氮化硅的选择性蚀刻
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105580118A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201480050763.5

    申请日:2014-07-31

    Abstract: 描述了蚀刻经图案化的异质结构上的氮化硅的方法,并且所述方法包括由含氟前体以及含氮和氧的前体形成的远程等离子体蚀刻。使来自两个远程等离子体的等离子体流出物流入基板处理区域,在所述基板处理区域中,等离子体流出物与氮化硅反应。等离子体流出物与经图案化的异质结构反应,以便选择性地去除氮化硅,同时非常缓慢地去除硅(诸如,多晶硅)。氮化硅的选择性部分地源于使用相异的(但可能重叠的)等离子体路径而引入含氟前体以及含氮和氧的前体,所述相异的等离子体路径可以是串联的或并联的。

    氮化硅的选择性蚀刻
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105580118B

    公开(公告)日:2019-03-22

    申请号:CN201480050763.5

    申请日:2014-07-31

    Abstract: 描述了蚀刻经图案化的异质结构上的氮化硅的方法,并且所述方法包括由含氟前体以及含氮和氧的前体形成的远程等离子体蚀刻。使来自两个远程等离子体的等离子体流出物流入基板处理区域,在所述基板处理区域中,等离子体流出物与氮化硅反应。等离子体流出物与经图案化的异质结构反应,以便选择性地去除氮化硅,同时非常缓慢地去除硅(诸如,多晶硅)。氮化硅的选择性部分地源于使用相异的(但可能重叠的)等离子体路径而引入含氟前体以及含氮和氧的前体,所述相异的等离子体路径可以是串联的或并联的。

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