存储器器件、计算器件以及计算方法

    公开(公告)号:CN113314163B

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202110215393.8

    申请日:2021-02-25

    Abstract: 电荷共享方案用于减轻单元电流的变化,以便为CIM计算获得更高的精度。在一些实施例中,电容器与每个SRAM单元相关联,并且与列中的所有SRAM单元相关联的电容器包括来平均化RBL电流。在一些实施例中,与CIM器件中的RBL相关联的存储器单元包括:存储元件,适于存储权重;第一开关器件,连接至存储元件并适于受输入信号控制,并生成具有指示输入信号与所存储权重的乘积的幅度。存储器单元还包括电容器,电容器适于接收乘积信号并存储与对应于乘积信号的幅度的电荷量。存储器单元还包括第二开关器件,第二开关器件适于将电容器上的电荷转移至RBL。本发明的实施例还涉及存储器器件、计算器件以及计算方法。

    存储器器件及制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN113536727B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202110720262.5

    申请日:2021-06-28

    Abstract: 公开了一种存储器器件,包括:有源区;栅电极,相对于四个对应轨迹线基本对准,使得存储器器件具有四个接触多晶硅间距(4CPP)的宽度,并电耦合至有源区;接触件到晶体管元件结构(MD结构),电耦合至有源区,并散布在栅电极中的对应栅电极之间;通孔到栅极/MD(VGD)结构,电耦合至栅电极和MD结构;导电部,在第一金属化层(M_1st层)中,并电耦合至VGD结构;掩埋接触件到晶体管元件结构(BVD结构),电耦合至有源区;以及掩埋导电部,在第一掩埋金属化层(BM_1st层)中,并电耦合至BVD结构,并对应地提供第一参考电压或第二参考电压。本发明的实施例还涉及制造半导体器件的方法。

    存储器件
    34.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113488087A

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202110266673.1

    申请日:2021-03-11

    Abstract: 一种存储器件,包括第一程序线和第二程序线。第一程序线的第一部分形成在第一导电层中,并且第一程序线的第二部分形成在第一导电层上方的第二导电层中。第二程序线的第一部分形成在第一导电层中。第二程序线的第二部分形成在第二导电层中。第二程序线的第三部分形成在第二导电层上方的第三导电层中。第一程序线的第一部分和第二部分彼此大小不同,并且第二程序线的第一部分、第二部分和第三部分彼此大小不同。

    电子器件及其操作方法
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113284526A

    公开(公告)日:2021-08-20

    申请号:CN202110129581.9

    申请日:2021-01-29

    Abstract: 本发明的实施例公开了一种电子器件及其操作方法,该电子器件包括用于第一电源域的第一电源轨和用于第二电源域的第二电源轨。第一电路块连接到第一电源轨,第二电路块连接到第二电源轨。第一电路块和第二电路块均连接至虚拟VSS端子。脚部电路连接在虚拟VSS端子与地端子之间,并且该脚部电路配置为选择性地控制虚拟VSS端子与地端子之间的连接。

    静态随机存取存储器及其写入辅助电路和写入操作方法

    公开(公告)号:CN109308925B

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN201810050448.2

    申请日:2018-01-18

    Abstract: 本发明描述了写入辅助电路和存储器装置的实施例。写入辅助电路可以包括控制电路和电压发生器。控制电路可以被配置为接收与用于存储器单元的存储器写入操作相关联的存储器地址信息。电压发生器可以被配置为向连接至存储器单元的一根或多根位线提供参考电压。电压发生器可以包括两个电容性元件,其中,在存储器写入操作期间,(i)电容性元件中的一个可以被配置为将参考电压连接至第一负电压,以及(ii)基于存储器地址信息,两个电容性元件可以被配置为将参考电压累积地连接至低于第一负电压的第二负电压。本发明的实施例还提供了用于存储器写入操作的方法。

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