晶振及其制作方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102270975A

    公开(公告)日:2011-12-07

    申请号:CN201010193493.7

    申请日:2010-06-04

    Inventor: 毛剑宏

    Abstract: 本发明提供了一种晶振及其制作方法,所述晶振包括:半导体衬底;位于半导体衬底表面的层间介质层,所述层间介质层内形成有激励板以及位于所述激励板两侧的正极插塞、负极插塞;位于正极插塞与负极插塞之间、激励板上方的下空腔;位于层间介质层表面,横跨所述下空腔,并与正极插塞、负极插塞连接的振动晶体,所述振动晶体与其两侧的正极插塞以及负极插塞连接,除此之外,其余两侧为自由端,不与周围物体相接触;位于层间介质层上的隔离层,所述隔离层与振动晶体之间具有间隙,构成上空腔;形成于所述隔离层表面的覆盖层。本发明所述晶振基于CMOS工艺制造,易于集成至半导体芯片中,满足器件微缩的需求。

    晶振及其制作方法
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102270975B

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201010193493.7

    申请日:2010-06-04

    Inventor: 毛剑宏

    Abstract: 本发明提供了一种晶振及其制作方法,所述竞晶振包括:半导体衬底;位于半导体衬底表面的层间介质层,所述层间介质层内形成有激励板以及位于所述激励板两侧的正极插塞、负极插塞;位于正极插塞与负极插塞之间、激励板上方的下空腔;位于层间介质层表面,横跨所述下空腔,并与正极插塞、负极插塞连接的振动晶体,所述振动晶体与其两侧的正极插塞以及负极插塞连接,除此之外,其余两侧为自由端,不与周围物体相接触;位于层间介质层上的隔离层,所述隔离层与振动晶体之间具有间隙,构成上空腔;形成于所述隔离层表面的覆盖层。本发明所述晶振基于CMOS工艺制造,易于集成至半导体芯片中,满足器件微缩的需求。

    周期性波纹阵列
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101802677A

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN200880106871.4

    申请日:2008-09-08

    Abstract: 一种微机电(MEMS)装置(800)包含衬底(802)、所述衬底(802)上的激活电极(804)、所述激活电极(804)上的反射层(810),和所述激活电极(804)与所述反射层(810)之间的支撑层(808)。所述反射层(810)包含穿过所述反射层(810)的至少一个孔(814)。所述支撑层(808)包含在所述激活电极(804)与所述至少一个孔(814)之间的凹进(812)。在将控制信号施加到所述装置(800)后,所述反射层(810)的至少第一部分(816)经配置以移动到所述凹进(812)中,且所述反射层(810)的至少第二部分(818)经配置以保持静止。所述MEMS装置(800)的反射性主要通过改变从所述第一部分(816)反射的光与从所述第二部分(818)反射的光之间的相位差来调制。

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