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公开(公告)号：CN118818270A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202411304171.3
申请日：2024-09-19
申请人： 江苏帝奥微电子股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种芯片测试模式进入电路及方法，包含芯片、测试时钟源Q1、第一测试数据源Q2、第二测试数据源Q3、开关S1和电源V1，测试时钟源Q1的输出端与芯片的功能引脚LED1连接，第一测试数据源Q2的输出端与开关S1一端连接，开关S1另一端与芯片的功能引脚LED2连接，第二测试数据源Q3的输出端与芯片的功能引脚LED3连接，电源V1的正极与芯片的功能引脚VBAT连接，电源V1的负极与芯片的功能引脚GND连接并接地。本发明无需额外的引脚，可以安全进入测试模式，并且正常工作时不会误进入测试模式。
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公开(公告)号：CN118818260A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410893531.1
申请日：2024-07-04
申请人： 淮安特创科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种BGA直径和Pitch值极限研发工艺，包括底座100，顶面设置有凹槽；模拟电路板200，能插入底座100凹槽内；热循环机构，制热端设置于底座100上，加热端设置于模拟电路板200内，以完成对模拟电路板200板体的加热动作；检测机构，包括多个检测点，该检测点设置于模拟电路板200信号传输的路径上，整个工艺不仅提高了测试的准确性和效率，而且通过提供更多关于产品在实际使用条件下表现的数据，有助于优化产品设计和制造过程，最终提升产品质量和市场竞争力。
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公开(公告)号：CN118818109A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202411179481.7
申请日：2024-08-23
申请人： 南京协辰电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种探针组件及检测装置，涉及电路板检测领域。探针组件包括测试针、弹簧卡以及限位块，测试针适于检测电路板；弹簧卡包括上弹性臂和下弹性臂，上弹性臂和下弹性臂之间设有间隔空间；限位块和弹簧卡可拆卸连接，限位块朝向弹簧卡的一侧设有限位柱，限位柱设置在间隔空间内，以抵接限位上弹性臂。通过上弹性臂和下弹性臂对测试针接触作用电路板时起到弹性缓冲作用，减弱接触作用力，利用限位块上的限位柱抵接限位上弹性臂，主动限位控制上弹性臂的弹性变形，降低上弹性臂弹性复位带动测试针接触电路板的作用力，从而降低测试点位接触痕迹或撞痕，提高电路板的质量及可靠性。
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公开(公告)号：CN118818104A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202411270007.5
申请日：2024-09-11
申请人： 成都世源频控技术股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于PCB板射频与信号测试的夹具，属于PCB板测试夹具技术领域，主要解决现有PCB测试准备时间长，测试效率低的问题。该夹具包括夹具机架，设置于夹具机架上能够上下运动的探针安装结构，设置于夹具机架上用于操作探针安装结构运动的摇臂组件，设置于探针安装结构上的测试探针，以及与测试探针相连的测试线缆。本发明的测试夹具握把与摇臂运动与限位等结构设计，探针安装板上下移动与复位，测试夹具操作简单。测试准备与更换被测PCB板时间短，测试快、效率高。
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公开(公告)号：CN118508615B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410956980.6
申请日：2024-07-17
申请人： 广东鑫轩电子科技有限公司
摘要： 本发明涉及电路监测领域，尤其涉及一种基于物联网的安全用电智慧监控方法及系统，构建物联网平台；实时采集电力系统的电路数据，根据电路数据判断是否满足隐患监测的条件；当电路数据满足隐患监测的条件时，识别电路数据的电路类型；根据电路类型，将电路数据输入已训练的模型中，通过已训练的模型来识别该电路类型的电路数据是否存在异常行为，并输出数据识别的结果；当识别的结果为电路数据存在异常行为时，识别电路数据的目标异常位置，根据目标异常位置和电路数据进行异常行为预测；根据异常行为的预测结果得到异常原因，根据异常原因获取电路切换策略，并根据切换策略生成切换指令，将切换指令发送至物联网平台。
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公开(公告)号：CN118501672B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410963312.6
申请日：2024-07-18
申请人： 深圳台达创新半导体有限公司 , 深圳市高特微电子有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片检测用芯片支撑结构，包括底座，所述底座顶部固定有呈对称分布的支撑架，支撑架之间设有支撑座，所述支撑座通过翻转机构与支撑架相连接，所述支撑座两侧设有呈对称分布的检测槽，所述检测槽两侧设有呈对称分布的支撑板，支撑板顶部均固定有呈对称分布的侧板，侧板之间设有盖板，盖板外壁上固定有对芯片进行定位的定位柱，盖板两侧固定有呈对称分布的转动杆，转动杆远离盖板的一端与侧板转动连接，所述支撑座外壁上设有呈对称分布的压持机构；本发明相对于现有技术，不需要人工将检测完毕后的芯片从检测槽内部取出，节约了人力，有效的提高了芯片检测效率。
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公开(公告)号：CN112834895B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202010278245.6
申请日：2020-04-10
申请人： 创意电子股份有限公司 , 台湾积体电路制造股份有限公司
摘要： 一种测试装置以及测试方法，测试装置包含一传输电路、一接收电路以及一回授电路。传输电路用以接收多个第一测试信号。接收电路用以在一正常模式下自多个接垫接收一输入数据。回授电路耦接所述多个接垫以及一取样电路的多个输入端。回授电路用以传输所述多个第一测试信号自传输电路至取样电路的所述多个输入端，以产生用以后续分析的一测试数据。如此，本揭示的测试装置能够应用于回授型式的高速数据传输。
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公开(公告)号：CN118800764A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411273887.1
申请日：2024-09-12
申请人： 阿尔伯达(苏州)科技有限公司
发明人： 柳世民
IPC分类号： H01L23/544 , G01R31/28
摘要： 本发明涉及芯片测试结构技术领域，特别涉及一种新型射频芯片测试结构、制备方法及其应用，包括衬底、金属层及钝化层；金属层至少设置一层，厚度为1‑5um；钝化层形成于每层所述金属层上，钝化层与金属层对齐的局部区域经剥离或刻蚀形成留有缺口，使相邻金属层导通，并在顶层形成检测位，使金属层外露。本发明应用于芯片的检测，测试结构中金属层采用铝制备形成，结合制备工艺，铝制的金属层可以做到比较薄、软，在测试过程中对探针的磨损小，探针的使用寿命更长。同时整个测试结构的精度更高，可以做到更窄的线宽和线缝，最窄可以到微米量级，可用于更小的管脚间距的芯片测试；并且通过制备工艺形成的测试结构，整片结构的成本更低。
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公开(公告)号：CN118795317A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411119720.X
申请日：2024-08-14
申请人： 湖北丹瑞新材料科技有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/52 , G01R31/54 , G05B19/042
摘要： 本发明公开了芯片测试技术领域的一种PM芯片检测电路，包括PM芯片及PM芯片的电极1、电极2、电极3和电极4，还包括第一处理电路和第二处理电路；开关电路，用于控制供电电压通过第一处理电路或者第二处理电路；单片机，用于控制开关电路，并根据第一处理电路或者第二处理电路的对应采样电压计算电极1和电极4之间的阻值、电极2和电极3之间的阻值或者电极1和电极3之间的阻值；能够进行短路、断路、阻值性能自动批量检测，提高了检测效率、减少了人工误差；电路低成本、电路原理巧妙，功能可靠，操作简单智能。
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公开(公告)号：CN118795314A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411022642.1
申请日：2024-07-29
申请人： 昆山软龙格自动化技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种车载摄像头COB的老化测试装置，包括串行电路模块、解串模块、CMOS供电及电流检测模块、DTOF供电及电流检测模块以及POC电源模块；由DDR4储存器电性连接的FPGA处理芯片，所述FPGA处理芯片包括PCI E3.0X4I P模块、RAW数据发送单元、任意图像裁切模块、模式选择模块、插值处理单元、错误帧检测模块以及8*DPHY模块，所述插值处理单元、任意图像裁切模块在所述FPGA处理芯片内部与DDR4储存器相联，所述DDR4储存器用以储存所采集的图像信息或计算结果，所述模式选择模块用以将处理后的图像信息或结果发送至PC端内存地址。本发明大幅提升了插值运算和获取有效数据的速度，将更多的运算时间、带宽预留给PCCPU需要做的运算，完成对车载摄像头COB的老化测试。
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