一种涂层刀具及其涂层制备工艺
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119501170A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202510074663.6

    申请日:2025-01-17

    Inventor: 李名雪

    Abstract: 本发明涉及机械加工领域,且公开了一种涂层刀具及其涂层制备工艺,包括刀头,刀头的底部一体化固定连接有刀杆,刀杆的底部固定连接有刀具固定结构,刀具固定结构的侧面上端开设有锁紧用螺纹槽,刀具固定结构的侧面上对应锁紧用螺纹槽的区域内螺纹连接有固定用旋钮,刀头的内腔中开设有冷却液通道一,刀具固定结构的内腔中空且与刀头的内腔相连通,刀具固定结构的内腔中活动插接有合金撑棒,还包括防松动锁紧装置,该涂层刀具通过自锁垫片防松动、简便安装拆卸、内置冷却液通道散热润滑、多组件配合稳固定位以及精确涂层工艺提升性能,极大地提高了刀具的稳定性、工作效率、加工精度、适应性和使用寿命,降低了操作难度和生产成本。

    一种防逆光全反射钝化缓冲结构及其制备方法、应用

    公开(公告)号:CN119497456A

    公开(公告)日:2025-02-21

    申请号:CN202411375139.4

    申请日:2024-09-30

    Abstract: 本发明提供一种防逆光全反射钝化缓冲结构及其制备方法、应用,所述防逆光全反射钝化缓冲结构包括依次沉积于活化晶体硅基底表面的富OH键的Al3O2膜层和AlNx缓冲膜层,所述活化晶体硅基底由晶体硅基底经过一次等离子体处理后得到,所述富OH键的Al3O2膜层由氧化铝膜层经过二次等离子体处理后得到;所述富OH键的Al3O2膜层的折射率小于1.7,所述AlNx缓冲膜层的折射率为1.7~1.9。本发明的富OH键的Al3O2膜层可以吸附更多结合能更强的OH键及H键,AlNx缓冲膜层作为光吸收缓冲层在保证良好在钝化效果在同时,降低太阳电池表面膜层折射率失配带来在的逆光全反射不良现象,提高了太阳电池的转换效率。

    化合物半导体基板
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113227467B

    公开(公告)日:2025-02-21

    申请号:CN201980086082.7

    申请日:2019-12-10

    Abstract: 提供能够降低含Al(铝)的氮化物半导体层内的穿透位错的化合物半导体基板。一种化合物半导体基板,具备:Si(硅)基板;第1的Al氮化物半导体层,其被形成于Si基板之上,是Al浓度沿着厚度方向随着从Si基板远离而减少的倾斜层;GaN(氮化镓)层,其被形成于第1的Al氮化物半导体层之上,具有比第1的Al氮化物半导体层的平均Al浓度低的平均Al浓度;第2的Al氮化物半导体层,其被形成于GaN层之上,具有比GaN层的平均Al浓度高的平均Al浓度。第2的Al氮化物半导体层内的厚度方向的任意位置处的穿透位错密度比第1的Al氮化物半导体层内的厚度方向的任意位置处的穿透位错密度低。

    一种利用AMAT Centra DxZ CVD设备生长低温氮化硅薄膜的方法

    公开(公告)号:CN119465074A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411615346.2

    申请日:2024-11-13

    Inventor: 戴晨光

    Abstract: 本发明提供一种利用AMAT Centra DxZ CVD设备生长低温氮化硅薄膜的方法,包括如下步骤:提供衬底;控制所述设备的腔体温度在150‑200℃之间,控制所述腔体的压力为第一压力;将所述衬底传入所述腔体内,控制所述衬底与所述腔体上部的距离为第一距离;控制所述腔体的压力在2‑5Torr之间,引入反应气体和N2并稳定第一预设时长,生长氮化硅薄膜。可在不对原有进行高温氮化硅沉积的设备进行改造的情况下,实现低温氮化硅薄膜的沉积和应力的调控。

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