自动化芯片分离贴装方法

    公开(公告)号:CN105225968A

    公开(公告)日:2016-01-06

    申请号:CN201510657357.1

    申请日:2015-10-13

    Abstract: 本发明提供一种自动化芯片分离贴装方法,包括:步骤A:初始化当前产品序号m=0,芯片等级n=1,转步骤B;步骤B:拾取所述晶圆上第n等级芯片并贴装到第m产品上,转步骤C;步骤C:判断所述晶圆上是否还剩余第n等级芯片,若剩余,将m加1,转步骤B;若不剩余,将n加1,转步骤B。本发明提供的自动化芯片分离贴装方法,通过将晶圆上的芯片进行分级拾取并直接贴装到产品上,减少了芯片的人工分级并包装、运输、拆分等操作,降低了人工干预程度,节省人力物力,提高了生产效率。

    一种芯片焊接方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104134614A

    公开(公告)日:2014-11-05

    申请号:CN201410317374.6

    申请日:2014-07-04

    Abstract: 本发明公开了一种芯片焊接方法,该方法包括:根据芯片的焊接位置,在衬板的相应位置处设置键合引线,以在衬板上确定出焊片和芯片的定位区域;将焊片放入定位区域中;将芯片放入定位区域中,使得芯片覆盖在相应的焊片上;采用预设焊接工艺进行焊接处理,使得芯片与衬板之间通过焊片形成的焊层实现电路互连。本发明通过键合引线来实现对焊片和芯片的定位,不再需要使用焊接工装,简化了芯片焊接流程,降低了芯片焊接的成本。

    判断功率半导体模块基板拱度的装置及其方法

    公开(公告)号:CN103745942A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201310749790.9

    申请日:2013-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种判断功率半导体模块基板拱度的装置及其方法,装置包括测量模块,对功率半导体模块基板的表面进行取点操作,在其表面测取三个以上的测量点,并将其空间位置数据传送至处理模块;处理模块,根据测量点的空间位置数据,经过计算处理得到基准面空间位置数据,进而得到并输出功率半导体模块基板表面与基准面空间位置数据的差值数据至显示模块,输出平面度数据,计算基板的最高点位置数据,并判断数据是否合格;显示模块,接收处理模块传送的差值数据并生成图形,判断图形是否合格,结合处理模块的数据判断结果输出最终结果。本发明能满足对功率半导体模块基板轮廓进行判断的需求,快速简单地对基板的平面度,以及凹面和凸面进行判断。

    一种IGBT模块母排抛光方法及抛光工装

    公开(公告)号:CN104942687B

    公开(公告)日:2017-11-14

    申请号:CN201410113323.1

    申请日:2014-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种IGBT模块母排抛光的方法及抛光工装,该方法的步骤为:(1)通过计算得到模块上各个母排的抛光面面积大小和分布,同时利用模块上母排弯折后其抛光面与模块管盖间的距离;(2)依据步骤(1)的数据得到抛光工装;(3)直接将步骤(2)得到的抛光工装固定于母排上,将模块固定在支架上,利用抛光机对所有母排进行抛光作业。该工装是用来实施上述方法。本发明具有原理简单、操作简便等优点,大大简化了IGBT模块的母排抛光作业,降低了劳动强度。

    一种芯片焊接方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104134614B

    公开(公告)日:2017-10-03

    申请号:CN201410317374.6

    申请日:2014-07-04

    Abstract: 本发明公开了一种芯片焊接方法,该方法包括:根据芯片的焊接位置,在衬板的相应位置处设置键合引线,以在衬板上确定出焊片和芯片的定位区域;将焊片放入定位区域中;将芯片放入定位区域中,使得芯片覆盖在相应的焊片上;采用预设焊接工艺进行焊接处理,使得芯片与衬板之间通过焊片形成的焊层实现电路互连。本发明通过键合引线来实现对焊片和芯片的定位,不再需要使用焊接工装,简化了芯片焊接流程,降低了芯片焊接的成本。

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