封装件及方法
    34.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107026093B

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201710057555.3

    申请日:2017-01-26

    Abstract: 本发明实施例揭露一种封装件及方法。其中,所述封装件包括装置裸片;以及囊封材料,囊封所述装置裸片于其中。所述囊封材料具有顶部表面,其与所述装置裸片的顶部表面共平面。线圈是从所述囊封材料的所述顶部表面延伸到所述囊封材料的底部表面,以及所述装置裸片在所述线圈所圈绕的区中。至少一个介电层形成于所述囊封材料以及所述线圈上方。多个重布线在所述至少一个介电层中。所述线圈通过所述重布线电耦合到所述装置裸片。

    多芯片半导体封装件
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110364505A

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201910089343.2

    申请日:2019-01-30

    Abstract: 半导体封装件包括:第一管芯;第一再分布结构,位于第一管芯上,第一再分布结构与第一管芯共末端;第二管芯,位于第一管芯上,第一管芯的第一部分延伸超出第二管芯的横向范围;导电柱,位于第一管芯的第一部分上并且与第二管芯横向相邻,导电柱电耦合到第一管芯;模制材料,位于第一管芯、第二管芯和导电柱周围;以及第二再分布结构,位于模制材料上,第二再分布结构电耦合到导电柱和第二管芯。本发明的实施例还涉及多芯片半导体封装件。

    半导体器件和方法
    37.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109585309A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201810979949.9

    申请日:2018-08-27

    Abstract: 本发明的实施例公开了半导体器件及其形成方法。在一个实施例中,一种半导体器件包括:在第一介电层上的导电屏蔽件;在第一介电层和导电屏蔽件上的第二介电层,第一和第二介电层围绕导电屏蔽件,第二介电层包括:沿着导电屏蔽件的外围设置的第一部分;延伸穿过导电屏蔽件的中心区域的第二部分;以及延伸穿过导电屏蔽件的通道区的第三部分,第三部分将第一部分连接至第二部分;在第二介电层上的线圈,线圈设置在导电屏蔽件上方;在第二介电层上的集成电路管芯,集成电路管芯设置在线圈的外部;以及围绕线圈和集成电路管芯的密封剂,密封剂、集成电路管芯和线圈的顶表面是平齐的。

Patent Agency Ranking