-
公开(公告)号：CN103600857B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201310581307.0
申请日：2013-11-19
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: B64G99/00
Abstract: 本发明公开了一种用于异形卫星结构天线性能测试的调姿装配工艺，包括确定异形卫星结构的安装面；根据安装面的类型选择测试支架；将选定的测试支架与试验设备固定连接，将测试支架与异形卫星的对接面调整到水平或垂直状态；组装两套单梁两吊点的翻转吊具实现异形卫星90°的翻转；组装单梁四吊点的水平吊具，将卫星吊装到与测试支架相匹配的对接面处进行固定连接以测试天线性能。本发明通过对吊具和不同形式测试支架的排列组合，解决了卫星调姿的关键难题，完成了不同天线类型的测试。
-
公开(公告)号：CN104613929A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510006022.3
申请日：2015-01-07
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的立方镜准直测量自动引导方法，该方法通过使工业相机与经纬仪一起转动，并保持相对位置关系不变，然后控制相机采集待测立方镜的图像，通过图像处理识别立方镜并提取出立方镜的角点，得到角点在图像坐标系下的坐标值；建立相机坐标系、立方镜坐标系和经纬仪坐标系之间的数学模型，在该数学模型下，进行坐标转换并解算出立方镜的待测镜面法向直线与经纬仪运动平面的交点位置，控制经纬仪运动到交点位置并根据立方镜待测镜面的法向调整好经纬仪的姿态，使得立方镜待测镜面法线方向进入到经纬仪视场范围内，并基于图像识别的经纬仪自动准直步骤实现立方镜的自动准直。
-
公开(公告)号：CN104132624A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410400543.2
申请日：2014-08-14
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种基于散斑干涉和条纹投影测量航天器结构变形的装置，主要包括激光散斑投影装置、CCD相机、条纹投影装置、数据采集及控制单元等，激光散斑投影装置利用激光散斑干涉测量方法，对被测结构板的局部变形进行测量，条纹投影测量装置通过条纹投影测量及多次测量数据拼接，对大范围的变形进行测量。通过基于散斑干涉和条纹投影组合测量航天器的结构变形，可以实现对航天器结构微变形的大范围、非接触测量，2m×2m范围内的整体精度可达10um，局部需要高精度测量的0.2m×0.2m范围的测量精度可达1um。
-
公开(公告)号：CN104117845A
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201410338995.2
申请日：2014-07-16
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
CPC classification number: B23B45/00 , B23Q11/0046 , B23Q11/0071
Abstract: 本发明公开了一种航天器地面及在轨紧固件破拆工具，主要包括吸尘装置、手持钻孔设备和多余物控制盒，其中，吸尘装置的吸尘管通过多余物控制盒侧面设置的接口与盒体内部连通，确保粉屑能够有效吸入吸尘装置的同时保证粉屑不扩散，多余物控制盒的顶部设置有孔，以供手持钻孔设备的钻头能够伸入多余物控制盒中破拆损坏紧固件，其中，多余物控制盒采用透明的有机玻璃制成，多余物控制盒的盒体内侧围绕顶部的孔设置有多层的毛刷以紧贴手持钻孔设备的钻头防止粉屑逸出。本发明解决了密闭空间及对污染敏感环境内紧固件破拆的技术问题，实现紧固件异常状态下的洁净拆除，满足航天器地面及在轨紧固件装配需求。
-
公开(公告)号：CN102590841B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201110428650.2
申请日：2011-12-20
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种室内或室外试验场中标定坐标系的方法，同时也公开了一种基于iGPS的地面大范围实时动态月球车位置、姿态测量方法。本发明的测量方法实现了模拟月面光照工况下的iGPS的正常测量，并实现了外场沙漠地区的试验场坐标系快速建立、坐标系大范围传递，同时也实现了模拟月面试验场坐标系与地球地理坐标系之间的快速、简单标定以及位姿测量iGPS系统与试验场DEM的坐标统一。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102456082A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201010517807.4
申请日：2010-10-25
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 二维与三维相结合的卫星总装工艺规划与仿真方法，通过将三维虚拟现实环境与二维总装工艺规划环境形结合，以二维工艺规划工作流程为牵引，将卫星的总装过程模拟仿真作为卫星总装工艺规划的一种设计和验证手段，在进行二维工艺规划的同时，可以随时进入虚拟现实环境进行装配方案的仿真模拟，检验卫星装配方案的可行性、安全性及操作舒适性等，使设计人员能够更加直观、清晰地进行总装工艺设计、仿真及验证，克服了传统卫星总装二维工艺设计过程中，工艺人员完全凭借个人经验进行工艺规划的局限性，通过借助于三维虚拟装配环境，将二维与三维工艺设计方法相结合，大大提高了工艺规划工作的效率，降低了工艺人员在工作中对个人经验的依赖，改进了工艺设计方案的优化程度。
-
公开(公告)号：CN102455691A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201010517798.9
申请日：2010-10-25
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G05B19/418
CPC classification number: Y02P90/04
Abstract: 本发明实现了一种高效、实用的卫星总装工艺技术状态控制方法。首先，在工艺编制过程中，通过世界唯一标识符(Globally Unique Identifier，GUID)将工艺文件中工步内容的“文字描述”与卫星“工艺技术状态”一一对应起来，建立一张“关联表”；并将工艺文件及关联表同时导入到MES系统中。然后，在总装实施过程中，根据“文字描述”完成某一总装操作并签署工艺文件时，如果“文字描述”与“工艺状态”间存在一一对应关系，则签署信息(如操作者、互检者、检验员及签署时间等)及操作结果会自动记录入“关联表”中。最后，通过对“关联表”中数据的分类汇总、综合分析，即可获得及时、全面的总装工艺技术状态。
-
公开(公告)号：CN114972527B
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202210497995.1
申请日：2022-05-09
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G06T7/80
Abstract: 本申请提供一种基于立体视觉的投影引导标定方法，投影第一图像至参考面，得到第二图像，第一图像包括多个第一标识点；拍摄第二图像，得到第三图像，第三图像具有多个第三标识点；遍历求解第一标识点和第三标识点的欧式距离，获得匹配点集合；将匹配点集合输入至映射函数，得到单应性矩阵；拍摄标定板，得到第一标定图像；将第一标定图像和单应性矩阵输入至反演函数，得到第二标定图像；单目标定第一标定图像，得到摄像装置的第一外参矩阵和第一畸变向量；单目标定第二标定图像，得到投影装置的第二外参矩阵和第二畸变向量；将第一外参矩阵和第二外参矩阵输入至转换函数，得到投影装置坐标系和摄像装置坐标系之间的旋转矩阵和平移矩阵。
-
公开(公告)号：CN114972527A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210497995.1
申请日：2022-05-09
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G06T7/80
Abstract: 本申请提供一种基于立体视觉的投影引导标定方法，投影第一图像至参考面，得到第二图像，第一图像包括多个第一标识点；拍摄第二图像，得到第三图像，第三图像具有多个第三标识点；遍历求解第一标识点和第三标识点的欧式距离，获得匹配点集合；将匹配点集合输入至映射函数，得到单应性矩阵；拍摄标定板，得到第一标定图像；将第一标定图像和单应性矩阵输入至反演函数，得到第二标定图像；单目标定第一标定图像，得到摄像装置的第一外参矩阵和第一畸变向量；单目标定第二标定图像，得到投影装置的第二外参矩阵和第二畸变向量；将第一外参矩阵和第二外参矩阵输入至转换函数，得到投影装置坐标系和摄像装置坐标系之间的旋转矩阵和平移矩阵。
-
公开(公告)号：CN112683249B
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011531244.4
申请日：2021-02-18
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01C15/00
Abstract: 本申请提供一种航天器舱内设备装配位姿导引方法，包括以下步骤：在被测设备上粘贴第一靶标点；经纬仪测量第一靶标点在被测设备坐标系下的坐标；相机系统采集第一靶标点图像，得到其在相机测量坐标系下的坐标；计算相机系统的投影矩阵和比例系数；在舱体端面及舱内粘贴第二靶标点；经纬仪测量第二靶标点在舱体坐标系下的坐标；相机系统观测舱体内第一靶标点及第二靶标点，得到相机测量坐标系下的坐标；分别计算被测设备坐标系及舱体坐标系相对相机测量坐标系的旋转矩阵及平移矢量；计算被测设备坐标系到舱体坐标系的旋转矩阵及平移矢量。本申请的有益效果是：图像识别与准直测量相结合的方法，有效解决舱内设备装调位姿监测难题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
169
records
(took 0.032 seconds)
