公开(公告)号：CN119902989A

公开(公告)日：2025-04-29

申请号：CN202510105340.9

申请日：2025-01-23

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 于劲松 ,  王逸云 ,  梁思远 ,  王文烨 ,  方泽轩 ,  常佰刚 ,  卫育东

IPC: G06F11/3668 ,  G06F17/10

Abstract: 本发明公开一种面向自动测试行业的测试用例优化方法，所述方法基于图论和旅行商问题(TSP)的解决算法，能够分析复杂测试用例的最优测试顺序，并去除测试过程中测量仪器的无效操作。所述方法步骤如下：(1)对所有仪器操作所需操作耗时进行标定，形成时间成本配置文件；(2)明确各仪器操作之间的限制和关联条件，制定出一套能够判断仪器操作有效性的判别规则；(3)基于图论的相关知识，将用例信息转化为关系图；(4)基于TSP问题算法，根据关系图计算出能够不重复的遍历每个节点的最短路径；(5)基于最短路径重构测试用例。本发明的有益效果如下：(1)提高自动测试平台的测试效率；(2)减少测量仪器的无效操作，降低仪器损耗。

公开(公告)号：CN119936619A

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202510024865.X

申请日：2025-01-08

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 于劲松 ,  王灿辉 ,  梁思远 ,  周金浛 ,  王文烨 ,  柯旭 ,  郑尧尹

IPC: G01R31/28 ,  G06F18/23213 ,  G06F18/2413

Abstract: 本发明公开一种面向集成电路参数测试的适应性测试方法，所述的适应性测试方法面向集成电路参数测试，通过分析测试项对测试结果的贡献度与测试项间的最大信息系数，推理最优测试子集，并以质量预测模型对合格产品的质量预测结果为依据，将合格产品更深入地划分为多个质量等级，进一步筛选出潜在的故障产品。所述的适应性测试方法可以在面对不同类型与不同生产规模的集成电路产品时，最大程度上降低参数测试的测试成本，并始终保持极低的测试逃逸率。