、降低了筛选成本、挖掘制造商电子元器件生产质量控制潜力、实现乐能力与效益的持续提升，为型号提供高质量高可靠性的电子元器件，保证了航天型号产品可靠性和稳定性。
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公开(公告)号：CN109447268A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811179104.8
申请日：2018-10-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G06N5/04
Abstract: 本发明的基于描述逻辑的概念可满足性判定方法包括：1)扩展Tableau算法；2)采用Extend-Tableau算法构造概念算法树；2-1)初始化算法树；2-2)运用-和 -规则确定根节点描述；2-3)运用-或 -规则扩展新的子节点；2-4)运用 -或 -规则确定子节点描述；3)检测算法树各节点是否存在冲突，若各节点均无冲突，判定该概念可满足，否则判定该概念不可满足。
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公开(公告)号：CN109033205A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810698851.6
申请日：2018-06-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
CPC classification number: G06Q10/06395 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，包括：序列字典构建模块，设定权值建立序列权值字典；数据采集模块，对航天电子元件测试数据文件进行解析，并做数据清洗，得到结构化数据；行为模型构建模块，结合序列权值字典对结构化数据计算序列得分，建立模型或更新已有模型；存储模块，包括文件系统和数据库；预测模块，通过比较批次数据和相应模型的匹配度得出数据批次的可靠性评估。本发明提供的基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，自动将测试数据转换为数据输入行为数据，充分利用数据本身来提取行为信息，从而从行为的角度对数据的输入进行分析，以一种新颖的方式给出了对测试数据可靠性的校验结果。
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公开(公告)号：CN108170709A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711207109.2
申请日：2017-11-27
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Inventor： 张亚军
Abstract: 本发明提供了一种事件格生成方法，包括对文本信息进行收集；将收集到的文本信息用自然语言描述出事件知识；对所述事件知识进行形式化描述形成形式事件背景；对所述形式事件背景用渐进式事件格生成算法进行事件格的生成。本发明可以解决异构形式背景知识的概念格生成，具体用来实现形式事件背景到事件格的生成，可以用来解决现有的概念格生成算法无法实现异构形式背景到格的生成的问题。
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