半导体晶片和制造方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106024855B

    公开(公告)日:2019-07-12

    申请号:CN201610188505.4

    申请日:2016-03-29

    Abstract: 公开了半导体晶片和制造方法。半导体晶片包括:第一主表面和第二主表面,沿着竖直方向彼此相反;以及侧表面,环绕半导体晶片。在侧表面和半导体晶片的中心之间的垂直于竖直方向的横向距离包括第一部分和第二部分。第一部分从侧表面延伸到第二部分,并且第二部分从第一部分延伸到中心。第一部分中的氮和氧中的至少之一的平均浓度大于5x 1014cm‑3并且超过第二部分中的氮和氧中的至少之一的平均浓度(第二部分中的氮和氧中的至少之一的平均浓度的)多于20%。

    一种正交黑磷晶体的制备方法及利用该正交黑磷晶体制备的黑磷量子点

    公开(公告)号:CN109628994A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201910029192.1

    申请日:2019-01-12

    Applicant: 河南大学

    CPC classification number: C30B29/02 B82Y20/00 C09K11/70 C30B1/10 C30B33/00

    Abstract: 本发明涉及一种正交黑磷晶体的制备方法及利用该正交黑磷晶体制备的黑磷量子点。所述正交晶系黑磷晶体的制备为:将红磷、单质Sn、与单质I2一同密封于石英管中,放于单温区管式炉中,通过优化的程序升温和降温制备黑磷单晶;黑磷量子点的制备为:将上述制备的黑磷单晶磨成粉末分散于NMP溶液中,搅拌,得到溶液A,将NaOH分散于NMP溶液中,搅拌均匀得到溶液B,将溶液A加入溶液B中,然后高温反应4~32h制备黑磷量子点。本发明成本较低,对设备要求低,易实现和较高的操作安全性,制得的黑磷单晶性能好,纯度高,为后续黑磷量子点的制备提供了高质量的黑磷源。而且黑磷量子点的制备可规模化,效率高,通过控制时间控制量子点尺寸的优点。

    一种砷化镓超薄衬底及应用

    公开(公告)号:CN106702492A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201710102563.5

    申请日:2017-02-24

    Inventor: 易德福 守建川

    CPC classification number: C30B29/42 C30B11/00 C30B33/00

    Abstract: 本发明公开了一种砷化镓超薄衬底及应用,所述砷化镓超薄衬底的形状为正六边形,所述砷化镓超薄衬底的内部包括至少两个边长依次减小的多孔正六边形,呈窝蜂状。其加工方法为材料提纯、多晶料制备、晶体生长、切片、磨边、研磨、腐蚀、粗抛和精抛、清洗、光刻腐蚀,该超薄砷化镓衬底应用于热核电池,可有效增强热核电池对放射源辐射能量的吸收效果,提高转换效率,电池输出的电压和电流可达到0‑4V、0.8‑2A。

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