激光加工装置以及利用该装置的激光加工方法

    公开(公告)号:CN102468120A

    公开(公告)日:2012-05-23

    申请号:CN201010574502.7

    申请日:2010-12-06

    IPC分类号: H01L21/00 H01L21/02

    摘要: 本发明涉及一种利用激光加工材料的激光加工装置以及利用该装置的激光加工方法,更详细地说,公开了能够缩短工序时间、提高生产率的激光加工装置以及利用该装置的激光加工方法。该激光加工方法包括如下步骤:引出晶片步骤,所述送料机从安装在所述晶片盒升降器上的晶片盒中引出晶片并移送至所述晶片对准器;晶片排列及边缘检测步骤,所述晶片对准器对所述晶片的两侧面施压而排列晶片,然后所述边缘检测器动作而检测被固定在所述晶片对准器上的晶片的外轮廓形状图案;装载晶片步骤,所述转送臂动作,将已结束边缘检测的晶片移送至工作台;以及加工晶片步骤,所述工作台和所述激光加工部动作,加工晶片。

    半导体芯片分类装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101234383A

    公开(公告)日:2008-08-06

    申请号:CN200710162649.3

    申请日:2007-10-16

    申请人: QMC株式会社

    发明人: 张铉三 金胜圭

    IPC分类号: B07C5/38

    摘要: 提供一种半导体芯片分类装置,其包括:多个旋转臂,可同时位于晶片载置部和集料块上;拾取器,分别上下移动地结合在上述多个旋转臂上,在晶片载置部拾取半导体芯片,将拾取的半导体芯片移送到对应于等级的集料块进行分类;以及旋转部,利用由旋转电机提供的驱动力使上述旋转臂向一个方向旋转。根据本发明,可以缩短分类工序所需的工作时间,同时减少施加在旋转电机上的负载,在持续的使用中也可以进行精密的控制,可以提高半导体芯片的分类工序的效率和准确性。

    半导体芯片分类装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101234383B

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN200710162649.3

    申请日:2007-10-16

    申请人: QMC株式会社

    发明人: 张铉三 金胜圭

    IPC分类号: H01L21/677 B07C5/38

    摘要: 提供一种半导体芯片分类装置,其包括:多个旋转臂,可同时位于晶片载置部和集料块上;拾取器,分别上下移动地结合在上述多个旋转臂上,在晶片载置部拾取半导体芯片,将拾取的半导体芯片移送到对应于等级的集料块进行分类;以及旋转部,利用由旋转电机提供的驱动力使上述旋转臂向一个方向旋转。根据本发明,可以缩短分类工序所需的工作时间,同时减少施加在旋转电机上的负载,在持续的使用中也可以进行精密的控制,可以提高半导体芯片的分类工序的效率和准确性。