一种钳子
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104589228A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201510011812.0

    申请日:2015-01-09

    Abstract: 本发明涉及一种钳子,其包括钳头和钳柄。钳头具有第一钳头件和第二钳头件,在第一和第二钳头件上分别设有第一和第二钳口件。第一钳口件具有第一夹合面,而第二钳口件具有第二夹合面。在第一夹合面上设有凸条,在第二夹合面上设有凹槽。其中,当第一钳头件与第二钳头件合并时,凸条能够进入到凹槽内,当第一钳头件与第二钳头件分离时,凸条能够从凹槽内移出。根据本发明的钳子通过凸条和凹槽来夹扁金属接线端子,这种夹扁方式能够保证该钳子在频繁使用后仍就可以有效地夹扁金属接线端子,使得导线能被牢固地固定在金属接线端子内,从而防止断路现象的产生。

    GCT门极绝缘座及门极组件

    公开(公告)号:CN103346130A

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201310272369.3

    申请日:2013-07-01

    Abstract: 本发明提供了一种GCT门极绝缘座及门极组件,所述绝缘座为单向开口的腔体,所述腔体包括内侧壁、外侧壁和底部,所述外侧壁包括若干个间断的外子侧壁,所述内侧壁的内表面和/或所述外侧壁的至少一个外子侧壁的外表面呈阶梯式结构,即该内侧壁的内表面和/或外侧壁的外表面具有至少一个台阶。在GCT元件封装时,与绝缘座配合的内外阴极钼片可以放置在该台阶上,这样不仅可以减小绝缘座与阴极钼片之间的间隙而且可为阴极钼片提供一定的预紧力,从而限定阴极钼片的横向偏动和纵向偏动。通过该台阶对阴极钼片的限制,避免了阴极钼片与绝缘座之间的挤压变形而引发的器件门极和阴极之间的短路,确保了GCT元件的封装合格率。

    一种用于IGBT模块的基板及IGBT模块的封装方法

    公开(公告)号:CN104952809B

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201410113107.7

    申请日:2014-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种用于IGBT模块的基板及IGBT模块封装的方法,该基板包括AlSiC层和铝合金层,所述铝合金层位于AlSiC层底部的表面形成待机械加工层。该方法的步骤为:(1)制作基板;先由SiC粉末堆积成均匀的多孔隙结构的预制件,然后将液态铝合金浸渗到预制件中,形成AlSiC层;再继续注入液态铝合金,在基板的表面形成一层铝合金层;(2)使用上述基板完成IGBT封装之后,基板的底部会向内凹陷;此时,采用机械加工将基板的底部加工平整,消除内凹的弧度。本发明具有加工简便、加工成本低、能够提高可靠性等优点。

    GCT门极绝缘座及门极组件

    公开(公告)号:CN103346130B

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201310272369.3

    申请日:2013-07-01

    Abstract: 本发明提供了一种GCT门极绝缘座及门极组件,所述绝缘座为单向开口的腔体,所述腔体包括内侧壁、外侧壁和底部,所述外侧壁包括若干个间断的外子侧壁,所述内侧壁的内表面和/或所述外侧壁的至少一个外子侧壁的外表面呈阶梯式结构,即该内侧壁的内表面和/或外侧壁的外表面具有至少一个台阶。在GCT元件封装时,与绝缘座配合的内外阴极钼片可以放置在该台阶上,这样不仅可以减小绝缘座与阴极钼片之间的间隙而且可为阴极钼片提供一定的预紧力,从而限定阴极钼片的横向偏动和纵向偏动。通过该台阶对阴极钼片的限制,避免了阴极钼片与绝缘座之间的挤压变形而引发的器件门极和阴极之间的短路,确保了GCT元件的封装合格率。

    一种用于IGBT模块的基板及IGBT模块的封装方法

    公开(公告)号:CN104952809A

    公开(公告)日:2015-09-30

    申请号:CN201410113107.7

    申请日:2014-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种用于IGBT模块的基板及IGBT模块封装的方法,该基板包括AlSiC层和铝合金层,所述铝合金层位于AlSiC层底部的表面形成待机械加工层。该方法的步骤为:(1)制作基板;先由SiC粉末堆积成均匀的多孔隙结构的预制件,然后将液态铝合金浸渗到预制件中,形成AlSiC层;再继续注入液态铝合金,在基板的表面形成一层铝合金层;(2)使用上述基板完成IGBT封装之后,基板的底部会向内凹陷;此时,采用机械加工将基板的底部加工平整,消除内凹的弧度。本发明具有加工简便、加工成本低、能够提高可靠性等优点。

    用于测试IGBT模块的局部放电的装置和方法

    公开(公告)号:CN103675622A

    公开(公告)日:2014-03-26

    申请号:CN201310646011.2

    申请日:2013-12-04

    Abstract: 本发明提供了一种用于测试IGBT模块的局部放电的装置,包括提供了一种用于测试IGBT模块的局部放电的装置,包括用于安放需要测试的IGBT模块的绝缘定位支座、设置在绝缘定位支座上的探针机构,以及加载单元,加载单元能驱动探针机构沿轴向运动,从而与需要测试的IGBT模块端口相接触。此外,还包括容纳探针机构的绝缘壳体。此装置结构简单,容易操作,提高了测试效率和安全性。同时,减小了测试中对IGBT的损伤。本发明还提供了一种用上述的测试装置来测试局部放电的方法。

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