承载装置及半导体加工设备

    公开(公告)号:CN106653673A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201510741733.5

    申请日:2015-11-03

    摘要: 本发明提供一种承载装置及半导体加工设备,包括托盘和盖板,在该托盘的上表面设置有第一凸台,且在该第一凸台的上表面设置有第二凸台,该第二凸台的上表面用于承载晶片;在盖板上,且与第二凸台相对应的位置处设置有通孔,第一凸台和第二凸台位于该通孔中,并且在通孔内设置有压爪,该压爪的下表面与晶片上表面的边缘区域相贴合;第二凸台的直径小于晶片的直径,以在晶片底部的边缘区域形成空隙;在第一凸台的上表面设置有密封圈,该密封圈环绕在第二凸台的周围,且顶端高于第二凸台的上表面。本发明提供的承载装置,其不仅可以避免出现晶片碎片的问题,而且还可以提高晶片的温度均匀性和刻蚀均匀性。

    一种无损晶圆的湿法腐蚀保护夹具

    公开(公告)号:CN105405802A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201510863258.9

    申请日:2015-11-30

    申请人: 浙江大学

    发明人: 杨青 徐鹏飞

    IPC分类号: H01L21/687

    摘要: 本发明公开了一种无损晶圆的湿法腐蚀保护夹具,包括相互配合以夹持晶圆的底座和顶盖,所述晶圆具有需保护的正面和待腐蚀的背面,所述底座可容纳并密封包裹所述正面,所述顶盖为环形且抵压在所述背面的边缘部位,所述底座和顶盖均通过弹性缓冲的密封件与晶圆接触。本发明具有软性夹持的设计,使用中晶圆只与软质密封件接触,减少硬性接触对晶圆的损伤;对应夹持的设计,上下密封件夹持受力点对应,避免受力不均造成晶圆破裂;保护面形状对应设计,避免对夹具紧固时晶圆扭动导致受力不均进而引起裂片。

    基座及使用此基座的外延晶片的制造方法

    公开(公告)号:CN103443904B

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201280011707.1

    申请日:2012-02-13

    发明人: 大西理

    摘要: 本发明是一种基座,其在进行外延层的气相生长时支撑半导体基板,其特征在于,在基座的上表面上,形成有内部配置半导体基板的凹坑,该凹坑呈双层结构,具有支撑半导体基板的外周缘部的上层凹坑部、与在该上层凹坑部的下层且形成于中心侧的下层凹坑部,在下层凹坑部中,形成有贯穿至前述基座的背面且在进行气相生长时为敞开状态的贯穿孔,在基座的背面侧,与上层凹坑部相对应的位置处设置有沟槽。由此,提供一种基座及使用此基座的外延晶片的制造方法,所述基座可以降低半导体基板外周部上且基座的背面侧的与上层凹坑部相对应的位置处的温度,使基板背面的外周部与内周部的热条件固定,而抑制基板背面的背面沉积的产生。