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公开(公告)号:CN1489202A
公开(公告)日:2004-04-14
申请号:CN03156343.0
申请日:2003-09-04
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H05K3/185 , H01L21/486 , H01L23/145 , H01L23/15 , H01L23/3114 , H01L23/49805 , H01L23/49827 , H01L24/19 , H01L24/24 , H01L24/82 , H01L25/105 , H01L2224/05001 , H01L2224/05008 , H01L2224/05026 , H01L2224/05548 , H01L2224/05569 , H01L2224/16 , H01L2224/24137 , H01L2224/24195 , H01L2224/24227 , H01L2224/32225 , H01L2224/73267 , H01L2224/92144 , H01L2225/1023 , H01L2225/1041 , H01L2225/1058 , H01L2924/00014 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01011 , H01L2924/01013 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/01023 , H01L2924/01027 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/01088 , H01L2924/014 , H01L2924/12042 , H01L2924/15153 , H01L2924/15165 , H01L2924/15192 , H01L2924/181 , H01L2924/19041 , H01L2924/3011 , H01L2924/3025 , H01L2924/351 , H05K2201/0116 , H05K2203/1469 , H01L2924/00 , H01L2224/05599 , H01L2224/05139 , H01L2224/05144 , H01L2224/05147 , H01L2224/05155 , H01L2224/05164
Abstract: 本发明提供一种实现了电子器件的小型安装结构的电子器件模块。在具有布线基板和与该布线基板一体化的电子器件的模块中,布线基板具有多孔质绝缘性基板,以及由选择性地导入该绝缘性基板的多孔质组织内的导电材料所形成的导体布线。
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公开(公告)号:CN100405591C
公开(公告)日:2008-07-23
申请号:CN200510053691.2
申请日:2005-03-10
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H01L23/49883 , H01L21/4867 , H01L21/563 , H01L22/14 , H01L22/20 , H01L24/16 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/81 , H01L24/98 , H01L25/0655 , H01L2224/0401 , H01L2224/05155 , H01L2224/05166 , H01L2224/05171 , H01L2224/05572 , H01L2224/05647 , H01L2224/05655 , H01L2224/05664 , H01L2224/1134 , H01L2224/1146 , H01L2224/13111 , H01L2224/13116 , H01L2224/13144 , H01L2224/13147 , H01L2224/14135 , H01L2224/14156 , H01L2224/16 , H01L2224/16225 , H01L2224/26175 , H01L2224/32225 , H01L2224/45144 , H01L2224/48647 , H01L2224/48655 , H01L2224/48664 , H01L2224/49171 , H01L2224/73204 , H01L2224/81026 , H01L2224/81097 , H01L2224/81191 , H01L2224/81193 , H01L2224/814 , H01L2224/81439 , H01L2224/81444 , H01L2224/818 , H01L2224/83886 , H01L2224/92125 , H01L2924/00014 , H01L2924/0002 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01024 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/0105 , H01L2924/01075 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/014 , H01L2924/09701 , H01L2924/10253 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/15787 , H01L2924/181 , H01L2924/351 , H01L2924/00 , H01L2224/05552 , H01L2224/05599
Abstract: 倘采用本发明的一个形态,则可以提供一种半导体器件,该半导体器件的特征在于具备:具备布线和电极的布线基板;装载到上述布线基板上边,在表面上形成了多个连接电极的半导体元件;以及介于上述布线基板上边的电极与上述半导体元件的连接电极之间,把它们连接起来的金属微粒凝集结合起来的金属层。
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公开(公告)号:CN1215545C
公开(公告)日:2005-08-17
申请号:CN03108392.7
申请日:2003-03-28
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/66
CPC classification number: G01R31/2886 , G01R31/2863
Abstract: 提供能够保持良好的电接触来进行具有微细电极构造的被测试电子部件的测试的半导体测试装置、半导体器件测试用接触基板、半导体器件的测试方法及半导体器件的制造方法。该半导体测试装置包括:测试电路(13),将测试信号输入输出到被测试电子部件;测试信号布线(12),与该测试电路电连接;接触基板(5),与被测试电子部件的电极电连接,配有传送测试信号的导电通路(6),设置有用绝缘性材料形成的、有上表面和下表面的至少一个以上的通孔;多层布线基板(7),与导电通路和测试信号布线电连接,配置有在接触基板的下表面上的至少一个以上的通孔(9);以及吸附机构(11),吸附并保持被测试电子部件、接触基板、以及多层布线基板。
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公开(公告)号:CN1649471A
公开(公告)日:2005-08-03
申请号:CN200410103438.9
申请日:2004-12-27
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H05K3/207 , H05K1/095 , H05K3/1266 , H05K2201/0212 , H05K2201/0215 , H05K2203/0517 , Y10T428/12535 , Y10T428/12556 , Y10T428/12569 , Y10T428/256 , Y10T428/2991 , Y10T428/2998
Abstract: 本发明提供一种在树脂基体中分散了金属微粒的、形成导体图案用的含金属微粒的树脂颗粒,其特征为所述金属微粒的含量为小于等于总体的70重量%。
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公开(公告)号:CN1578597A
公开(公告)日:2005-02-09
申请号:CN200410070731.X
申请日:2004-07-21
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H05K3/246 , B32B27/06 , B32B27/18 , G03G15/224 , G03G15/225 , G03G15/6585 , G03G15/6591 , H05K3/1266 , H05K3/428 , H05K3/4647 , H05K3/4664 , H05K2201/0215 , H05K2201/0347 , H05K2203/0517 , Y10T428/24917
Abstract: 一种借助于把可视像复制到基板上的电子照相方式形成的布线基板,具备:复制可视像的基板;在上述基板上选择性地形成,分散含有金属微粒的非导电性的金属含有树脂层;在上述金属含有树脂层上形成的导电性的导电金属层;在上述基板上的金属含有树脂层之间形成的树脂层。
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公开(公告)号:CN102610492A
公开(公告)日:2012-07-25
申请号:CN201210018300.3
申请日:2012-01-19
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/02 , H01L27/146
CPC classification number: H01L21/681 , H01L21/67092 , H01L21/6838 , H01L27/1464
Abstract: 本发明提供半导体制造装置及半导体基板接合方法。根据实施例的半导体制造装置,具备:第1部件,保持第1半导体基板;第2部件,保持第2半导体基板,使接合面与第1半导体基板的接合面相对向;距离检测单元,检测第1半导体基板的接合面和第2半导体基板的接合面的距离;调节单元,调节第1半导体基板的接合面和第2半导体基板的接合面的距离;第3部件,在第1半导体基板和第2半导体基板之间形成接合开始点。
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公开(公告)号:CN102403324A
公开(公告)日:2012-04-04
申请号:CN201110251738.1
申请日:2011-08-29
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14618 , H01L27/1464 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供半导体器件的制造方法、半导体器件及相机组件。根据实施方式,在第1基板的表面、背面及侧面上,形成绝缘膜。接着,除去第1基板的表面侧的绝缘膜,在除去了绝缘膜的第1基板的表面上形成粘接层。然后,间隔着粘接层,将第1基板和第2基板贴合。
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公开(公告)号:CN1667824A
公开(公告)日:2005-09-14
申请号:CN200510053691.2
申请日:2005-03-10
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H01L23/49883 , H01L21/4867 , H01L21/563 , H01L22/14 , H01L22/20 , H01L24/16 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/81 , H01L24/98 , H01L25/0655 , H01L2224/0401 , H01L2224/05155 , H01L2224/05166 , H01L2224/05171 , H01L2224/05572 , H01L2224/05647 , H01L2224/05655 , H01L2224/05664 , H01L2224/1134 , H01L2224/1146 , H01L2224/13111 , H01L2224/13116 , H01L2224/13144 , H01L2224/13147 , H01L2224/14135 , H01L2224/14156 , H01L2224/16 , H01L2224/16225 , H01L2224/26175 , H01L2224/32225 , H01L2224/45144 , H01L2224/48647 , H01L2224/48655 , H01L2224/48664 , H01L2224/49171 , H01L2224/73204 , H01L2224/81026 , H01L2224/81097 , H01L2224/81191 , H01L2224/81193 , H01L2224/814 , H01L2224/81439 , H01L2224/81444 , H01L2224/818 , H01L2224/83886 , H01L2224/92125 , H01L2924/00014 , H01L2924/0002 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01024 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01046 , H01L2924/01047 , H01L2924/0105 , H01L2924/01075 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/014 , H01L2924/09701 , H01L2924/10253 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/15787 , H01L2924/181 , H01L2924/351 , H01L2924/00 , H01L2224/05552 , H01L2224/05599
Abstract: 倘采用本发明的一个形态,则可以提供一种半导体器件,该半导体器件的特征在于具备:具备布线和电极的布线基板;装载到上述布线基板上边,在表面上形成了多个连接电极的半导体元件;以及介于上述布线基板上边的电极与上述半导体元件的连接电极之间,把它们连接起来的金属微粒凝集结合起来的金属层。
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公开(公告)号:CN1638602A
公开(公告)日:2005-07-13
申请号:CN200410103437.4
申请日:2004-12-27
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H05K3/246 , G03G15/6585 , H01L23/49883 , H01L2924/0002 , H05K1/095 , H05K3/1266 , H05K3/4664 , H05K2201/0212 , H05K2201/0347 , H05K2203/0517 , Y10T29/49128 , Y10T29/49155 , Y10T29/49158 , Y10T29/4916 , Y10T428/12097 , Y10T428/12104 , Y10T428/12111 , Y10T428/24917 , H01L2924/00
Abstract: 根据本发明的一实施形式,提供一种含金属的树脂颗粒,其特征为由含有大于等于50重量%的热固化性树脂并且具有500~14500ppm吸湿量的树脂,和在所述树脂中含有的金属微粒形成。
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公开(公告)号:CN102403324B
公开(公告)日:2015-10-28
申请号:CN201110251738.1
申请日:2011-08-29
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14618 , H01L27/1464 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供半导体器件的制造方法、半导体器件及相机组件。根据实施方式,在第1基板的表面、背面及侧面上,形成绝缘膜。接着,除去第1基板的表面侧的绝缘膜,在除去了绝缘膜的第1基板的表面上形成粘接层。然后,间隔着粘接层,将第1基板和第2基板贴合。
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