互连结构和方法
    33.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104051414A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201310241836.6

    申请日:2013-06-18

    Abstract: 本发明涉及互连结构和方法,提供了一种半导体器件包括第一半导体芯片和第二半导体芯片,其中,第一半导体芯片包括第一衬底和形成在第一衬底上方的多个第一金属线;第二半导体芯片接合在第一半导体芯片上,其中,第二半导体芯片包括第二衬底和形成在第二衬底上方的多个第二金属线。半导体器件进一步包括连接在第一金属线和第二金属线之间的导电塞,其中,导电塞包括形成在硬掩膜层的第一侧面上方的第一部分和形成在硬掩膜层的第二侧面上方的第二部分,其中,第一部分具有第一宽度;第二部分具有第二宽度,且第二宽度大于或等于第一宽度。

    图像装置及其形成方法
    40.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103383947A

    公开(公告)日:2013-11-06

    申请号:CN201310022694.4

    申请日:2013-01-21

    Abstract: 形成图像传感器器件的方法包括在衬底的像素区域中形成隔离阱。该隔离阱具有第一导电类型。在隔离阱的上方的衬底上形成有栅叠层。掩模层形成在隔离阱的上方并且覆盖栅叠层的至少大部分。使用栅叠层和掩模层作为掩模,将多种掺杂物注入像素区域中,以形成掺杂隔离部件。该多种掺杂物具有第一导电类型。在衬底中形成位于栅叠层的相对侧的源极区域和漏极区域。源极区域和漏极区域的第二导电类型与第一导电类型相反。本发明还提供了图像装置及其形成方法。

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