一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法

    公开(公告)号:CN115655101A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211230506.2

    申请日:2022-10-08

    Abstract: 本发明提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量方法,其特征在于,包括下述步骤:将左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)置于将被测量的火箭筒段(6)的左右两侧;将被测量的火箭筒段(6)的置于测量区域内,将基准刻线测量引导装置(3)装在火箭筒段法兰盘(7)上,并使基准刻线测量引导装置(3)对齐基准刻线(5);安装标准靶球(4);获得火箭筒段(6)标准靶球(4)坐标;测量获取的标准靶球(4)点坐标进行空间点坐标换算,从而实现对基准刻线偏扭的测量。本发明能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量,该测量方法具有操作简单、通用性强、测量准确度高、测量稳定性高、工作可靠等优点,实用性与经济效益显著。

    一种火箭筒段基准刻线测量引导装置及方法

    公开(公告)号:CN115655100A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211230041.0

    申请日:2022-10-08

    Abstract: 本发明提供了一种火箭筒段基准刻线测量引导装置及方法。该装置的特征在于,其包括筒段法兰夹紧器(1)、刻线放大瞄准器(2)、同轴靶球座(3)、和双向位置调节器(4),所述筒段法兰夹紧器(1)用于将装置固定在火箭筒段法兰盘(7)上;所述刻线放大瞄准器(2)为刻有瞄准线(21)的放大镜片,装在一个L型构件的一端;所述同轴靶球座(3)用于放置靶球,设置于所述L型构件的另一端或中间位置,所述瞄准线(21)沿L型构件的延长线与所述同轴靶球座(3)的球心处于同一轴线上;所述双向位置调节器(4)设置于位于L型构件与所述筒段法兰夹紧器(1)之间,包含了调节机构。该装置结构简单、通用性强、测量准确度高、工作可靠。

    一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统

    公开(公告)号:CN219656819U

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202222649009.8

    申请日:2022-10-08

    Abstract: 本实用新型提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统,其特征在于,其包括放置于火箭筒段(6)的左右两侧的左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2),装在火箭筒段法兰盘(7)的基准刻线测量引导装置(3),安装于基准刻线测量引导装置(3)上的标准靶球(4),所述基准刻线测量引导装置(3)对齐火箭筒段(6)的基准刻线(5)。本实用新型的技术方案能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量。该火箭筒段基准刻线偏扭测量系统具有操作简单、通用性强、测量准确度高、工作可靠的特点。

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