公开(公告)号：CN105280531B

公开(公告)日：2017-12-26

申请号：CN201510673315.7

申请日：2015-10-16

Applicant: 株洲南车时代电气股份有限公司

Inventor： 冯会雨 ,  徐凝华 ,  曾雄 ,  贺新强 ,  李寒 ,  程崛 ,  李亮星 ,  严璠 ,  周铮 ,  韩星尧

IPC: H01L21/67

Abstract: 本发明提供一种减少IGBT功率模块封装中GE短路的在线气相清洁装置及方法，所述装置包括：清洁腔体，清洁腔体设于键合点胶的上料轨道上，上料轨道用于传送芯片，清洁腔体内设置有吹气管道以及吸气管道，吹气管道的出风口设于芯片的至少其中一侧的斜上方，吸气管道的进风口对应地设于芯片的相对侧的斜上方。本发明所提供的装置及方法能够在引线键合之后，键合点胶之前，进行针对芯片表面残留焊球及铝屑的清洁，从而防止金属残留物被键合胶固定在门极总线位置导致芯片GE失效的情况，减少GE短路的概率。

公开(公告)号：CN106959408A

公开(公告)日：2017-07-18

申请号：CN201610014100.9

申请日：2016-01-08

Applicant: 株洲南车时代电气股份有限公司

Inventor： 韩星尧 ,  徐凝华 ,  曾雄 ,  贺新强 ,  冯会雨 ,  李寒 ,  程崛 ,  李亮星

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种GE轨迹自动检测方法及装置，其中，方法包括：对待测产品需要被检测的位置进行定位，以获得表笔需要接触的检测位置；将表笔置于检测位置上，以对待测产品进行检测，并获得检测结果；将检测结果与预设阈值进行比较，以获得比较结果；根据比较结果对待测产品进行分类。本发明提供的GE轨迹自动检测方法及装置，整个检测过程不再需要人工干预，提高了检测效率，同时减少了检测过程中由于人为操作不当对产品造成的损坏，且降低了产品误检率。

公开(公告)号：CN105280531A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201510673315.7

申请日：2015-10-16

Applicant: 株洲南车时代电气股份有限公司

Inventor： 冯会雨 ,  徐凝华 ,  曾雄 ,  贺新强 ,  李寒 ,  程崛 ,  李亮星 ,  严璠 ,  周铮 ,  韩星尧

IPC: H01L21/67

Abstract: 本发明提供一种减少IGBT功率模块封装中GE短路的在线气相清洁装置及方法，所述装置包括：清洁腔体，清洁腔体设于键合点胶的上料轨道上，上料轨道用于传送芯片，清洁腔体内设置有吹气管道以及吸气管道，吹气管道的出风口设于芯片的至少其中一侧的斜上方，吸气管道的进风口对应地设于芯片的相对侧的斜上方。本发明所提供的装置及方法能够在引线键合之后，键合点胶之前，进行针对芯片表面残留焊球及铝屑的清洁，从而防止金属残留物被键合胶固定在门极总线位置导致芯片GE失效的情况，减少GE短路的概率。