用于永久接合晶片的方法

    公开(公告)号:CN105374667A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201510911760.2

    申请日:2011-01-25

    CPC classification number: H01L21/187 H01L21/2007 H01L21/76251

    Abstract: 本发明涉及用于永久接合晶片的方法。具体地,本发明揭示一种将第一基板(1)的第一接触表面(3)接合至第二基板(2)的第二接触表面(4)的方法,该方法包含以下步骤,尤其包含以下顺序:-在第一接触表面(3)的表面层(6)中形成贮液槽(5),-利用第一起始物或第一组起始物至少部分填充该贮液槽(5),-使第一接触表面(3)与第二接触表面(4)接触以形成预接合连接,-在第一与第二接触表面(3、4)之间形成永久接合,通过使第一起始物与第二基板的反应层(7)中含有的第二起始物反应来至少部分强化该永久接合。

    晶片的永久粘合方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103460342A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201180069894.4

    申请日:2011-04-08

    CPC classification number: H01L21/20 H01L21/2007 H01L21/3105 H01L21/76251

    Abstract: 本发明涉及第一衬底(1)的第一接触面(3)与第二衬底(2)的第二接触面(4)的粘合方法,其具有下列步骤,尤其是下列序列:在第一衬底(1)和/或第二衬底(2)上的至少一个储库形成层(6,6’)中形成至少一个储库(5,5’),其中所述储库(5,5’)至少主要由非晶材料构成,用第一原料物或第一组原料物至少部分填充储库(5,5’),在储库(5)和/或储库(5’)上形成或施加含有第二原料物或第二组原料物的反应层(17),使第一接触面(3)与第二接触面(4)接触以形成预-粘合-连接,在第一和第二接触面(3,4)之间形成永久粘合,其通过第一原料物或第一组原料物与第二原料物或第二组原料物的反应至少部分增强。

    用于永久接合晶片的方法

    公开(公告)号:CN108470679B

    公开(公告)日:2022-03-29

    申请号:CN201810608288.9

    申请日:2011-01-25

    Abstract: 本发明涉及用于永久接合晶片的方法。具体地,本发明涉及将第一基板(1)的第一接触表面(3)接合至第二基板(2)的第二接触表面(4)的方法,该方法具有以下步骤:‑在第一接触表面(3)的表面层(6)中形成贮液槽(5),‑用第一起始物或第一组起始物至少部分填充该贮液槽(5),‑使第一接触表面(3)与第二接触表面(4)接触以形成预接合连接,和‑在所述第一和第二接触表面(3,4)之间形成永久接合,通过使第一起始物与第二基板(2)的反应层(7)中含有的第二起始物反应来至少部分强化所述永久接合,其中该贮液槽(5)是由等离子体活化作用而形成的,其中等离子体处理中存在的离子的还原种类位于该贮液槽(5)中。

    永久结合晶圆的方法及装置

    公开(公告)号:CN107195541A

    公开(公告)日:2017-09-22

    申请号:CN201710599033.6

    申请日:2012-07-24

    Abstract: 本发明涉及一种永久结合晶圆的方法及装置,其中该第二衬底具有最少一个反应层:将该衬底容纳于第一电极与第二电极之间或线圈内,通过对第一接触面施加借助于电极的电容耦合所产生的等离子体而在第一接触面上的储存器形成层中形成储存器,其中在等离子体产生或借助于线圈的电感耦合产生等离子体期间向该第一电极施加与该第二电极的第二频率不同的第一频率,其中在等离子体产生期间在第一发生器产生与第二发生器的第二频率不同的第一频率。此外,本发明涉及一种相应装置。

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