Invention Publication
- Patent Title: 电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质
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Application No.: CN202010868059.8Application Date: 2020-08-26
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Publication No.: CN111736065APublication Date: 2020-10-02
- Inventor: 徐振宾 , 柳玉琨
- Applicant: 歌尔光学科技有限公司
- Applicant Address: 山东省潍坊市高新区东明路以东玉清东街以北(歌尔电子办公楼502室)
- Assignee: 歌尔光学科技有限公司
- Current Assignee: 歌尔光学科技有限公司
- Current Assignee Address: 山东省潍坊市高新区东明路以东玉清东街以北(歌尔电子办公楼502室)
- Agency: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
- Agent 张毅
- Main IPC: G01R31/30
- IPC: G01R31/30 ; G01R1/28

Abstract:
本发明实施例通过提供一种电路的测试方法、装置及计算机可读存储介质,所述电路的测试方法包括:电路模拟测试装置获取电路上已接入的第一电子器件浮动的第一电压区间、所述电路的电源电压值以及所述第一电子器件的第一电阻值;根据所述第一电压区间以及所述电源电压值确定待接入的第二电子器件的第二电压区间,所述第二电子器件与所述第一电子器件为串联关系;根据所述第一电压区间以及所述第一电阻值确定电流区间;根据所述第二电压区间以及所述电流区间确定所述第二电子器件的第二电阻值,以用于所述电路的部署。本发明提高了电路测试的效率。
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