一种静电卡盘
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107301970A

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201710523780.1

    申请日:2016-08-02

    IPC分类号: H01L21/683

    摘要: 公开了一种静电卡盘。所述静电卡盘包括:主体,所述主体耦合到支撑杆,所述主体具有基板支撑表面;肩部,所述肩部从所述主体的基板支撑表面突出,其中绕所述主体的周边设置所述肩部;内部电极,所述内部电极嵌入在所述主体内,所述内部电极从所述主体的中心径向地延伸到邻近所述肩部的区域;以及外部电极,所述外部电极嵌入在所述主体内,所述外部电极径向地设置在所述内部电极的外部,并且所述外部电极相对地设置在所述内部电极上方的一高度处。

    压控晶圆载体以及晶圆传输系统

    公开(公告)号:CN104051310B

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201310342266.X

    申请日:2013-08-07

    发明人: 陈世宏

    IPC分类号: H01L21/677 H01L21/673

    摘要: 本发明公开了将晶圆保持在恒定压力下的晶圆载体,其中该恒定压力的预设值低于或者高于大气压力,以防止传统晶圆载体中因暴露在大气中而导致的晶圆污染,并且还公开了使用该晶圆载体的晶圆传输系统以及方法。以预设承载压力来填充的晶圆载体被传输并与包括气锁室、真空传送模块及工艺室的晶圆处理设备的气锁室相对接。气锁室通过气泵调整内部压力以相继地先与开启承载门之前的承载压力相等,然后与开启真空传送模块的门之前的真空传送模块压力。然后,晶圆被传送到工艺室中。在处理之后,晶圆被传送回晶圆载体中并在被卸载以及传输到下一晶圆处理设备之前以预设承载压力来填充。本发明还公开了压控晶圆载体以及晶圆传输系统。

    沉积腔室的边缘环
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104205295B

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201380017145.6

    申请日:2013-03-13

    IPC分类号: H01L21/203 H01L21/324

    摘要: 披露了在单一腔室中用于基板的材料处理和热处理的设备和方法。在一个实施方式中,设置有边缘环。边缘环包括环形主体,环形主体具有内周边边缘、第一表面和与第一表面相对的第二表面;第一凸起构件,第一凸起构件从第二表面实质上正交地延伸出;第二凸起构件,第二凸起构件从邻近于第一凸起构件的第二表面延伸出,并通过第一凹陷与第一凸起构件分离;和第三凸起构件,第三凸起构件从邻近于第二凸起构件的第二表面延伸出,并通过第二凹陷分离,第二凹陷包括倾斜表面,倾斜表面具有与第一表面的反射率值不同的反射率值。

    半导体制造设备
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103255393B

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201310052623.9

    申请日:2013-02-18

    IPC分类号: C23C16/458

    摘要: 公开了一种半导体制造设备,包括:至少一个贮器,在其上安装有将要在其上进行沉积的无源对象;以及载体主体,其具有插入空间,至少一个贮器可拆卸地附着到该插入空间。因此,该半导体制造设备缩短了处理时间并且降低了处理费用。半导体制造设备允许各个贮器根据晶片载体上的贮器的位置而具有不同的结构,并且因此在不考虑贮器的位置的情况下在晶片的表面上实现材料的均匀生长。