一种提高GCT芯片安全工作区的横向非均匀电子辐照方法

    公开(公告)号:CN103065950A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201210573249.2

    申请日:2012-12-26

    Abstract: 一种提高GCT芯片安全工作区的横向非均匀电子辐照方法,其步骤为:(1)GCT芯片的预辐射;通过控制芯片的少子寿命及压降的方法,对GCT芯片实行一次预辐照;(2)一次退火后,进行少子寿命和芯片压降监测;(3)采用复合合金挡板,利用电子辐照穿透复合合金挡板的非均匀性对GCT芯片进行二次辐照并退火;(4)再次进行少子寿命和芯片压降监测。本发明具有原理简单、操作简便、通过两次辐照技术以实现GCT芯片局部少子寿命控制、通过降低远离门极梳条的少子寿命、降低在GCT关断过程中电流的再分配效应、提高GCT芯片整体安全工作区等优点。

    一种提高GCT芯片安全工作区的横向非均匀电子辐照方法

    公开(公告)号:CN103065950B

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201210573249.2

    申请日:2012-12-26

    Abstract: 一种提高GCT芯片安全工作区的横向非均匀电子辐照方法,其步骤为:(1)GCT芯片的预辐射;通过控制芯片的少子寿命及压降的方法,对GCT芯片实行一次预辐照;(2)一次退火后,进行少子寿命和芯片压降监测;(3)采用复合合金挡板,利用电子辐照穿透复合合金挡板的非均匀性对GCT芯片进行二次辐照并退火;(4)再次进行少子寿命和芯片压降监测。本发明具有原理简单、操作简便、通过两次辐照技术以实现GCT芯片局部少子寿命控制、通过降低远离门极梳条的少子寿命、降低在GCT关断过程中电流的再分配效应、提高GCT芯片整体安全工作区等优点。

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