半导体存储器装置
    101.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108962312A

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201810494280.4

    申请日:2018-05-22

    Abstract: 一种半导体存储器装置,包括:多个存储单元,配置成存储数字数据;以及输入复用器,配置成实现从多个存储单元选择特定存储单元。半导体存储器装置进一步包括:读取/写入驱动电路,配置成从选择的存储单元读取数据以及将数据写入选择的存储单元;以及写入逻辑块,配置成将逻辑控制提供到读取/写入驱动电路以用于将数据写入选择的存储单元。读取/写入驱动电路可通过数据线及倒置数据线耦合到读取/写入输入复用器,且选择的存储单元的读取操作及写入操作发生于相同数据线及倒置数据线。

    存储器宏及其操作方法
    103.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107403635A

    公开(公告)日:2017-11-28

    申请号:CN201710182966.5

    申请日:2017-03-24

    Abstract: 本发明实施例提供一种存储器宏及其操作方法。其中,存储器宏包含第一存储器单元阵列、第一跟踪电路及第一预充电电路。所述第一跟踪电路包含:第一组存储器单元,其响应于第一组控制信号而配置为第一组负载单元;第二组存储器单元,其响应于第二组控制信号而配置为第一组下拉单元;及第一跟踪位线,其耦合到所述第一组存储器单元及所述第二组存储器单元。所述第一组下拉单元及所述第一组负载单元经配置以跟踪所述第一存储器单元阵列的存储器单元。所述第一预充电电路耦合到所述第一跟踪位线,且经配置以响应于第三组控制信号而将所述第一跟踪位线充电到预充电电压电平。

    用于存储器写数据操作的电路

    公开(公告)号:CN104051003B

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201310239318.0

    申请日:2013-06-17

    CPC classification number: G11C7/22 G11C11/419 G11C2207/2227

    Abstract: 一种用于改进SRAM的写操作的脉冲式动态LCV电路。该脉冲式动态LCV电路包括:具有多个可选择的降低的电源电压的电压调节电路和具有多个可选择的逻辑状态转换时序的时序调节电路,以用于可调节性地控制从被选择的降低的电源电压恢复到额定电源电压的转换的电压和时序。电压调节电路具有多个可选择的晶体管,其在独立被选择时具有进一步下拉降低的电源电压的累积效应。时序调节电路具有多个可选择的多路选择器,其在被独立选择用于延迟的电压转换时具有使提供给SRAM的电压延迟从降低的电源电压恢复到额定电源电压的累积效应。本发明还提供了用于存储器写数据操作的电路。

    用于存储器写数据操作的电路

    公开(公告)号:CN104051003A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201310239318.0

    申请日:2013-06-17

    CPC classification number: G11C7/22 G11C11/419 G11C2207/2227

    Abstract: 一种用于改进SRAM的写操作的脉冲式动态LCV电路。该脉冲式动态LCV电路包括:具有多个可选择的降低的电源电压的电压调节电路和具有多个可选择的逻辑状态转换时序的时序调节电路,以用于可调节性地控制从被选择的降低的电源电压恢复到额定电源电压的转换的电压和时序。电压调节电路具有多个可选择的晶体管,其在独立被选择时具有进一步下拉降低的电源电压的累积效应。时序调节电路具有多个可选择的多路选择器,其在被独立选择用于延迟的电压转换时具有使提供给SRAM的电压延迟从降低的电源电压恢复到额定电源电压的累积效应。本发明还提供了用于存储器写数据操作的电路。

    提供用于解决垂直双位故障的行冗余

    公开(公告)号:CN102682836A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201110399964.4

    申请日:2011-12-02

    CPC classification number: G11C29/846

    Abstract: 本发明提供用于解决垂直双位故障的行冗余的方案,具体地,公开了一种电路,包括被配置为存储第一行地址的故障地址寄存器,连接到故障地址寄存器的行地址修改器,其中,行地址修改器被配置为修改从故障地址寄存器接收到的第一行地址,从而生成第二行地址。第一比较器被配置为接收和比较第一行地址和第三行地址。第二比较器被配置为接收和比较第二行地址和第三行地址。第一行地址和第二行地址是存储器中的故障行地址。

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