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公开(公告)号:CN115331123A
公开(公告)日:2022-11-11
申请号:CN202210951954.5
申请日:2022-08-09
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G06V20/17 , G06V10/774 , G06V10/40 , G06V10/82 , G06T7/73
Abstract: 本发明属于光电侦察系统的探测识别技术领域,公开了一种小型无人光电侦察系统大视场下小目标识别方法,通过将小型无人光电侦察系统的目标识别放到高性能的地面站上,在地面,通过SMOTE优化数据集后训练的YOLOv3模型,对目标进行识别,然后配合目标位置的解算,上传天空端光电载荷。本发明能够有效提高小目标在大视场下的识别准确率、识别精度和识别速度,同时配合上目标位置定位精度的提高,解决小目标大视场下识别和检测难的问题。
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公开(公告)号:CN112068322B
公开(公告)日:2022-06-17
申请号:CN202010942615.1
申请日:2020-09-09
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于激光位移传感器的多探测器系统光轴平行性校正方法,一、利用双激光位移传感器测角原理,测量被校正探测器侧平面调整偏角;二、多次测量侧平面调整偏角及探测器输出图像中十字中心偏移量,建立两者之间的数学模型;三、通过图像处理算法求得探测器输出图像中十字中心与靶标偏差量,带入探测器侧平面调整偏角与图像十字中心偏移量数学模型中求得探测器侧平面偏角调整量;四、调整长圆孔量使双激光位移传感器测角系统数显值与所求得偏角调整量一致即完成该探测器光轴平行性校正。本发明方法量化了光轴校正中长圆孔调整量,校正过程可视化易于操作,校正精度高并可记录偏角调整量,用于之后拆卸复装无需再次校正。
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公开(公告)号:CN119316739A
公开(公告)日:2025-01-14
申请号:CN202411306482.3
申请日:2024-09-19
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: H04N25/625 , H04N23/667 , H04N23/68
Abstract: 本发明提出了一种大速高比下框架式反扫补偿成像方法,具体涉及一种机载光电侦察系统在大速高比飞行模式下采用框架式反扫运动来补偿飞机运动姿态以实现高质量成像的技术。本技术利用系统自身框架运动完成在曝光时间内补偿载机运动保持图像场景凝视,无需快速反射镜等机构,制造成本低,算法简单,移植性高,解决了在大速高比下成像拖影的问题,实现高质量成像,为目标准确检测与识别奠定了基础,适用于各种使用面阵探测器实现清晰成像的机载光电系统。
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公开(公告)号:CN119245996A
公开(公告)日:2025-01-03
申请号:CN202411434895.X
申请日:2024-10-15
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本申请公开了一种用于无人飞行器导引头风阻测试的测试装置及测试方法,测试装置包括:安装架、上部支撑组件、下部支撑轴、方位轴系、俯仰轴系、L形转接杆、惯性导航系统以及伺服控制系统。通过上述方案,将安装架固定在测试车上,启动测试车行驶至预设马赫数,惯性导航系统可以实时获取无人飞行器导引头的姿态信息,测力组件可以获取力数据。采用本申请的用于无人飞行器导引头风阻测试的测试装置,测试车在普通驾驶环境中也可以获取无人飞行器导引头在预设攻角和预设马赫数条件下的阻力数据,降低了无人飞行器导引头测试试验的条件,从而降低了试验费用,并且获取的工况阻力数据较多且连续,进而为无人飞行器导引头的减阻方案设计提供指导。
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公开(公告)号:CN114925574A
公开(公告)日:2022-08-19
申请号:CN202210621248.4
申请日:2022-06-01
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G06F30/23 , G06F111/04 , G06F119/08
Abstract: 本发明公开了一种基于机‑热耦合的高发热电子部件结构件实时优化方法,其包括以下步骤:S1:生成主发热电子器件采集表;S2:生成网格文件;S3:进行网格划分;S4:进行热仿真,生成瞬态温度值;S5:生成应力及位移热变形结果;S6:多目标优化。本发明采用ISIGHT软件对结构件进行多目标优化,以光具座强度最高为目标,以光具座重量和由热变形引起的热位移为约束条件进行两场耦合分析。
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公开(公告)号:CN114441050A
公开(公告)日:2022-05-06
申请号:CN202210093994.0
申请日:2022-01-26
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于旋转挡片的热像仪实时非均匀性校正方法,该方法把一个旋转的校正挡片放置在红外光路中,在校正挡片匀速旋转过程中,校正挡片有完全遮挡光路和不遮挡光路两种状态,在遮挡光路时采集参考源辐射进行标定;在不遮挡光路时采集场景的辐射,并利用标定数据对场景图像进行非均匀性校正;这两种状态在红外探测器的各个积分周期之间交替进行,就能够在实时显示热像仪的场景图像的同时,也可以实时进行热像仪的非均匀性校正。本发明可以在校正时不影响正常图像输出,可以在热像仪的工作过程中实时标定,不需要人工干预,校正效果稳定。
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公开(公告)号:CN111352207B
公开(公告)日:2022-02-11
申请号:CN202010265673.5
申请日:2020-04-07
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G02B7/182
Abstract: 本发明公开了一种基于卡式光学系统的光机结构,包括:主反射镜组件和次反射镜组件;主反射镜组件包括主镜支架和主反射镜;次反射镜组件包括次镜支架、次镜镜筒、次反射镜;激光四象限探测器置于次反射镜与头罩之间,红外探测器置于主反射镜后端,主反射镜中心开孔,孔内设置红外成像通道,红外成像通道同轴布置在红外探测器前端;激光经主反射镜反射,透过次反射镜后入射至四象限探测器;红外依次经由主反射镜、次反射镜反射后,入射红外成像通道至红外探测器。本发明解决了操作复杂性性高、装配周期长的问题,从而使光机系统装调方便,减小装调成本及装调周期。
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公开(公告)号:CN112068311A
公开(公告)日:2020-12-11
申请号:CN202010936145.8
申请日:2020-09-08
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学技术领域,公开了一种红外、激光、毫米波共口径三模导引头光学系统。该系统由头罩、主镜、次镜、馈源、波导、毫米波收发模块、红外通道、激光通道等组成。头罩和次镜均为等厚设计,其厚度值经过优化计算,保证对毫米波具有最低的损耗。次镜镀宽光谱介质反射膜,将红外、激光反射,毫米波透射。主镜采用铝合金,其反射面为抛物面。毫米波馈源位于次镜和头罩之间,毫米波收发模块位于主镜后端,通过四根波导与馈源相连接。红外通道和激光通道位于主镜后端。本发明次镜处仅有毫米波馈源减小了负载,能够有效提升系统成像质量的稳定性。
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公开(公告)号:CN106841988A
公开(公告)日:2017-06-13
申请号:CN201710061737.8
申请日:2017-01-26
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2856
Abstract: 本发明公开了一种旋转变压器解码芯片故障检测仪及检测方法,包括激磁模块、旋转变压器、芯片检测接口模块、角度解算控制模块、显示模块、电源模块。激磁模块为旋转变压器和芯片检测接口模块提供角度检测基准信号;旋转变压器提供角度测量输入信号;芯片检测接口模块提供检测芯片的安装基座以及芯片外围电路;角度解算控制模块控制角度解算芯片采集旋转变压器的输出信号,并将结果通过显示模块显示出来;电源模块为检测仪提供检测所需的各路电压信号。本发明解决了旋转变压器角度解算芯片焊接前的检测问题:不需要人工观测检测数据,检测结果自动给出;可同时检测数个角度解算芯片,提高了检测效率;自带旋转变压器,不需外接其他设备;体积小,方便易携带。
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