自动化芯片分离贴装方法

    公开(公告)号:CN105225968A

    公开(公告)日:2016-01-06

    申请号:CN201510657357.1

    申请日:2015-10-13

    Abstract: 本发明提供一种自动化芯片分离贴装方法,包括:步骤A:初始化当前产品序号m=0,芯片等级n=1,转步骤B;步骤B:拾取所述晶圆上第n等级芯片并贴装到第m产品上,转步骤C;步骤C:判断所述晶圆上是否还剩余第n等级芯片,若剩余,将m加1,转步骤B;若不剩余,将n加1,转步骤B。本发明提供的自动化芯片分离贴装方法,通过将晶圆上的芯片进行分级拾取并直接贴装到产品上,减少了芯片的人工分级并包装、运输、拆分等操作,降低了人工干预程度,节省人力物力,提高了生产效率。

    自动化芯片分离贴装方法

    公开(公告)号:CN105225968B

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201510657357.1

    申请日:2015-10-13

    Abstract: 本发明提供一种自动化芯片分离贴装方法,包括:步骤A:初始化当前产品序号m=0,芯片等级n=1,转步骤B;步骤B:拾取所述晶圆上第n等级芯片并贴装到第m产品上,转步骤C;步骤C:判断所述晶圆上是否还剩余第n等级芯片,若剩余,将m加1,转步骤B;若不剩余,将n加1,转步骤B。本发明提供的自动化芯片分离贴装方法,通过将晶圆上的芯片进行分级拾取并直接贴装到产品上,减少了芯片的人工分级并包装、运输、拆分等操作,降低了人工干预程度,节省人力物力,提高了生产效率。

    GE轨迹自动检测方法及装置

    公开(公告)号:CN106959408A

    公开(公告)日:2017-07-18

    申请号:CN201610014100.9

    申请日:2016-01-08

    Abstract: 本发明提供一种GE轨迹自动检测方法及装置,其中,方法包括:对待测产品需要被检测的位置进行定位,以获得表笔需要接触的检测位置;将表笔置于检测位置上,以对待测产品进行检测,并获得检测结果;将检测结果与预设阈值进行比较,以获得比较结果;根据比较结果对待测产品进行分类。本发明提供的GE轨迹自动检测方法及装置,整个检测过程不再需要人工干预,提高了检测效率,同时减少了检测过程中由于人为操作不当对产品造成的损坏,且降低了产品误检率。

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