成膜方法和成膜装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112391607B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202010789975.2

    申请日:2020-08-07

    摘要: 本发明涉及成膜方法和成膜装置。[课题]在表面露出有第1膜和第2膜的基板上成膜氮化硅膜时,抑制第1膜或第2膜的氮化,且使第1膜上和第2膜上的各氮化硅的膜厚一致。[解决方案]实施如下工序:向基板供给由具有Si‑Si键的卤化硅构成的处理气体的工序;向基板供给未经等离子体化的第2氮化气体的工序;依次重复进行供给处理气体的工序与供给第2氮化气体的工序,形成覆盖第1膜和第2膜的氮化硅的薄层的工序;为了将氮化硅的薄层改性,向基板供给等离子体化的改性用气体的工序;和,向前述基板供给原料气体和第1氮化气体,在经改性的氮化硅的薄层上成膜氮化硅膜的工序。