一种快恢复二极管的制备方法

    公开(公告)号:CN105355552B

    公开(公告)日:2018-05-29

    申请号:CN201510737934.8

    申请日:2015-11-03

    Abstract: 本发明涉及一种集成门极换流晶闸管配套用快恢复二极管的制备方法,包括如下步骤:1)对N型硅圆片的任意一面进行抛光处理;2)进行铝预沉积,在所述硅圆片抛光面进行硼离子注入,并进行氧化推进工艺,使硅圆片内形成P+PNP型纵向结构;3)研磨所述硅圆片的未抛光面,使硅圆片内部形成P+PN型纵向结构;4)在所述硅圆片的N型侧进行磷杂质掺杂扩散,使硅圆片内部形成P+PNN+型纵向结构;5)在所述硅圆片表面蒸发铝层,形成引出电极,进行合金化工艺,使铝、硅间形成欧姆接触;6)在芯片阳极面进行质子辐照;7)将芯片阳极面与钼片键合到一起;8)进行造型,并进行保护处理;9)进行电子辐照。

    用于夹持半导体器件的装置

    公开(公告)号:CN104538342B

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201410727917.1

    申请日:2014-12-04

    Abstract: 本发明涉及一种用于夹持半导体器件的装置,其包括用于放置半导体器件的底座;设置在半导体器件的上方的压板,压板通过调距单元与底座连接;设在压板与半导体器件之间的用于压装半导体器件的弹性件。其中,该调距单元构造成能够调整底座与压板之间的距离,并使弹性件的压缩量变成设定值,从而使得弹性件的弹力等于半导体器件所需的压装力。根据本发明的用于夹持半导体器件的装置的组装过程比现有技术更加简单,从而可以省时省力,提高组装效率。

    GCT门极绝缘座及门极组件

    公开(公告)号:CN103346130B

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201310272369.3

    申请日:2013-07-01

    Abstract: 本发明提供了一种GCT门极绝缘座及门极组件,所述绝缘座为单向开口的腔体,所述腔体包括内侧壁、外侧壁和底部,所述外侧壁包括若干个间断的外子侧壁,所述内侧壁的内表面和/或所述外侧壁的至少一个外子侧壁的外表面呈阶梯式结构,即该内侧壁的内表面和/或外侧壁的外表面具有至少一个台阶。在GCT元件封装时,与绝缘座配合的内外阴极钼片可以放置在该台阶上,这样不仅可以减小绝缘座与阴极钼片之间的间隙而且可为阴极钼片提供一定的预紧力,从而限定阴极钼片的横向偏动和纵向偏动。通过该台阶对阴极钼片的限制,避免了阴极钼片与绝缘座之间的挤压变形而引发的器件门极和阴极之间的短路,确保了GCT元件的封装合格率。

    一种周波浪涌试验装置

    公开(公告)号:CN102043107A

    公开(公告)日:2011-05-04

    申请号:CN201010537632.3

    申请日:2010-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种周波浪涌试验装置,包括时间继电器、第一和第二试验晶闸管、波形记录装置、电阻、变压装置、分流器、第一开关和第二开关,变压装置的输入端通过第二开关连接输入交流电,第一和第二试验晶闸管采取反并联连接,第一试验晶闸管和第二试验晶闸管的门极通过时间继电器和第一开关相互连接,变压装置的输出端与电阻、第一和第二试验晶闸管,以及分流器依次相连形成电回路,波形记录装置的一路波形采集端子同时并联在第一试验晶闸管的阴、阳极之间和第二试验晶闸管的阴、阳极之间。该发明所描述的实施方式实现了对大功率半导体器件进行任意次周波浪涌电流测试,且对测试周波发生的参数和精度极易控制,试验装置的控制也简单实用。

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