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公开(公告)号：CN110333962B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201910407685.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/07 , G06F16/215 , G06F16/25 , G06F16/28 , G06F18/23
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析预测的电子元器件故障诊断模型，包括数据采集模块、数据预处理模块、故障诊断模型构建模块、预测模块和预测结果输出模块；所述故障诊断模型构建模块接收所述“干净”的结构化数据集后进行聚类，得到多个簇类；对于每一簇类，运用分形几何学量化其分维数值，每簇类的分维数值是其故障特征、此量值用于判断批次元器件中存在的故障类型；按故障类型将输入数据分类存储一份到存储模块。本发明减少了人工重复性检测工作、缩短乐检测周期、降低了筛选成本、挖掘制造商电子元器件生产质量控制潜力、实现乐能力与效益的持续提升，为型号提供高质量高可靠性的电子元器件，保证了航天型号产品可靠性和稳定性。
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公开(公告)号：CN111007078A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911091011.4
申请日：2019-11-09
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及片式钽电容器及其阴极二氧化锰层质量控制方法，包括对样品进行剖面制样，再对制样剖面镜检；剖面镜检中对阴极二氧化锰层质量进行检查，检查是否满足如下要求：阴极二氧化锰层内无尺寸大于钽芯短边1/4的局部分层或空洞；对于A壳或B壳尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/6的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边；对于C壳及以上尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/8的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边。本发明增加阴极二氧化锰层质量控制要求，避免存在类似“固有局部电应力集中”的片式钽电容器用于产品，保证产品装机后的可靠性。
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公开(公告)号：CN111007078B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN201911091011.4
申请日：2019-11-09
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及片式钽电容器及其阴极二氧化锰层质量控制方法，包括对样品进行剖面制样，再对制样剖面镜检；剖面镜检中对阴极二氧化锰层质量进行检查，检查是否满足如下要求：阴极二氧化锰层内无尺寸大于钽芯短边1/4的局部分层或空洞；对于A壳或B壳尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/6的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边；对于C壳及以上尺寸产品，阴极二氧化锰层内尺寸小于钽芯短边1/4、大于钽芯短边1/8的局部分层或空洞的数量＜4，且不集中在一边。本发明增加阴极二氧化锰层质量控制要求，避免存在类似“固有局部电应力集中”的片式钽电容器用于产品，保证产品装机后的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109143026A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810760552.0
申请日：2018-07-12
Applicant: 上海航天信息研究所 , 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2855
Abstract: 本发明实施例提供了一种数字测试方法，用于测试待测器件所需的频率高于测试设备的频率的待测器件，包括定义测试设备端的至少两个通道对应待测器件端的其中一个管脚；将通道、管脚均定义为数字通道；建立设备端与管脚的对应关系；对每个数字通道进行定义：对每个数字通道各加载测试待测器件需要的波形信号；包括将每个数字通道的周期等分，份数为所有数字通道的个数，定义等分后的时间段为小周期；数字通道加载的波形信号只分布在一个小周期内，其余小周期内无波形信号，且数字通道加载的波形信号分别置于不同的小周期；波形信号传输至待测器件的一个管脚，管脚接收的周期信号为在每个小周期内均加载有对应每个数字通道的小周期内加载的波形信号。
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公开(公告)号：CN109033205B
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN201810698851.6
申请日：2018-06-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F16/215 , G06F16/22 , G06F16/25 , G06Q10/06 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，包括：序列字典构建模块，设定权值建立序列权值字典；数据采集模块，对航天电子元件测试数据文件进行解析，并做数据清洗，得到结构化数据；行为模型构建模块，结合序列权值字典对结构化数据计算序列得分，建立模型或更新已有模型；存储模块，包括文件系统和数据库；预测模块，通过比较批次数据和相应模型的匹配度得出数据批次的可靠性评估。本发明提供的基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，自动将测试数据转换为数据输入行为数据，充分利用数据本身来提取行为信息，从而从行为的角度对数据的输入进行分析，以一种新颖的方式给出了对测试数据可靠性的校验结果。
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公开(公告)号：CN110333962A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201910407685.4
申请日：2019-05-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/07 , G06F16/215 , G06F16/25 , G06F16/28 , G06K9/62
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析预测的电子元器件故障诊断模型，包括数据采集模块、数据预处理模块、故障诊断模型构建模块、预测模块和预测结果输出模块；所述故障诊断模型构建模块接收所述“干净”的结构化数据集后进行聚类，得到多个簇类；对于每一簇类，运用分形几何学量化其分维数值，每簇类的分维数值是其故障特征、此量值用于判断批次元器件中存在的故障类型；按故障类型将输入数据分类存储一份到存储模块。本发明减少了人工重复性检测工作、缩短乐检测周期、降低了筛选成本、挖掘制造商电子元器件生产质量控制潜力、实现乐能力与效益的持续提升，为型号提供高质量高可靠性的电子元器件，保证了航天型号产品可靠性和稳定性。
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公开(公告)号：CN109033205A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810698851.6
申请日：2018-06-29
Applicant: 上海精密计量测试研究所
CPC classification number: G06Q10/06395 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，包括：序列字典构建模块，设定权值建立序列权值字典；数据采集模块，对航天电子元件测试数据文件进行解析，并做数据清洗，得到结构化数据；行为模型构建模块，结合序列权值字典对结构化数据计算序列得分，建立模型或更新已有模型；存储模块，包括文件系统和数据库；预测模块，通过比较批次数据和相应模型的匹配度得出数据批次的可靠性评估。本发明提供的基于数据输入行为分析的航天测试数据校核模型，自动将测试数据转换为数据输入行为数据，充分利用数据本身来提取行为信息，从而从行为的角度对数据的输入进行分析，以一种新颖的方式给出了对测试数据可靠性的校验结果。
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公开(公告)号：CN207866969U
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201820238552.X
申请日：2018-02-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 杭州三海电子有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本实用新型涉及电子产品老练设备，具体涉及一种晶振高温老练设备。本实用新型中的一种晶振高温老炼设备，包括依次相连的匹配电路、运算放大器、电子开关、上位机和二级电源，晶振一侧与二级电源相连、另一侧与匹配电路相连；晶振工作电源、使能信号由二级电源提供；匹配电路包括放大器U2、第一电容C1、第三电阻R3、第五电阻R5、第九电阻R9、第十三电阻R13和第七电容C7。本实用新型的有益效果：可以同时测量不同类型、不同规格的晶振，在高温条件下的频率变化率和稳定度，不同晶振之间相互独立，避免干扰，数量最多可达1024枚，测量的精确度在2个PPM以内。
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