基板处理方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100541736C

    公开(公告)日:2009-09-16

    申请号:CN200480015314.3

    申请日:2004-11-08

    Abstract: 本发明提供一种等离子体处理方法,可以使通过使用有机硅烷气体的等离子体CVD法来进行成膜的绝缘膜的介电常数降低、以及维持机械强度。因此,在本发明中,包括:通过向被处理基板供给包含有机硅烷气体的第一处理气体来激励等离子体,而在该被处理基板上形成绝缘膜的成膜工序;和在所述的成膜工序之后,通过向被处理基板供给包含H2气体的第二处理气体来激励等离子体,而进行该绝缘膜的处理的后处理工序,其中,通过微波等离子体天线来进行所述后处理工序的等离子体激励。

    成膜方法、半导体装置的制造方法、半导体装置和成膜装置

    公开(公告)号:CN100405549C

    公开(公告)日:2008-07-23

    申请号:CN200480001409.X

    申请日:2004-04-27

    Abstract: 一种在处理容器内的被处理基板上成膜的成膜方法,由第一膜生长工序和第二膜生长工序构成。该第一膜生长工序重复进行将不包含卤素的由有机金属化合物构成的第一原料气体提供给所述处理容器内后,从所述处理容器内除去所述第一原料气体的第一工序、和将包含氢或者氢化合物的第二原料气体提供给所述处理容器内之后,将所述第二原料气体从所述处理容器内除去的第二工序。该第二膜生长工序重复进行在将由金属卤化物构成的第三原料气体提供给所述处理容器内之后,将所述第三原料气体从所述被处理基板除去第三工序、和将包含氢或者氢化合物的第四原料气体提供给所述处理容器内之后,将所述第四原料气体从所述处理容器内除去的第四工序。

    成膜方法、半导体装置的制造方法、半导体装置和成膜装置

    公开(公告)号:CN1706034A

    公开(公告)日:2005-12-07

    申请号:CN200480001409.X

    申请日:2004-04-27

    Abstract: 一种在处理容器内的被处理基板上成膜的成膜方法,由第一膜生长工序和第二膜生长工序构成。该第一膜生长工序重复进行将不包含卤素的由有机金属化合物构成的第一原料气体提供给所述处理容器内后,从所述处理容器内除去所述第一原料气体的第一工序、和将包含氢或者氢化合物的第二原料气体提供给所述处理容器内之后,将所述第二原料气体从所述处理容器内除去的第二工序。该第二膜生长工序重复进行在将由金属卤化物构成的第三原料气体提供给所述处理容器内之后,将所述第三原料气体从所述被处理基板除去第三工序、和将包含氢或者氢化合物的第四原料气体提供给所述处理容器内之后,将所述第四原料气体从所述处理容器内除去的第四工序。

    细胞的基因组异常评价方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112673110A

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN201980047166.X

    申请日:2019-06-17

    Abstract: 本发明提供一种细胞的基因组异常评价方法,无需评价的专业性,简便且迅速并且为非侵袭性的。基因组异常评价方法将在培养基中经培养的多能干细胞或由多能干细胞进行分化诱导而得的细胞作为被检验细胞,评价所述被检验细胞是否有基因组异常,且所述方法包括下述步骤:测定被检验细胞的培养上清液中的指标物质的存在量;以及基于所述指标物质的存在量来评价所述被检验细胞是否有基因组异常,所述指标物质为选自由脱氧胞苷、犬尿氨酸、腐胺、丙氨酸、半胱氨酸、胱硫醚及苏糖酸所组成的组群中的至少一个,基于所述至少一个指标物质的存在量来进行所述被检验细胞是否有基因组异常的评价。

    基板处理装置的清洁方法

    公开(公告)号:CN1322558C

    公开(公告)日:2007-06-20

    申请号:CN02805470.9

    申请日:2002-03-05

    Inventor: 大岛康弘

    CPC classification number: H01L21/67069 C23C16/4405

    Abstract: 将使羧酸气化的清洁气体供给至附着绝缘性物质的处理室内,同时对处理室内部进行真空排气。当供给至处理室内的清洁气体与附着在处理室内壁和基座上的绝缘性物质接触时,绝缘性物质被配位化而形成绝缘性物质的配位化合物。绝缘性物质的配位化合物,因蒸气压高而容易气化。气化的绝缘性物质的配位化合物,通过真空排气,排出至处理室外面。

    光源装置、基板处理装置、基板处理方法

    公开(公告)号:CN101341582B

    公开(公告)日:2010-12-01

    申请号:CN200780000830.2

    申请日:2007-01-29

    CPC classification number: H01J37/32192 H01J65/044

    Abstract: 本发明提供一种光源装置,该光源装置由包含等离子体的形成区域,在上述等离子体的形成区域中,通过无电极放电形成等离子体而产生发光的等离子体形成室;和划分在上述等离子体形成室中的等离子体的形成区域的下端,透过上述发光的光学窗构成,在上述等离子体形成室内,形成有用于导入生成上述等离子体的微波的微波透过窗,而且,在上述微波透过窗的外侧设置有与上述微波窗结合、导入上述微波的微波天线。

    光源装置、基板处理装置、基板处理方法

    公开(公告)号:CN101341582A

    公开(公告)日:2009-01-07

    申请号:CN200780000830.2

    申请日:2007-01-29

    CPC classification number: H01J37/32192 H01J65/044

    Abstract: 本发明提供一种光源装置,该光源装置由包含等离子体的形成区域,在上述等离子体的形成区域中,通过无电极放电形成等离子体而产生发光的等离子体形成室;和划分在上述等离子体形成室中的等离子体的形成区域的下端,透过上述发光的光学窗构成,在上述等离子体形成室内,形成有用于导入生成上述等离子体的微波的微波透过窗,而且,在上述微波透过窗的外侧设置有与上述微波窗结合、导入上述微波的微波天线。

Patent Agency Ranking