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公开(公告)号:CN105183225B
公开(公告)日:2018-05-08
申请号:CN201510562926.4
申请日:2015-09-07
申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 京东方(河北)移动显示技术有限公司
CPC分类号: G01R1/0408 , G01R1/0433 , G01R1/0483 , G01R1/07314 , G01R31/26 , G01R31/2806 , G01R31/2808 , G01R31/2829 , G06F3/041 , G06F3/0416 , G06F3/044 , G09G3/006
摘要: 本发明提供一种测试装置及采用该测试装置的测试方法。该测试装置包括:用于固定待测基板的第一固定结构,待测基板上布置有第一触控线;用于固定测试配合面板的第二固定结构,测试配合面板上布置有第二触控线;第一触控线与第二触控线形成触控模组;用于承载一转接柔性线路板的第三固定结构;信号输入结构,用于通过转接柔性线路板与测试配合面板的线路板和第一触控线的其中一个电连接,并输入触发数据信号;感应信号采集结构,用于获取第一触控线或第二触控线上的触控感应信号。采用该测试装置通过与测试配合面板组合,利用转换柔性线路板,能够用于该待测试基板上的触控线的线路检测,实现对触控线线路不良的有效检测。
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公开(公告)号:CN104950145B
公开(公告)日:2018-04-06
申请号:CN201410488418.1
申请日:2014-09-22
申请人: 爱德万测试株式会社
CPC分类号: G01R31/2887 , G01R1/0433 , G01R31/043 , G01R31/2891 , G01R31/2893
摘要: 本发明提供一种分选装置、器件保持器及测试装置,其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座的分选装置,其中包括:执行器,在将保持被测器件的器件保持器嵌合于测试用插座之前嵌合于器件保持器,调整器件保持器上的被测器件的位置;以及运送部,运送被测器件的位置被调整了的器件保持器与测试用插座相嵌合;器件保持器具有:内部单元,搭载被测器件;外部单元,可移动地保持内部单元;解除按键,随着从搭载被测器件的一侧被按压时,解除内部单元的移动的锁定;执行器按压解除按键使内部单元可移动,调整内部单元的位置。使被测器件与测试用插座准确电连接。
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公开(公告)号:CN107132380A
公开(公告)日:2017-09-05
申请号:CN201710111765.6
申请日:2017-02-28
申请人: 株式会社友华
CPC分类号: G01R1/0433 , G01R1/0441 , G01R1/06722 , G01R31/2886 , G01R1/0416 , H01R13/2407 , H01R13/2421
摘要: 一种插座,包括:接触测头;和支撑接触测头的绝缘支撑体。接触测头包括:将与待检测对象连接的第一柱塞;将与检测板连接的第二柱塞;和构造为将第一柱塞和第二柱塞在相互分离的方向上推压的弹簧。在第一柱塞的顶端被释放的状态中,在弹簧的自然长度的情况下,第二柱塞从绝缘支撑体的突出量为零。
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公开(公告)号:CN104597296A
公开(公告)日:2015-05-06
申请号:CN201510039062.8
申请日:2013-01-07
申请人: 爱德万测试株式会社
CPC分类号: G01R1/0433 , G01R1/0466 , G01R31/01 , G01R31/02 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2893
摘要: 本发明提供一种处理装置,用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连,其中包括:位置调整部,用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动,并调整相对于各个插座的位置;以及,器件装设部,用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。
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公开(公告)号:CN103207328A
公开(公告)日:2013-07-17
申请号:CN201310004911.7
申请日:2013-01-07
申请人: 爱德万测试株式会社
IPC分类号: G01R31/00
CPC分类号: G01R1/0433 , G01R1/0466 , G01R31/01 , G01R31/02 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2893
摘要: 本发明提供一种处理装置,用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连,其中包括:位置调整部,用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动,并调整相对于各个插座的位置;以及,器件装设部,用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。
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公开(公告)号:CN103036125A
公开(公告)日:2013-04-10
申请号:CN201210374423.0
申请日:2012-09-27
申请人: 株式会社爱德万测试
IPC分类号: H01R33/74 , H01R13/193 , G01R31/28
CPC分类号: G01R1/0433 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/0735 , G01R31/2601 , G01R31/2886
摘要: 本发明提供一种可抑制接触不良发生的插座,该插座11电连接于具有形成与晶片50的电极触头51相接触的突起324的基膜32、与突起324电连接的外部端子312的测试用载体,包含与外部端子312接触的接触器125和推压基膜32的突起形成部分32a以及突起周围部分32b的弹性部件131;弹性部件131具有第1弹性层132、比第1弹性层132柔软的层叠于第1弹性层132上的与基膜32接触的第2弹性层133。
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公开(公告)号:CN101690422B
公开(公告)日:2011-11-16
申请号:CN200880021487.4
申请日:2008-05-16
申请人: 夸利陶公司
IPC分类号: H05K1/00
CPC分类号: G01R1/0433
摘要: 公开了一种用于测试集成电路的测试插座组件。单件插座主要由绝缘材料构成,并且具有多个形成在其中并被配置来接收多个导电弹簧的孔。单件插座的各孔在其中具有单个导电弹簧。测试插座包括多个被配置来接收集成电路的导线的管脚,测试插座的管脚伸入单件插座的多个孔中,各管脚接合一个弹簧,其中,单件插座被安置在电路板上,所述多个孔与电路板上的电触点对齐,以便多个弹簧电连接触点和多个管脚。单件插座主要由高温绝缘材料构成,例如陶瓷。
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公开(公告)号:CN101876682A
公开(公告)日:2010-11-03
申请号:CN200910301996.9
申请日:2009-04-30
申请人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
发明人: 孙正衡
IPC分类号: G01R31/02
CPC分类号: G01R31/2896 , G01R1/0433
摘要: 一种测试装置,包括一电路板、一芯片插座及一显示电路,所述芯片插座包括一用于收容一待测芯片的容置腔、一接地部及若干接触端子,所述显示电路包括一电源及若干发光元件,每一发光元件的一端与所述电源的正极相连,每一发光元件的另一端对应与一接触端子相连,测试时,所述待测芯片上引脚的中部均与所述接地部接触,当所述待测芯片的引脚未歪斜时,所述未歪斜引脚的末端与一对应的接触端子接触,与所述未歪斜引脚对应的接触端子相连的发光元件发光,当所述待测芯片的引脚歪斜时,所述歪斜引脚的末端不与其对应的接触端子接触,与所述歪斜引脚对应的接触端子相连的发光元件不发光。利用上述测试装置可快速准确地测试出待测芯片的引脚是否歪斜。
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公开(公告)号:CN101861524A
公开(公告)日:2010-10-13
申请号:CN200880013102.X
申请日:2008-04-17
申请人: 格罗方德半导体公司
IPC分类号: G01R1/04
CPC分类号: G01R1/0433 , G01R31/2863 , G01R31/308
摘要: 本发明提供一种方法,包括:在移除待测装置(170)之后扫描测试插座(120)以产生扫描数据;将该扫描数据与参照数据做比较;根据该比较,识别出在该测试插座(120)中是否存在有至少一部分的管脚(210)。本发明另提供一种测试系统(100),包括:测试插座(120)、扫描仪(140)与控制单元(150)。该测试插座(120)可操作以容置待测装置(170)。该扫描仪(140)可操作以在移除测试中装置(170)之后扫描该测试插座(120)来产生扫描数据。该控制单元(150)可操作以将该扫描数据与参照数据作比较,且根据该比较来识别出在该测试插座(120)中是否存在有至少一部分的管脚(210)。
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公开(公告)号:CN101512745A
公开(公告)日:2009-08-19
申请号:CN200780033192.4
申请日:2007-08-08
申请人: 郑运永
发明人: 郑运永
IPC分类号: H01L21/66
CPC分类号: G01R1/06722 , G01R1/0433 , G01R3/00 , Y10T29/4921
摘要: 本发明披露了一种伸缩探针,包括:具有通过螺旋切削至少其一部分外表面而形成的弹簧结构的空心本体,以及至少填充本体内部的导电材料。根据本发明,当测试半导体封装时,能显著降低封装、伸缩探针和测试板之间接触的错误率,并且同时能增强伸缩探针的刚度和电导率。此外,伸缩探针简单的组件可以便于制造、降低制造成本,甚至可以预见微型伸缩探针的制造。
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