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公开(公告)号：CN117524976A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311146441.8
申请日：2018-05-02
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/768 , H01L21/67 , H01L21/762 , H01L21/027
Abstract: 本文公开的实施方式关于在基板中形成沟槽和以可流动介电材料填充沟槽的方法。在一个实施方式中，所述方法包括：使具有至少一个沟槽的基板经历沉积处理，以自下而上的方式在所述沟槽的底表面和侧壁表面上形成可流动层，直到所述可流动层达到预定的沉积厚度为止；使所述可流动层经历第一固化处理，所述第一固化处理是UV固化处理；使经UV固化的可流动层经历第二固化处理，所述第二固化处理是等离子体处理或等离子体辅助处理；以及依序地且重复地执行所述沉积处理、所述第一固化处理和所述第二固化处理，直到经等离子体固化的可流动层填充沟槽并在所述沟槽的顶表面上达到预定高度为止。
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公开(公告)号：CN105934819B
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201580005195.1
申请日：2015-01-06
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L27/11556 , H01L27/11582 , H01L21/02
Abstract: 提供一种用于形成在3D存储器装置中使用的膜层的堆叠的方法。所述方法开始于在沉积反应器的处理腔室中提供基板。然后，将适合于形成电介质层的一种或更多种工艺气体供应至所述沉积反应器的处理腔室内，从而在所述基板上形成电介质层。然后，将适合于形成金属层的一种或更多种工艺气体供应至所述沉积反应器的处理腔室内，从而在所述电介质层上形成金属层。然后，将适合于形成金属氮化物粘合层的一种或更多种工艺气体供应至所述沉积反应器的处理腔室内，从而在所述金属层上形成金属氮化物粘合层。然后重复此序列以形成期望的层数。
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公开(公告)号：CN118613900A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202380019095.9
申请日：2023-01-24
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/311 , H01L21/033
Abstract: 示例性半导体处理方法可包括在基板上沉积含硼材料。含硼材料可沿着基板中的一个或多个特征的侧壁延伸。方法可包括形成含氧前驱物的等离子体以及使基板与含氧前驱物的等离子体流出物接触。接触可蚀刻基板中的一个或多个特征的一部分。接触可氧化含硼材料。
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公开(公告)号：CN110622298A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201880031479.1
申请日：2018-05-02
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/768 , H01L21/027 , H01L21/02 , H01L21/67
Abstract: 本文公开的实施方式关于在基板中形成沟槽和以可流动介电材料填充沟槽的方法。在一个实施方式中，所述方法包括：使具有至少一个沟槽的基板经历沉积处理，以自下而上的方式在所述沟槽的底表面和侧壁表面上形成可流动层，直到所述可流动层达到预定的沉积厚度为止；使所述可流动层经历第一固化处理，所述第一固化处理是UV固化处理；使经UV固化的可流动层经历第二固化处理，所述第二固化处理是等离子体处理或等离子体辅助处理；以及依序地且重复地执行所述沉积处理、所述第一固化处理和所述第二固化处理，直到经等离子体固化的可流动层填充沟槽并在所述沟槽的顶表面上达到预定高度为止。
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公开(公告)号：CN107112278A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201580068587.2
申请日：2015-11-17
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/768 , H01L23/532 , C23C16/30 , C23C16/452 , C23C16/455
CPC classification number: H01L23/5329 , C23C16/30 , C23C16/452 , C23C16/45523 , H01L21/0214 , H01L21/02145 , H01L21/02167 , H01L21/02178 , H01L21/02211 , H01L21/02274 , H01L21/0228 , H01L21/0234 , H01L21/76834 , H01L23/53238 , H01L23/53295 , H01L2924/0002 , H01L2924/00 , H01L21/76832
Abstract: 在此所述的实施例一般涉及含硅与铝层的形成。在此所述的包法可包括：将基板定位在工艺腔室的处理区域中；输送工艺气体到该处理区域，该工艺气体包含含铝气体与含硅气体；活化反应物气体，该反应物气体包含含氮气体、含氢气体、或上述的组合物；输送该反应物气体到该工艺气体以产生沉积气体，该沉积气体将含硅与铝层沉积在该基板上；及净化该处理区域。可执行上述步骤一或更多次以沉积蚀刻终止层。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105934819A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201580005195.1
申请日：2015-01-06
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/8247
CPC classification number: H01L21/02274 , H01L21/02164 , H01L27/11556 , H01L27/11582
Abstract: 提供一种用于形成在3D存储器装置中使用的膜层的堆叠的方法。所述方法开始于在沉积反应器的处理腔室中提供基板。然后，将适合于形成电介质层的一种或更多种工艺气体供应至所述沉积反应器的处理腔室内，从而在所述基板上形成电介质层。然后，将适合于形成金属层的一种或更多种工艺气体供应至所述沉积反应器的处理腔室内，从而在所述电介质层上形成金属层。然后，将适合于形成金属氮化物粘合层的一种或更多种工艺气体供应至所述沉积反应器的处理腔室内，从而在所述金属层上形成金属氮化物粘合层。然后重复此序列以形成期望的层数。
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公开(公告)号：CN110622298B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN201880031479.1
申请日：2018-05-02
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/768 , H01L21/027 , H01L21/02 , H01L21/67
Abstract: 本文公开的实施方式关于在基板中形成沟槽和以可流动介电材料填充沟槽的方法。在一个实施方式中，所述方法包括：使具有至少一个沟槽的基板经历沉积处理，以自下而上的方式在所述沟槽的底表面和侧壁表面上形成可流动层，直到所述可流动层达到预定的沉积厚度为止；使所述可流动层经历第一固化处理，所述第一固化处理是UV固化处理；使经UV固化的可流动层经历第二固化处理，所述第二固化处理是等离子体处理或等离子体辅助处理；以及依序地且重复地执行所述沉积处理、所述第一固化处理和所述第二固化处理，直到经等离子体固化的可流动层填充沟槽并在所述沟槽的顶表面上达到预定高度为止。
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公开(公告)号：CN113972162A
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202111232228.X
申请日：2015-08-12
Applicant: 应用材料公司
Inventor： Z·J·叶 , J·D·平森二世 , 塙广二 , 周建华 , 林兴 , 段仁官 , K·D·李 , 金柏涵 , S·P·贝海拉 , S·哈 , G·巴拉苏布拉马尼恩 , J·C·罗查-阿尔瓦雷斯 , P·K·库尔施拉希萨 , J·K·福斯特 , M·斯利尼瓦萨恩 , U·P·哈勒 , H·K·博尼坎帝
IPC: H01L21/683 , H01J37/32
Abstract: 本公开的实施例提供了一种用于在高温下维持在等离子体反应器中处理的基板的平坦度的静电卡盘。在一个实施例中，所述静电卡盘包括：耦接到支撑杆的卡盘主体，所述卡盘主体具有基板支撑表面，并且所述卡盘主体在约250℃至约700℃的温度下具有约1×107ohm‑cm至约1×1015ohm‑cm的体电阻率值；以及电极，所述电极嵌在所述主体中，所述电极耦接到电源。在一个示例中，所述卡盘主体由氮化铝材料组成，已经观察到氮化铝材料在沉积或蚀刻工艺、或者使用高操作温度和基板夹持特征两者的任何其他工艺期间，能够在约600℃或更高温度下优化卡持性能。
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公开(公告)号：CN112771645A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN201980045611.9
申请日：2019-07-18
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/02 , H01L21/768 , H01L27/11524 , H01L21/67
Abstract: 本文描述的实施例涉及制造具有最小化的面内失真(IPD)和平板印刷覆盖误差的氧化物/氮化物(ON)层堆叠。形成层堆叠ON层的方法包括使第一含硅气体、含氧气体和第一稀释气体流动。对称地施加RF功率以形成SiO2的第一材料层。使第二含硅气体、含氮气体和第二稀释气体流动。对称地施加第二RF功率以形成Si3N4的第二材料层。重复以下步骤直到第一材料层和第二材料层的期望数量构成层堆叠：使第一含硅气体、含氧气体和第一稀释气体流动；对称地施加第一RF功率；使第二含硅气体、含氮气体和第二稀释气体流动；以及对称地施加第二RF功率。
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公开(公告)号：CN107112278B
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN201580068587.2
申请日：2015-11-17
Applicant: 应用材料公司
IPC: H01L21/768 , H01L23/532 , C23C16/30 , C23C16/452 , C23C16/455
Abstract: 在此所述的实施例一般涉及含硅与铝层的形成。在此所述的包法可包括：将基板定位在工艺腔室的处理区域中；输送工艺气体到该处理区域，该工艺气体包含含铝气体与含硅气体；活化反应物气体，该反应物气体包含含氮气体、含氢气体、或上述的组合物；输送该反应物气体到该工艺气体以产生沉积气体，该沉积气体将含硅与铝层沉积在该基板上；及净化该处理区域。可执行上述步骤一或更多次以沉积蚀刻终止层。
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