公开(公告)号：CN105706221B

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201480061004.9

申请日：2014-09-18

Applicant: 住友电气工业株式会社 ,  瑞萨电子株式会社

Inventor： 久保田良辅 ,  山田俊介 ,  堀井拓 ,  增田健良 ,  滨岛大辅 ,  田中聪 ,  木村真二 ,  小林正幸

IPC: H01L21/336 ,  H01L21/28 ,  H01L21/66 ,  H01L29/12 ,  H01L29/423 ,  H01L29/49 ,  H01L29/78

Abstract: 一种碳化硅半导体器件包括碳化硅衬底(10)、栅极绝缘膜(15)和栅电极(27)。碳化硅衬底(10)具有第一主表面(10a)和与所述第一主表面(10a)相反的第二主表面(10b)。所述栅极绝缘膜(15)被设置成接触所述碳化硅衬底(10)的所述第一主表面(10a)。所述栅电极(27)设置在所述栅极绝缘膜(15)上，使得所述栅极绝缘膜(15)位于所述栅电极(27)和所述碳化硅衬底(10)之间。在175℃的温度下向栅电极(27)施加‑5V的栅电压达100小时的第一应力测试中，第一阈值电压和第二阈值电压之差的绝对值不大于0.5V，所述第一应力测试之前的阈值电压被定义为所述第一阈值电压并且所述第一应力测试之后的阈值电压被定义为所述第二阈值电压。因此，提供了阈值电压的波动可减弱的碳化硅半导体器件及其制造方法。

公开(公告)号：CN105579626B

公开(公告)日：2019-01-08

申请号：CN201480052597.2

申请日：2014-08-11

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 田中聪 ,  冲田恭子 ,  西口太郎 ,  久保田良辅 ,  神原健司

IPC: H01L21/02 ,  H01L21/205 ,  C30B29/36 ,  C23C16/42

Abstract: 一种碳化硅半导体衬底(10)包括第一主表面(10a)和与第一主表面(10a)相反的第二主表面(10b)。第一主表面(10a)具有大于100mm的最大直径，且碳化硅半导体衬底(10)具有不大于700μm的厚度。在从第一主表面(10a)的外周端部分(OR)朝向第一主表面(10a)的中心(O)的5mm以内的区域(OR2)中，在具有1mm2的面积的任意区域处，位错密度为不大于500/mm2。因此，提供有能抑制裂缝产生的碳化硅半导体衬底。

公开(公告)号：CN105164322A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201480024728.6

申请日：2014-04-03

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 田中聪 ,  山田俊介 ,  堀井拓 ,  松岛彰 ,  久保田良辅 ,  冲田恭子 ,  西浦隆幸

IPC: C30B29/36 ,  H01L21/20 ,  H01L21/336 ,  H01L29/12 ,  H01L29/161 ,  H01L29/78

CPC classification number: H01L21/02529 ,  C30B25/18 ,  C30B25/20 ,  C30B29/36 ,  H01L21/02164 ,  H01L21/02271 ,  H01L21/02378 ,  H01L21/02598 ,  H01L21/02636 ,  H01L21/3065 ,  H01L23/3185 ,  H01L29/045 ,  H01L29/0657 ,  H01L29/1608 ,  H01L29/66068 ,  H01L29/7813 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 一种制造碳化硅衬底的方法，包括以下步骤。制备具有第一主表面(80a)、第二主表面(80b)以及第一侧端部(80c)的碳化硅单晶衬底(80)，第二主表面(80b)与第一主表面(80a)相反，第一侧端部(80c)将第一主表面(80a)和第二主表面(80b)彼此连接，第一主表面(80a)的宽度(D)的最大值大于100mm。碳化硅外延层(81)形成为与第一侧端部(80c)、第一主表面(80a)以及第一主表面(80a)和第一侧端部(80c)之间的边界(80d)接触。去除形成为与第一侧端部(80c)和边界(80d)接触的碳化硅外延层(81)。因此，可抑制形成在碳化硅衬底上的二氧化硅层中产生的破裂。

公开(公告)号：CN101981237A

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：CN200980111737.8

申请日：2009-05-27

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 田中聪 ,  宫原贤一 ,  北林弘之 ,  片山浩二 ,  森下知典 ,  森分达也

IPC: C30B29/42 ,  C30B19/12 ,  H01L21/205 ,  H01L33/00

CPC classification number: H01L33/0062 ,  C30B19/00 ,  C30B29/40 ,  H01L21/02395 ,  H01L21/02463 ,  H01L21/0251 ,  H01L21/02546 ,  H01L21/02628

Abstract: 本发明公开了AlxGa(1-x)As(0≤x≤1)衬底、红外LED用外延晶片、红外LED、制造AlxGa(1-x)As衬底的方法、制造红外LED用外延晶片的方法以及制造红外LED的方法，所述AlxGa(1-x)As衬底能保持高水平的透射性能，并能通过该衬底制造具有优异的光输出特性的半导体器件。具体地，本发明涉及具有AlxGa(1-x)As层(11)的AlxGa(1-x)As衬底(10a)，所述AlxGa(1-x)As层(11)具有主面11a和在所述主面(11a)相反侧的背面(11b)，并且本发明的AlxGa(1-x)As衬底(10a)的特征在于，在所述AlxGa(1-x)As层(11)中，所述背面(11b)中Al的组成比x大于在所述主面(11a)中Al的组成比x。另外，所述AlxGa(1-x)As衬底(10a)还包含与所述AlxGa(1-x)As层(11)的所述背面(11b)接触的GaAs衬底(13)。

公开(公告)号：CN100589236C

公开(公告)日：2010-02-10

申请号：CN200710104113.6

申请日：2007-05-16

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 西浦隆幸 ,  田中聪 ,  堀江裕介 ,  冲田恭子 ,  冈本贵敏

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/02 ,  H01L21/20 ,  H01L21/302 ,  H01L21/304 ,  H01L21/306

CPC classification number: H01L21/02008 ,  H01L21/02052 ,  H01L22/12 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 提供一种在化合物半导体衬底的表面具有降低了的杂质含量的化合物半导体衬底的检测方法、化合物半导体衬底、化合物半导体衬底的表面处理方法和制造化合物半导体晶体的方法。在化合物半导体衬底的检测方法中，使用原子力显微镜以不大于0.4nm的间距在不大于0.2平方微米的范围内测量化合物半导体衬底的表面粗糙度Rms。通过该检测方法测量的化合物半导体衬底的表面粗糙度Rms为不大于0.2nm。

公开(公告)号：CN1572019A

公开(公告)日：2005-01-26

申请号：CN03801351.7

申请日：2003-07-17

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 田中聪 ,  岩崎孝

IPC: H01L21/66

CPC classification number: H01L31/0304 ,  H01L21/3228 ,  H01L22/14 ,  Y02E10/544 ,  Y02P70/521

Abstract: 提供了一种可以可靠地进行汞去除的含铟晶片和制造这种晶片的方法，以便使汞C－V方法可行，汞C－V方法允许高精度地测量含铟晶片的特性，且它是一种非破坏性的测试。本发明的含铟晶片特征在于具有形成在其外表层上的附加除汞层，其目的在于去除晶片表面粘附的汞和由化合物半导体组成。此外，本发明制造含铟晶片的方法特征在于用粘附到除汞层表面上作为电极的汞评价晶片的电性能后，通过清除除汞层来去除表面粘附的汞。

公开(公告)号：CN106716609A

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201580051484.5

申请日：2015-08-31

Applicant: 住友电气工业株式会社 ,  瑞萨电子株式会社

Inventor： 山田俊介 ,  田中聪 ,  滨岛大辅 ,  木村真二 ,  小林正幸 ,  木岛正贵 ,  滨田牧

IPC: H01L21/336 ,  H01L21/28 ,  H01L21/283 ,  H01L21/316 ,  H01L21/768 ,  H01L23/532 ,  H01L29/12 ,  H01L29/78

CPC classification number: H01L23/53295 ,  H01L21/043 ,  H01L23/291 ,  H01L23/3171 ,  H01L23/3192 ,  H01L23/53223 ,  H01L29/1608 ,  H01L29/45 ,  H01L29/51 ,  H01L29/66068 ,  H01L29/78 ,  H01L29/7802 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

Abstract: 一种碳化硅半导体装置(1)，其具有碳化硅基板(10)、栅绝缘膜(15)、栅电极(27)和层间绝缘膜(2)。碳化硅基板(10)具有主面(10a)。栅绝缘膜(15)设置在碳化硅基板(10)的主面(10a)上。栅电极(27)设置在栅绝缘膜(15)上。以覆盖栅电极(27)的方式设置层间绝缘膜(2)。层间绝缘膜(2)包含：第一绝缘膜(2a)，其与栅电极(27)接触、含有硅原子并且既不含磷原子也不含硼原子；第二绝缘膜(2b)，其设置在第一绝缘膜(2a)上并且含有硅原子以及磷原子和硼原子中的至少一种；和第三绝缘膜(2c)，其含有硅原子并且既不含磷原子也不含硼原子。第二绝缘膜(2b)具有与第一绝缘膜(2a)接触的第一面(2b1)、第一面(2b1)相反侧的第二面(2b2)、以及连接第一面(2b1)和第二面(2b2)的第三面(2b3)。第三绝缘膜(2c)与第二面(2b2)和第三面(2b3)中的至少一者接触。

公开(公告)号：CN105706221A

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201480061004.9

申请日：2014-09-18

Applicant: 住友电气工业株式会社 ,  瑞萨电子株式会社

Inventor： 久保田良辅 ,  山田俊介 ,  堀井拓 ,  增田健良 ,  滨岛大辅 ,  田中聪 ,  木村真二 ,  小林正幸

IPC: H01L21/336 ,  H01L21/28 ,  H01L21/66 ,  H01L29/12 ,  H01L29/423 ,  H01L29/49 ,  H01L29/78

CPC classification number: H01L29/1608 ,  G01R31/2621 ,  G01R31/2856 ,  H01L21/0485 ,  H01L21/049 ,  H01L21/28 ,  H01L21/321 ,  H01L21/324 ,  H01L21/326 ,  H01L22/14 ,  H01L29/12 ,  H01L29/423 ,  H01L29/45 ,  H01L29/49 ,  H01L29/51 ,  H01L29/66068 ,  H01L29/78 ,  H01L29/7827

Abstract: 一种碳化硅半导体器件包括碳化硅衬底(10)、栅极绝缘膜(15)和栅电极(27)。碳化硅衬底(10)具有第一主表面(10a)和与所述第一主表面(10a)相反的第二主表面(10b)。所述栅极绝缘膜(15)被设置成接触所述碳化硅衬底(10)的所述第一主表面(10a)。所述栅电极(27)设置在所述栅极绝缘膜(15)上，使得所述栅极绝缘膜(15)位于所述栅电极(27)和所述碳化硅衬底(10)之间。在175℃的温度下向栅电极(27)施加-5V的栅电压达100小时的第一应力测试中，第一阈值电压和第二阈值电压之差的绝对值不大于0.5V，所述第一应力测试之前的阈值电压被定义为所述第一阈值电压并且所述第一应力测试之后的阈值电压被定义为所述第二阈值电压。因此，提供了阈值电压的波动可减弱的碳化硅半导体器件及其制造方法。

公开(公告)号：CN104321876A

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201380026644.1

申请日：2013-04-19

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 斋藤雄 ,  增田健良 ,  田中聪 ,  平塚健二 ,  岛津充 ,  神原健司

IPC: H01L29/78 ,  H01L21/302 ,  H01L21/336 ,  H01L29/12

CPC classification number: H01L29/1608 ,  H01L21/0445 ,  H01L21/046 ,  H01L21/3065 ,  H01L29/045 ,  H01L29/34 ,  H01L29/4236 ,  H01L29/66068 ,  H01L29/7813

Abstract: 形成由碳化硅制成的、具有第一导电类型的第一层(121)。形成设置在所述第一层(121)上的、具有不同于第一导电类型的第二导电类型的第二层(122)和设置在第二层(122)上的、具有第一导电类型的第三层(123)。形成第二和第三层(122，123)的步骤包括执行杂质离子注入的步骤和执行用于活化通过杂质离子注入而注入的杂质的热处理的步骤。在执行热处理的步骤之后，形成具有穿透第三层(123)和第二层(122)的侧壁并且具有达到第一层(121)的底部的沟槽(TR)。形成栅极绝缘膜(201)以覆盖沟槽(TR)的侧壁。结果，提供具有低导通电阻的碳化硅半导体器件(500)。

公开(公告)号：CN1102914C

公开(公告)日：2003-03-12

申请号：CN98120565.8

申请日：1998-09-08

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 石原朋浩 ,  大贺裕一 ,  田中聪

IPC: C03B8/04 ,  C03B19/14 ,  C03B37/014 ,  G02B6/00

CPC classification number: C03B37/01446 ,  C03B37/0146

Abstract: 通过汽相合成法和在真空或减压气氛中加热所说的多孔玻璃预制棒合成多孔玻璃预制棒来制备玻璃预制棒的方法，为了熔凝所说的多孔玻璃预制棒，包括以下步骤：第一步对所说的多孔玻璃预制棒脱气从而除去吸附或包含在其中的气体；第二步在高于第一步的温度而低于熔凝温度下暂时收缩所说的多孔玻璃预制棒；和第三步在熔凝温度下熔凝所说的多孔玻璃预制棒；其中所说的第一步根据所说的多孔玻璃预制棒的体密度的变化而脱气时间随着变化来进行的。