公开(公告)号：CN115905091A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202210809530.5

申请日：2022-07-11

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 伊藤猛

IPC: G06F13/42 ,  G06F13/40

Abstract: 本发明提供一种边沿选择装置，其具备：第1输出部，响应于复数个信号的至少一个上升的情形而输出第1脉冲；第2输出部，响应于复数个信号的至少一个下降的情形而输出第2脉冲；检测部，每当成为脉冲的非检测状态时，检测第1脉冲及第2脉冲中被最先输出的先行脉冲；及选择部，选择检测部检测到的先行脉冲的边沿，作为频率中所含的频率脉冲的边沿。

公开(公告)号：CN114502968A

公开(公告)日：2022-05-13

申请号：CN202080068241.3

申请日：2020-09-28

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 杉村一 ,  酒井裕二

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种维护装置，具备：取得部，其将经由复数个治具依序分别对不同的复数个被测量组件进行试验时的复数个试验结果，针对每个治具加以取得；算出部，其使用复数个试验结果，针对每个治具算出试验结果的变动；及，决定部，其基于试验结果的变动来决定治具的维护时机。

公开(公告)号：CN113994378A

公开(公告)日：2022-01-28

申请号：CN202080043817.0

申请日：2020-05-11

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 池田皓甫 ,  伊拉·莱文塔尔 ,  基思·肖布

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/25 ,  G06V10/778 ,  G06V10/774 ,  G06V10/44

Abstract: 提供一种检查装置，其具备：对象影像取得部，其取得对检查对象进行拍摄而得的对象影像；对象影像遮蔽部，其遮蔽对象影像的一部分；遮蔽区域预测部，其针对对象影像中的被遮蔽的遮蔽区域的影像加以预测；再现影像产生部，其使用针对复数个遮蔽区域的各者所预测出的复数个预测影像，来产生再现影像；及，差异检测部，其检测对象影像和再现影像的差异。

公开(公告)号：CN109676132B

公开(公告)日：2021-11-23

申请号：CN201810893355.6

申请日：2018-08-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菅谷慎二 ,  西名繁树 ,  松本纯 ,  泷泽昌弘 ,  相马実 ,  山田章夫

IPC: B22F3/105 ,  B33Y10/00 ,  B33Y30/00 ,  B33Y50/02

Abstract: 本发明提供一种一面由装置本身决定用来将粉末层确实地熔融结合的照射条件，一面进行电子束(EB)照射的三维积层造形装置及积层造形方法。本发明所提供的三维积层造形装置(100)具有：柱部(200)，输出电子束(EB)，使电子束(EB)朝粉末层(32)的表面内方向偏向；绝缘部，使三维构造物(36)与接地部件电绝缘；电流计(73)，测定经由三维构造物(36)流向接地部件的电流值；熔融判断部(410)，基于电流计(73)所测定的电流值来检测粉末层(32)的熔融，产生熔融信号；以及偏向控制部(420)，接收熔融信号，决定电子束的照射条件。

公开(公告)号：CN112752978A

公开(公告)日：2021-05-04

申请号：CN201980062850.5

申请日：2019-03-26

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 酒井裕二 ,  杉村一

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/073 ,  G01R31/26 ,  H01L21/66 ,  G06N20/00

Abstract: 为了解析对受测器件进行测量而得的复数个测量值，并有效地利用解析得到的信息，提供一种解析装置，其具备：取得部，其取得复数个测量值，所述复数个测量值是经由治具对受测器件进行测量而得的；解析部，其解析复数个测量值并算出变动数据，所述变动数据表示与治具接触受测器件的接触次数对应的测量值的变动；以及，管理部，其基于变动数据来管理治具的状态。

公开(公告)号：CN112098049A

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：CN202010290804.5

申请日：2020-04-14

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 长谷川宏太郎 ,  宫内康司 ,  歌丸刚

IPC: G01M11/02 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明所要解决的问题在于：利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性，所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光，并以另一个受光，使用通过光电效应所输出的电流的电流值，来检查LED的光学特性。为了解决上述问题，本发明提出一种试验装置，具备：电性连接部，其电性连接至成为试验对象的复数个LED各自的端子；光源部，其一并对复数个LED照射光；测定部，其测定光电信号，所述光电信号是复数个LED分别对被光源部照射的光进行光电转换，并经由电性连接部输出；及，判定部，其基于测定部的测定结果来判定复数个LED各自的良否。

公开(公告)号：CN110877800A

公开(公告)日：2020-03-13

申请号：CN201811039847.5

申请日：2018-09-06

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 罗兰德·沃夫

IPC: B65G1/04 ,  B65G1/137 ,  B65G47/91

Abstract: 公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的系统。所述系统包括机器人，所述机器人包括用于拾取DUT并将所述DUT转入和转出基块中的测试槽的末端执行器。所述系统进一步包括系统控制器，所述系统控制器包括存储器和处理器并用于控制所述机器人。并且，所述系统包括测试机架，所述测试机架包括多个基块，其中所述基块是包括用于对多个DUT进行测试的多个槽的模块化装置，并且其中所述机器人配置成使用所述末端执行器接近所述测试机架内的所述多个基块中的槽。

公开(公告)号：CN110382139A

公开(公告)日：2019-10-25

申请号：CN201780087837.6

申请日：2017-04-11

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山田章夫 ,  菅谷慎二 ,  相马实

IPC: B22F3/105 ,  B22F3/16 ,  B33Y10/00 ,  B33Y30/00

Abstract: 本发明提供一种将包括曲线的截面层进行积层而造形三维构造物的三维积层造形装置。本发明提供一种三维积层造形装置100，其具备：决定部116，接收关于三维构造物66的截面形状的造形数据，而决定沿着连续曲线的第1光束及第2光束的照射位置、光束形状及照射时间的数据；存储部118，存储决定部116所决定的数据；及偏向控制单元150，基于照射时间数据而产生的时序将照射位置数据输出至偏向器50；及变形元件控制单元130，将光束形状数据输出至变形元件30。由此，三维积层造形装置100通过一面沿着连续曲线照射第1光束及第2光束一面使粉末层熔融凝固，而将包括曲线的截面层进行积层来造形三维构造物。

公开(公告)号：CN105045747B

公开(公告)日：2018-12-14

申请号：CN201510159277.3

申请日：2015-04-03

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 加藤隆志

IPC: G06F13/40

Abstract: 本发明的目的在于利用简易的构成来补偿基于传送路径的高频的衰减特性的波形的劣化。本发明提供一种补偿电路、信息处理装置、及补偿方法，所述补偿电路连接在传送路径来补偿在传送路径传送的传送信号的损耗，且具备使特性阻抗变化的多个变化点，将通过多个变化点产生的传送时间互不相同的多个反射波重叠于传送信号而对传送信号的波形进行整形。

公开(公告)号：CN104950145B

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201410488418.1

申请日：2014-09-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 相泽光范 ,  山田祐也

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2887 ,  G01R1/0433 ,  G01R31/043 ,  G01R31/2891 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种分选装置、器件保持器及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座的分选装置，其中包括：执行器，在将保持被测器件的器件保持器嵌合于测试用插座之前嵌合于器件保持器，调整器件保持器上的被测器件的位置；以及运送部，运送被测器件的位置被调整了的器件保持器与测试用插座相嵌合；器件保持器具有：内部单元，搭载被测器件；外部单元，可移动地保持内部单元；解除按键，随着从搭载被测器件的一侧被按压时，解除内部单元的移动的锁定；执行器按压解除按键使内部单元可移动，调整内部单元的位置。使被测器件与测试用插座准确电连接。