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公开(公告)号：CN118584310A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410622848.1
申请日：2024-05-17
Applicant: 上海美仁半导体有限公司
IPC: G01R31/30
Abstract: 本申请公开一种测试文件的生成方法、装置、设备、程序产品和存储介质，测试文件的生成方法包括基于芯片的待测模块的待测功能，生成用于对各个待测功能进行仿真测试的测试用例；运行测试用例，以获取仿真平台的仿真接口输出的仿真信号；通过预设的接口矩阵的各个处理模块中，与仿真信号对应的待测功能关联的目标处理模块，对仿真信号进行处理，以生成测试文件，处理模块至少关联一个待测功能。相较于将测试用例人工改写为自动测试设备的测试文件，极大地提高了测试文件的生成效率，缩短了测试周期。
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公开(公告)号：CN113678004B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202080025065.5
申请日：2020-03-27
Applicant: 纬湃科技有限责任公司
Abstract: 用于估计电子部件（1）的老化的方法，其特征在于，其包括以下步骤：‑编制电子部件的热规格（2）以确定参考使用期限，‑确定参考温度量，‑测量工作中的电子部件的实际温度，‑确定实际温度量，‑确定实际温度下的等效工作时间，‑将该等效工作时间换算至参考温度下以获得换算等效工作时间，‑累加换算等效工作时间以获得可与参考使用期限相比较的已消耗使用期限。
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公开(公告)号：CN118489067A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202380015733.X
申请日：2023-03-06
Applicant: 新思科技有限公司
Inventor： F·马苏迪
IPC: G01R31/30 , G01R31/317 , G01R31/28 , G06F30/30
Abstract: 集成电路中各种信号路径的时序限度是由所述集成电路本身上的组件来监控。所述集成电路上的路径限度监控器(PMM)电路接收(a)沿着所述集成电路中的信号路径传播的功能信号以及(b)用于对所述功能信号进行计时的对应时钟信号。所述PMM电路输出指示所述信号路径的实际时序限度的信号(PMM信号)。为了方便起见，这些将被称为路径限度。控制器也集成在所述集成电路上。所述控制器控制所述PMM电路。所述控制器还接收及分析所述PMM信号以监控跨越所述集成电路的所述路径限度。自动化软件用于将所述PMM电路的实例自动插入到所述集成电路的设计中。所述控制器也可被自动配置并被插入到所述设计中。
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公开(公告)号：CN113030712B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN201911357609.3
申请日：2019-12-25
Applicant: 瑞昱半导体股份有限公司
IPC: G01R31/30
Abstract: 本案揭露一种电路检查方法及电子设备，适于一待测电路，待测电路具有与至少一电晶体元件的闸极电压相关的至少一第一节点及其他复数个第二节点。电路检查方法包含设定待测电路的复数个输入介面埠的端点电压；依据待测电路的导通路径及电晶体元件的闸极电压，取得第一节点的第一节点电压；依据导通路径、端点电压及第一节点电压，取得每一第二节点的第二节点电压；以及应用第一节点电压及第二节点电压，对待测电路进行电路静态检查。
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公开(公告)号：CN113504457B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202110772693.6
申请日：2021-07-08
Applicant: 中颖电子股份有限公司
Abstract: 本发明提供了提升检测精度的电路测试装置和方法。晶圆测试接口通过一控制信号来控制测试模式控制逻辑模块；测试模式控制逻辑模块根据控制信号控制切换模块选择将基准信号还是检测模块的输出传送到检测输出端；在初始晶圆测试时，切换模块选择将基准信号传到检测输出端进行测试；若基准信号与零温度点基准信号有误差，则对基准信号进行档位调节，直至调节为零温度点基准信号，随后控制切换模块选择将检测模块的输出与检测输出端连接；检测模块将待测信号与经档位调节后所得到的零温度点基准信号进行比较，测得检测阈值的初始值；其中，对所述基准信号的档位调节以及对所述检测阈值的初始值的修调通过单次烧写熔丝同时实现。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114910736A
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210443704.0
申请日：2022-04-25
Applicant: 深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
Inventor： 陈尚立
Abstract: 本发明实施方式公开了一种样品芯片的电流测试系统，该系统包括：主控制终端、与主控制终端通信连接的级联单元以及与级联单元通信连接的若干个测试单元；其中，主控制终端用于下发采样指令和对采样电流进行数据处理；级联单元包括若干个子控制器；若干个子控制器级联连接以扩展测试通道的数量；每个测试单元具有多条相互独立的测试通道，用于获取位于测试通道的样品芯片的采样电流；其中，主控制终端下发的采样指令经由所述级联单元传递至对应的测试单元；采样电流经由级联单元传递至主控制终端进行数据处理。通过上述方式，本发明实施方式能够在烧录阶段批量测试样品芯片的功耗，避免了电流超标的不良样品芯片进入下一生产阶段，降低了返工成本。
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公开(公告)号：CN112969927A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN201880098721.7
申请日：2018-10-16
Applicant: 米尼码处理器公司
IPC: G01R31/30 , G06F11/22 , G01R31/3185
Abstract: 可藉由让运作参数假定运作参数数值而配置微电子电路的效能。运作方法包含选择性设定该微电子电路进入与该微电子电路的正常运作模式不同的测试模式、以及利用该测试模式输入由测试输入数值所组成的测试输入信号进入该微电子电路内的一个或更多个适应性处理路径。适应性处理路径包含处理逻辑和缓存器电路，处理逻辑和缓存器电路配置成从输入至处理逻辑和缓存器电路的输入数值产生输出数值。这种适应性处理路径的效能可藉由让运作参数假定运作参数数值而加以配置。该方法包含让该一个或更多个适应性处理路径根据输入至它们的个别测试输入数值形成测试输出数值、以及藉由收集由该一个或更多个适应性处理路径所给定的该测试输出数值形成一组测试输出信号。该方法包含检查该组测试输出信号、以及根据该检查形成测试结果、以及使用该测试结果以选择和设定用于该运作参数的运作参数数值。
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公开(公告)号：CN111736065A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010868059.8
申请日：2020-08-26
Applicant: 歌尔光学科技有限公司
Abstract: 本发明实施例通过提供一种电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质，所述电路的测试方法包括：电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值；根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间，所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系；根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间；根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值，以用于所述电路的部署。本发明提高了电路测试的效率。
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公开(公告)号：CN110716130A
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201810768935.2
申请日：2018-07-13
Applicant: 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
IPC: G01R31/30
Abstract: 一种电压裕度测试装置包括电压产生单元及电压调节单元。所述电压产生单元用于输出供电电压给所述电子设备，所述电压调节单元用于接收所述电压产生单元所输出的供电电压并调整输出至所述电子设备的供电电压的大小。如此一来，本发明电压裕度测试装置可用于测试电子设备的工作电压裕度，简易又节省成本。
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