拉制重掺磷硅单晶后的排气方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119956471A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202510227248.X

    申请日:2025-02-27

    Abstract: 本发明提供了一种拉制重掺磷硅单晶后的排气方法,涉及单晶硅生产技术领域,该方法在开启上炉筒和下炉筒之间的隔离阀之前,通过对惰性气体流量以及用于平衡调节炉压的APC阀或手动阀的开度进行调节,使惰性气体置换单晶炉上炉筒内的空气;以及,在开启上炉筒和下炉筒之间的隔离阀之后,向单晶炉内通入空气,使单晶炉排气管路内的磷混合物中的红磷与空气接触后缓慢且充分燃烧,并通过对真空球阀进行连续开关操作,将排气管路内壁吸附的磷混合物吹剥落。本方案能够在拉制重掺磷单晶后降低排气时爆炸的几率,提高生产安全性。

    消除重掺硼缺陷的方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118639329A

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202410677274.8

    申请日:2024-05-29

    Abstract: 本发明提供一种消除重掺硼缺陷的方法,属于重掺硼硅单晶加工技术领域,包括以下步骤:S1、将硅料与纯硼放入石英坩埚中进行化料;S2、化料结束后,将温度降至掺杂温度,向石英坩埚中掺杂锗,其中,纯硼与锗的比例为3:1。本发明通过在重掺硼硅单晶中掺杂锗,由于锗的原子半径大于基体硅原子,硼和锗的共掺杂能相互补偿晶格应变,更好的抑制位错的产生,消除重掺硼容易产生的原生缺陷。并且锗和硅都是4族元素,将锗掺入硅中,不会影响重掺硼硅单晶的电学性能。

    能够降低头部电阻率的重掺As硅单晶生产方法

    公开(公告)号:CN113584585A

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202110897832.8

    申请日:2021-08-05

    Abstract: 本发明提供一种能够降低头部电阻率的重掺As硅单晶生产方法,属于掺杂硅单晶生产技术领域。该方法包括以下步骤:等径前工序中,调节氩气流量为120slm‑130slm,并保持该氩气流量至二段等径工序结束;并且,等径前工序中,调节单晶炉炉压为12 kPa‑15 kPa;一段等径工序中,将单晶炉炉压逐渐升高至18 kPa‑20 kPa;二段等径工序中,维持单晶炉炉压为18 kPa‑20 kPa。通过该方法生产重掺砷硅单晶,能够显著降低所制备的重掺砷硅单晶的电阻率,尤其是将重掺砷硅单晶晶棒的头部电阻率降低至0.0029Ω.cm以下,提高重掺砷硅单晶晶棒的综合利用率,降低生产成本。同时,重掺砷硅单晶晶棒拉制过程中,发生晶变导致NG的概率显著下降,进一步提高重掺砷硅单晶晶棒的合格率。

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