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公开(公告)号：CN207866969U
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201820238552.X
申请日：2018-02-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 杭州三海电子有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本实用新型涉及电子产品老练设备，具体涉及一种晶振高温老练设备。本实用新型中的一种晶振高温老炼设备，包括依次相连的匹配电路、运算放大器、电子开关、上位机和二级电源，晶振一侧与二级电源相连、另一侧与匹配电路相连；晶振工作电源、使能信号由二级电源提供；匹配电路包括放大器U2、第一电容C1、第三电阻R3、第五电阻R5、第九电阻R9、第十三电阻R13和第七电容C7。本实用新型的有益效果：可以同时测量不同类型、不同规格的晶振，在高温条件下的频率变化率和稳定度，不同晶振之间相互独立，避免干扰，数量最多可达1024枚，测量的精确度在2个PPM以内。
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公开(公告)号：CN115308518B
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211233209.3
申请日：2022-10-10
Applicant: 杭州三海电子有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及老炼电路的电性能测试领域，提供了一种老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统。该方法包括：在M个待测参数的种排序方式下，获取所述M个待测参数中，每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；获取除了所述第1参数至第i‑1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：。通过上述方法，可以有效解决老炼电路的参数测量时间长、效率低的问题。
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公开(公告)号：CN115308560A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211233227.1
申请日：2022-10-10
Applicant: 杭州三海电子有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及元件老炼试验技术领域，具体涉及一种二极管老炼试验故障排除方法及二极管老炼试验系统。二极管老炼试验系统用于实现二极管老炼试验故障排除方法。方法包括：将若干二极管串联构成恒流回路，并将若干恒流回路并联构成老炼试验回路；设定老炼电压；获取每个二极管的实际电压和每个恒流回路的实际电流，根据老炼电压、实际电压和实际电流排除试验故障。试验故障包括：安装错误、接触不良、电压错误和二极管损坏中的至少一者。其能够准确地对老炼器件的试验故障进行排查，规避了人工检查的盲目性，实现了快速对故障部位进行提示，大大降低了故障排查过程的时间耗费，有助于老炼试验的高效开展。
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公开(公告)号：CN115312344B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211233614.5
申请日：2022-10-10
Applicant: 杭州三海电子有限公司
Abstract: 本发明涉及元件老炼试验技术领域，具体涉及一种用于老炼试验系统的控制开关及二极管老炼试验系统。二极管老炼试验系统采用了用于老炼试验系统的控制开关。控制开关包括：外壳、清理层、第一导电片、第二导电片和按压控制组件。外壳具有内腔。第一导电片设于内腔之中，两第一导电片分别贯穿至外壳之外。按压控制组件安装于内腔，第二导电片设于按压控制组件靠近第一导电片的一侧。按压控制组件用于驱动第二导电片靠近和远离第一导电片。清理层设于内腔的内壁，以用于在第二导电片靠近、远离第一导电片的过程中对第二导电片表面进行清理。其能够实现自清洁，有效地降低了接触不良等问题的发生概率，很好地控制了老炼试验系统本身的系统误差。
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公开(公告)号：CN115308454B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211233233.7
申请日：2022-10-10
Applicant: 杭州三海电子有限公司
Abstract: 本发明涉及元件老炼技术领域，具体涉及一种用于老炼试验的电阻夹具及电阻老炼试验系统。电阻夹具包括基座、安装槽、驱动杆、定位柱、第一弹性件和驱动组件。驱动杆沿安装槽的深度方向设置并贯穿安装槽，驱动杆由驱动组件驱动。定位柱的一侧可转动地配合于驱动杆。第一弹性件配合于定位柱，用于驱动定位柱朝远离安装槽的一侧翻转。当定位柱配合于安装槽中时，安装槽限制定位柱翻转。当定位柱离开安装槽时，第一弹性件驱动定位柱朝远离安装槽的一侧翻转。电阻老炼试验系统包括电阻夹具。其结构简单、使用方便，能够方便地完成对电阻的安装，安装后的稳定性好，并有效地降低发生连接不稳、接触不良的概率，降低夹具本身对老炼试验的干扰。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115312344A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211233614.5
申请日：2022-10-10
Applicant: 杭州三海电子有限公司
Abstract: 本发明涉及元件老炼试验技术领域，具体涉及一种用于老炼试验系统的控制开关及二极管老炼试验系统。二极管老炼试验系统采用了用于老炼试验系统的控制开关。控制开关包括：外壳、清理层、第一导电片、第二导电片和按压控制组件。外壳具有内腔。第一导电片设于内腔之中，两第一导电片分别贯穿至外壳之外。按压控制组件安装于内腔，第二导电片设于按压控制组件靠近第一导电片的一侧。按压控制组件用于驱动第二导电片靠近和远离第一导电片。清理层设于内腔的内壁，以用于在第二导电片靠近、远离第一导电片的过程中对第二导电片表面进行清理。其能够实现自清洁，有效地降低了接触不良等问题的发生概率，很好地控制了老炼试验系统本身的系统误差。
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公开(公告)号：CN114791557A
公开(公告)日：2022-07-26
申请号：CN202210423398.4
申请日：2022-04-21
Applicant: 杭州三海电子有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及电路测试技术领域，尤其涉及集成电路高低温测试方法，其方法包括：获取电压模块的电压数据；基于预设算法对所述电压数据进行运算，得到特征信息；基于预设特征标准对所述特征信息进行判断，得到判断结果；基于所述判断结果获取异常电压模块，并基于所述异常电压模块获取生产信息；对所述生产信息进行分析，得到测试反馈信息。本申请提供的集成电路高低温测试方法可以提升对不合格集成电路器件的追溯效率。
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公开(公告)号：CN115308518A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211233209.3
申请日：2022-10-10
Applicant: 杭州三海电子有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及老炼电路的电性能测试领域，提供了一种老炼电路的参数测量顺序确定方法和系统。该方法包括：在M个待测参数的种排序方式下，获取所述M个待测参数中，每个待测参数在测量顺序为1时的目标失效率，并将测量顺序为1时目标失效率最大的待测参数作为第1参数，其中，所述第1参数为目标顺序排第1的参数；获取除了所述第1参数至第i‑1参数以外的待测参数中，每个待测参数在测量顺序为i时的目标失效率，并将测量顺序为i时目标失效率最大的待测参数作为第i参数，其中，所述第i参数为目标顺序排第i的参数，i依次取值：。通过上述方法，可以有效解决老炼电路的参数测量时间长、效率低的问题。
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公开(公告)号：CN115308454A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211233233.7
申请日：2022-10-10
Applicant: 杭州三海电子有限公司
Abstract: 本发明涉及元件老炼技术领域，具体涉及一种用于老炼试验的电阻夹具及电阻老炼试验系统。电阻夹具包括基座、安装槽、驱动杆、定位柱、第一弹性件和驱动组件。驱动杆沿安装槽的深度方向设置并贯穿安装槽，驱动杆由驱动组件驱动。定位柱的一侧可转动地配合于驱动杆。第一弹性件配合于定位柱，用于驱动定位柱朝远离安装槽的一侧翻转。当定位柱配合于安装槽中时，安装槽限制定位柱翻转。当定位柱离开安装槽时，第一弹性件驱动定位柱朝远离安装槽的一侧翻转。电阻老炼试验系统包括电阻夹具。其结构简单、使用方便，能够方便地完成对电阻的安装，安装后的稳定性好，并有效地降低发生连接不稳、接触不良的概率，降低夹具本身对老炼试验的干扰。
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公开(公告)号：CN115327267A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210943918.4
申请日：2022-08-05
Applicant: 杭州三海电子有限公司
Abstract: 本申请涉及可靠性试验技术领域，尤其涉及一种高低温温度循环试验方法、系统、终端及存储介质；其方法包括：获取测试方案，基于测试方案对元器件进行高低温温度循环试验，并获取实时测试数据，获取实时测试温度，基于实时测试数据以及实时测试温度，判断实时测试数据是否满足预设的测试阈值，若实时测试数据满足测试阈值，则判定元器件质量合格；若实时测试数据不满足测试阈值，则判定元器件质量不合格，并终止当前测试。本申请有助于提高对元器件质量判断的准确性。
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