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    基于频谱细化的硬件木马检测方法
    2.
    发明公开
    基于频谱细化的硬件木马检测方法 失效

    公开(公告)号：CN105807204A

    公开(公告)日：2016-07-27

    申请号：CN201610130209.9

    申请日：2016-03-08

    申请人： 天津大学

    发明人： 赵毅强 ,  薛文佳 ,  何家骥 ,  刘沈丰

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2855

    摘要： 本发明公开了一种基于频谱细化的硬件木马检测方法，包括以下步骤：分别对只含有母本电路的工作芯片和加入木马电路后的该芯片进行多次电磁辐射信息采集，得到两个电磁时域数据矩阵；分别进行行向量叠加求均值，减弱测量噪声，获得母本电磁信息和母本电路加木马电路的电磁信息，分别做FFT变换，得到母本电路和加入有木马电路的全景谱信息，根据FFT变换的结果，对两种电磁信息频谱出现谱线密集或重叠的频谱范围分段进行频谱细化，通过对局部频谱的放大，用于观察上述谱线密集或重叠频谱范围的谱线结构，据此判断工作芯片是否除了母本电路之外还被加入了硬件木马。本发明具有频谱分辨率高、误差小的优点。

    用于评估集成电路的可靠性的方法和系统
    3.
    发明公开
    用于评估集成电路的可靠性的方法和系统 有权

    公开(公告)号：CN101963650A

    公开(公告)日：2011-02-02

    申请号：CN201010229672.1

    申请日：2010-07-13

    申请人： 国际商业机器公司

    发明人： 陈奋 ,  冯凯棣 ,  何忠祥

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2621 ,  G01R31/2855 ,  G01R31/2894

    摘要： 本发明涉及用于评估集成电路的可靠性的方法和系统。本发明提供一种方法。该方法包括：在第一操作条件下操作多个场效应晶体管(FET)；使所述多个FET中的至少一个的操作方向反转持续一短时长；测量在所述短时长期间所述多个FET中的所述一个的第二操作条件；计算在所述第二操作条件与参考操作条件之间的差异；以及基于在所述第二操作条件与所述参考操作条件之间的所述差异而提供可靠性指示信号，其中所述多个FET被用于单个集成电路(IC)中。

    一种数字测试方法及系统
    5.
    发明公开
    一种数字测试方法及系统 无效

    公开(公告)号：CN109143026A

    公开(公告)日：2019-01-04

    申请号：CN201810760552.0

    申请日：2018-07-12

    申请人： 上海航天信息研究所 ,  上海精密计量测试研究所

    发明人： 许伟达 ,  潘潇雨 ,  刘伟 ,  许瓅 ,  李春

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2855

    摘要： 本发明实施例提供了一种数字测试方法，用于测试待测器件所需的频率高于测试设备的频率的待测器件，包括定义测试设备端的至少两个通道对应待测器件端的其中一个管脚；将通道、管脚均定义为数字通道；建立设备端与管脚的对应关系；对每个数字通道进行定义：对每个数字通道各加载测试待测器件需要的波形信号；包括将每个数字通道的周期等分，份数为所有数字通道的个数，定义等分后的时间段为小周期；数字通道加载的波形信号只分布在一个小周期内，其余小周期内无波形信号，且数字通道加载的波形信号分别置于不同的小周期；波形信号传输至待测器件的一个管脚，管脚接收的周期信号为在每个小周期内均加载有对应每个数字通道的小周期内加载的波形信号。

    老化装置的状态诊断方法
    7.
    发明授权
    老化装置的状态诊断方法 失效

    公开(公告)号：CN1965241B

    公开(公告)日：2011-03-30

    申请号：CN200580018521.9

    申请日：2005-06-07

    申请人： 爱德万测试株式会社

    发明人： 北一三 ,  仓沢伊弘

    IPC分类号： G01R31/26

    CPC分类号： G01R31/2872 ,  G01R31/2855 ,  G01R31/2868 ,  G01R35/00

    摘要： 本发明提供一种老化装置的状态诊断方法，在该方法中，在老化试验时，使加热器以及温度传感器分别和进行该老化试验的各种被检测设备接触，控制该加热器的功率消耗，进行被检测设备的温度调整，从而进行所述老化试验。当所述被检测设备和加热器以及温度传感器处于非接触状态时，配置该加热器以及温度传感器的同时，由此温度传感器检测冷却液接触的温度控制模块的温度，依据此检测结果，诊断温度传感器是否正常。

    用于测量依赖于时间的电介质击穿的系统和方法
    8.
    发明授权
    用于测量依赖于时间的电介质击穿的系统和方法 有权 转让

    公开(公告)号：CN1997906B

    公开(公告)日：2010-11-10

    申请号：CN200580019615.8

    申请日：2005-06-14

    申请人： 知识风险基金有限责任公司

    发明人： 铃木信吾

    IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/26

    CPC分类号： G01R31/2856 ,  G01R31/2855 ,  G01R31/2884 ,  G01R31/3008 ,  H01L22/34 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/3011 ,  H01L2924/00

    摘要： 公开了根据一个实施例的集成电路，其包括耦合到第一环形振荡器模块的第一受测器件(DUT)模块和耦合到第二环形振荡器模块的第二DUT模块。在第一模式期间对第一DUT的电介质层施加应力，从而在第一电介质层中引起依赖于时间的电介质击穿。维持第二DUT的电介质层作为参考。在第二模式期间，第一环形振荡器模块的操作频率是受到应力的电介质层的栅极漏电流的函数。在第二模式期间，第二环形振荡器模块的操作频率是参考电介质层的栅极漏电流的函数。该集成电路还可以包括比较器模块，其用于根据第一环形振荡器模块的操作频率与第二环形振荡器模块的操作频率之间的差值生成输出信号。

    用于测量负偏置温度不稳定性的系统和方法
    9.
    发明公开
    用于测量负偏置温度不稳定性的系统和方法 失效 转让

    公开(公告)号：CN1997905A

    公开(公告)日：2007-07-11

    申请号：CN200580019614.3

    申请日：2005-06-14

    申请人： 全美达股份有限公司

    发明人： 铃木信吾

    IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/26

    CPC分类号： G01R31/2856 ,  G01R31/2628 ,  G01R31/2855 ,  G01R31/2884 ,  G01R31/3008 ,  H01L22/34 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/3011 ,  H01L2924/00

    摘要： 根据本发明一个实施例的集成电路包括耦合到第一环形振荡器模块的第一受测器件(DUT)模块和耦合到第二环形振荡器模块的第二DUT模块。第一DUT模块在第一模式期间被偏置从而生成界面阱。所生成的界面阱造成第一DUT模块的第一驱动电流减少。第二受测器件模块在第一模式期间被偏置以维持参考驱动电流。第一环形振荡器模块的工作频率在第二模式期间是第一驱动电流的函数。第二环形振荡器模块的工作频率在第二模式期间是参考驱动电流的函数。该集成电路还可以包括用于根据第一环形振荡器模块的工作频率和第二环形振荡器模块的工作频率之间的差值来生成输出信号的比较器模块。