封装组件制造方法
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104409369B

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201410603661.3

    申请日:2014-10-31

    Abstract: 公开了一种制造封装组件的方法,包括:在基板上形成引线框,所述引线框包括第一表面暴露的多条引线;在引线框上安装多个层面的电子元件,使得至少一个层面的电子元件与所述多条引线中的至少一组引线的第一表面电连接;以及去除基板的至少一部分,使得所述多条引线的与第一表面相对的第二表面暴露用于外部连接。该方法无需在制造过程中翻转半导体结构,可以提高封装组件的产量、降低成本并且提高封装质量。

    一种倒装封装装置
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103928431B

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201410146977.4

    申请日:2012-10-31

    Inventor: 谭小春

    CPC classification number: H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本发明涉及一种引线框架以及应用其的倒装封装装置。依据本发明的引线框架包括一组引脚,每一所述引脚包括相互连接的中间部件和外延部件,所述中间部件位于所述引线框架的内部区域,并向所述引线框架的第一侧边延伸,所述外延部件位于所述引线框架的不同于所述第一侧边的外围区域。依据本发明的引线框架以及应用其的倒装封装装置引脚排列紧凑,体积较小,具有很好的适用性和通用性。

    一种引线框架及应用其的芯片倒装封装装置

    公开(公告)号:CN103441115B

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201310395715.7

    申请日:2011-11-29

    Inventor: 谭小春

    CPC classification number: H01L2224/16245

    Abstract: 本发明提供了一种引线框架及应用其的一种芯片倒装封装装置,所述引线框架包括一组指状引脚,所述指状引脚上设置了用于固定芯片位置的突出区域,且突出区域的尺寸、形状和数量与芯片上的焊料凸点的尺寸、形状和数量相一致,使芯片在与引线框架倒装封装的过程中,其芯片上的焊料凸点和引线框架的突出区域能够一一对应接合,从而既能保证芯片和引线框架能够精准对位,稳定性增强;同时也能保证焊料凸点在熔融接合过程中形状和位置不致发生太大变形,从而使芯片和引线框架之间形成良好的电性连接。

    应用于开关型调节器的集成电路组件

    公开(公告)号:CN103762213B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201410035538.6

    申请日:2014-01-24

    Inventor: 谭小春

    Abstract: 公开了一种应用于开关型调节器的集成电路组件,包括:功率器件芯片,包括位于正面的控制电极和第一电极,以及位于背面的第二电极,第二电极作为开关型调节器的开关端子;控制芯片,包括驱动电极以及多个输入输出电极;引线框,包括多个延伸引脚、基底和多个分立引脚,多个延伸引脚与基底整体形成,设置在所述基底的第一侧,多个分立引脚设置在所述基底的第二侧,第一侧和第二侧为相对侧;其中,功率器件芯片背面贴合安装在所述引线框的基底上,第二极性电极与基底电连接;控制电极和驱动电极电连接,控制芯片的输入输出电极分别与对应的分立引脚电连接。本发明可以减小延伸引脚对其它引脚的干扰、避免出现漏电失效现象并具有较好的散热性能。

    封装结构及其制备方法
    40.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103745968B

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410037426.4

    申请日:2014-01-26

    Inventor: 谭小春

    CPC classification number: H01L2224/16245

    Abstract: 本发明提供了一种封装结构及其制备方法,引线框架包括多个引脚,引脚用于电连接芯片的一面为顶面,与所述顶面相对的一面为底面,所述顶面和底面之间的侧面为两个相对的第一侧面及两个相对的第二侧面,所述第一侧面比所述第二侧面狭长;所述顶面和底面之间至少具有一截面,所述顶面的宽度为第一宽度,所述截面的宽度为第二宽度,所述第二宽度小于所述第一宽度,其中,所述顶面的宽度为在顶面处两个第一侧面之间的距离;所述截面的宽度为在截面处两个第一侧面之间的距离,从而有利于增加引脚侧面与塑封料相接触的面积有利于锁定住塑封料,使得塑封料不易破裂,且增加了塑封料破裂的路径或水汽和其他污染物进入内部元件的路径,提高了封装的可靠度。

Patent Agency Ranking