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公开(公告)号:CN1185232A
公开(公告)日:1998-06-17
申请号:CN96194071.9
申请日:1996-05-22
Applicant: 株式会社日立制作所 , 日立化成工业株式会社
IPC: H01L23/498 , H01L23/538 , G06K19/077
CPC classification number: G06K19/07728 , G06K19/07749 , G06K19/0775 , G06K19/07779 , G06K19/07783 , H01L23/49855 , H01L23/49883 , H01L23/642 , H01L23/645 , H01L24/48 , H01L25/165 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/48472 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/01019 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/12033 , H01L2924/14 , H01L2924/15153 , H01L2924/1517 , H01L2924/16195 , H01L2924/19041 , H01L2924/00 , H01L2224/45015 , H01L2924/207 , H01L2224/45099 , H01L2224/05599 , H01L2224/85399
Abstract: 提供了一种半导体组件,它包括:电路板(1),它包含导体电路(4),该导体电路包含连接焊接区;半导体芯片(2),在其第1面上设有连接端;和安装在电路板上的、覆盖电路板的外壳(5),其中将导体电路的连接焊接区和半导体芯片的连接端配置成互相面对的关系,并用导电粘接剂进行互相连接,半导体芯片的中性平面基本上与半导体组件的总的中性平面重合。
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公开(公告)号:CN1132236C
公开(公告)日:2003-12-24
申请号:CN95102930.4
申请日:1995-02-10
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01L21/565 , H01L23/3107 , H01L23/3128 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L2224/05554 , H01L2224/32225 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/49175 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/01079 , H01L2924/01087 , H01L2924/12044 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 一种半导体塑封,特别涉及对BGA封装的封装结构和方法。一种树脂密封的BGA封装,其中支撑架牢固地支撑半导体部件,例如,IC芯片,电路板或电路膜,用树脂密封,用由上半模和下半模构成的模具,其下半模中有多个凸柱,每个凸柱的位置与每个外引出端对应。模具有分割结构,在其各分割的零件之间有出气孔。
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公开(公告)号:CN1242105A
公开(公告)日:2000-01-19
申请号:CN96180555.2
申请日:1996-12-26
Applicant: 株式会社日立制作所 , 日立超大规模集成电路系统株式会社
CPC classification number: H01L24/06 , H01L24/73 , H01L2224/04042 , H01L2224/05554 , H01L2224/06179 , H01L2224/32014 , H01L2224/32055 , H01L2224/32245 , H01L2224/45124 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/45565 , H01L2224/4569 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/48465 , H01L2224/49171 , H01L2224/73265 , H01L2924/181 , H01L2924/00014 , H01L2924/00 , H01L2924/00012
Abstract: 一种制造树脂密封半导体器件的方法,所说半导体器件中管芯垫具有小于安装于管芯垫主表面上的半导体芯片的面积,半导体芯片和管芯垫密封在模制树脂体中。半导体芯片和管芯垫设置于模具的凹腔中,使管芯垫背面和凹腔的相对内表面间的间距比半导体芯片主表面和凹腔的相对内表面间的间距窄相当于管芯垫厚度的距离。通过中部浇口同时向凹腔内注入树脂,从而模制树脂体。于是半导体芯片不会因注入到芯片背侧空间的树脂而向上移动。因此,由于防止了半导体芯片、键合线等暴露于模制树脂体外的缺陷,所以可以提高树脂密封半导体器件的成品率。
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公开(公告)号:CN1113035A
公开(公告)日:1995-12-06
申请号:CN95102930.4
申请日:1995-02-10
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01L21/565 , H01L23/3107 , H01L23/3128 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L2224/05554 , H01L2224/32225 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/49175 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/01079 , H01L2924/01087 , H01L2924/12044 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/00 , H01L2924/00012 , H01L2224/45015 , H01L2924/207
Abstract: 一种半导体塑封,特别涉及对BGA封装的封装结构和方法。一种树脂密封的BGA封装,其中支撑架牢固地支撑半导体部件,例如,IC芯片,电路板或电路膜,用树脂密封,用由上半模和下半模构成的模具,其下半模中有多个凸柱,每个凸柱的位置与每个外引出端对应,模具有分割结构,在其各分割的零件之间有出气孔。
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公开(公告)号:CN100466224C
公开(公告)日:2009-03-04
申请号:CN02123244.X
申请日:1996-05-14
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L21/78
CPC classification number: H01L21/6835 , H01L21/6836 , H01L24/27 , H01L24/29 , H01L24/83 , H01L2221/68322 , H01L2221/68327 , H01L2221/68354 , H01L2221/68363 , H01L2224/29 , H01L2224/29007 , H01L2224/2929 , H01L2224/293 , H01L2224/83191 , H01L2224/83192 , H01L2224/83194 , H01L2224/8385 , H01L2924/00013 , H01L2924/01004 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/01023 , H01L2924/01033 , H01L2924/01061 , H01L2924/01082 , H01L2924/07802 , H01L2924/07811 , H01L2924/19043 , H01L2924/3512 , H01L2924/00 , H01L2924/00014 , H01L2224/29099 , H01L2224/29199 , H01L2224/29299
Abstract: 用包含导电颗粒的有机粘接剂层把半导体芯片和基片粘结在一起,通过导电颗粒将压焊块和电极相互电连接在一起。通过使附着在带上的半导体晶片与刻蚀剂相接触形成该半导体芯片,与刻蚀剂相接触的同时在半导体晶片的面内方向高速旋转该半导体晶片或使该半导体晶片作横向往复运动,均匀刻蚀该半导体晶片,从而减薄其厚度并把减薄后的晶片切割开。用加热头热压分割开的薄芯片,使其粘结到基片。用这种方法可以低成本稳定制造薄半导体芯片,并把它粘结到基片上,不使其破碎,这样得到的半导体器件不大会由于来自外界的挠曲应力而破损。
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公开(公告)号:CN1728372A
公开(公告)日:2006-02-01
申请号:CN200510086073.8
申请日:1997-03-21
Applicant: 株式会社日立制作所 , 日立超爱尔、爱斯、爱工程股份有限公司
IPC: H01L23/488
CPC classification number: H01L23/49816 , H01L23/49827 , H01L23/4985 , H01L24/06 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L24/50 , H01L2224/0401 , H01L2224/04042 , H01L2224/05554 , H01L2224/06136 , H01L2224/45015 , H01L2224/45124 , H01L2224/45144 , H01L2224/48465 , H01L2224/48472 , H01L2224/50 , H01L2224/73215 , H01L2224/85951 , H01L2924/00011 , H01L2924/00014 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01014 , H01L2924/01015 , H01L2924/01023 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/0105 , H01L2924/01057 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/014 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , Y10T29/4913 , Y10T29/49169 , H01L2924/20753 , H01L2224/05599
Abstract: 本发明提供了一种半导体器件,包括:具有形成在其主表面上的多个半导体元件和多个外部端子的半导体芯片;形成在半导体芯片主表面上、暴露出所述多个外部端子的弹性层;形成在弹性层上的绝缘带,该绝缘带具有由绝缘带的一边限定的、露出所述多个外部端子的开口;形成在所述绝缘带表面的多根引线,各具有设置在绝缘带上的第一部分,和位于绝缘带的开口内、延伸穿过所述绝缘带的一边的第二部分,各第二部分与所述外部端子中相应的一个电连接;以及形成在所述多根引线的第一部分上、与所述多根引线电连接的多个凸出电极;其中,所述各多根引线包括作为芯线材料的铜线,所述各多根引线的第二部分的长于从绝缘带的所述边缘到相应的外部端子的直线距离。
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公开(公告)号:CN1190837C
公开(公告)日:2005-02-23
申请号:CN99815785.6
申请日:1999-09-14
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L23/31
CPC classification number: H01L21/6836 , H01L23/3107 , H01L23/3114 , H01L23/3164 , H01L23/4951 , H01L23/49572 , H01L23/49833 , H01L23/4985 , H01L23/562 , H01L24/27 , H01L2221/68327 , H01L2224/05567 , H01L2224/05571 , H01L2224/05572 , H01L2224/05573 , H01L2224/05624 , H01L2224/1134 , H01L2224/13144 , H01L2224/16 , H01L2224/16245 , H01L2224/274 , H01L2924/00013 , H01L2924/01029 , H01L2924/01079 , H01L2924/07802 , H01L2924/12042 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/00014 , H01L2224/13099 , H01L2924/3512 , H01L2924/00
Abstract: 半导体装置是由包含在电路形成面(1X)上具有电极(1C)的半导体芯片(1),覆盖上述半导体芯片(1)的电路形成面(1X)的树脂(7),和覆盖与上述半导体芯片(1)的电路形成面(1X)相对的背面(1Y)的树脂薄膜(2)构成的。通过这样的构成,可以防止半导体芯片的龟裂。
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公开(公告)号:CN1514479A
公开(公告)日:2004-07-21
申请号:CN02123244.X
申请日:1996-05-14
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H01L21/78
CPC classification number: H01L21/6835 , H01L21/6836 , H01L24/27 , H01L24/29 , H01L24/83 , H01L2221/68322 , H01L2221/68327 , H01L2221/68354 , H01L2221/68363 , H01L2224/29 , H01L2224/29007 , H01L2224/2929 , H01L2224/293 , H01L2224/83191 , H01L2224/83192 , H01L2224/83194 , H01L2224/8385 , H01L2924/00013 , H01L2924/01004 , H01L2924/01015 , H01L2924/01019 , H01L2924/01023 , H01L2924/01033 , H01L2924/01061 , H01L2924/01082 , H01L2924/07802 , H01L2924/07811 , H01L2924/19043 , H01L2924/3512 , H01L2924/00 , H01L2924/00014 , H01L2224/29099 , H01L2224/29199 , H01L2224/29299
Abstract: 用包含导电颗粒的有机粘接剂层把半导体芯片和基片粘结在一起,通过导电颗粒将压焊块和电极相互电连接在一起。通过使附着在带上的半导体晶片与刻蚀剂相接触形成该半导体芯片,与刻蚀剂相接触的同时在半导体晶片的面内方向高速旋转该半导体晶片或使该半导体晶片作横向往复运动,均匀刻蚀该半导体晶片,从而减薄其厚度并把减薄后的晶片切割开。用加热头热压分割开的薄芯片,使其粘结到基片。用这种方法可以低成本稳定制造薄半导体芯片,并把它粘结到基片上,不使其破碎,这样得到的半导体器件不大会由于来自外界的挠曲应力而破损。
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公开(公告)号:CN1143371C
公开(公告)日:2004-03-24
申请号:CN96180555.2
申请日:1996-12-26
Applicant: 株式会社日立制作所 , 日立超大规模集成电路系统株式会社
CPC classification number: H01L24/06 , H01L24/73 , H01L2224/04042 , H01L2224/05554 , H01L2224/06179 , H01L2224/32014 , H01L2224/32055 , H01L2224/32245 , H01L2224/45124 , H01L2224/45144 , H01L2224/45147 , H01L2224/45565 , H01L2224/4569 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/48465 , H01L2224/49171 , H01L2224/73265 , H01L2924/181 , H01L2924/00014 , H01L2924/00 , H01L2924/00012
Abstract: 一种制造树脂密封半导体器件的方法,所说半导体器件中管芯垫具有小于安装于管芯垫主表面上的半导体芯片的面积,半导体芯片和管芯垫密封在模制树脂体中。半导体芯片和管芯垫设置于模具的凹腔中,使管芯垫背面和凹腔的相对内表面间的间距比半导体芯片主表面和凹腔的相对内表面间的间距窄相当于管芯垫厚度的距离。通过中部浇口同时向凹腔内注入树脂,从而模制树脂体。于是半导体芯片不会因注入到芯片背侧空间的树脂而向上移动。因此,由于防止了半导体芯片、键合线等暴露于模制树脂体外的缺陷,所以可以提高树脂密封半导体器件的成品率。
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公开(公告)号:CN1131563C
公开(公告)日:2003-12-17
申请号:CN96194071.9
申请日:1996-05-22
Applicant: 株式会社日立制作所 , 日立化成工业株式会社
IPC: H01L23/498 , H01L23/538 , G06K19/077
CPC classification number: G06K19/07728 , G06K19/07749 , G06K19/0775 , G06K19/07779 , G06K19/07783 , H01L23/49855 , H01L23/49883 , H01L23/642 , H01L23/645 , H01L24/48 , H01L25/165 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/48472 , H01L2224/73265 , H01L2924/00014 , H01L2924/01019 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/12033 , H01L2924/14 , H01L2924/15153 , H01L2924/1517 , H01L2924/16195 , H01L2924/19041 , H01L2924/00 , H01L2224/45015 , H01L2924/207 , H01L2224/45099 , H01L2224/05599 , H01L2224/85399
Abstract: 提供了一种半导体组件,它包括:电路板(1),它包含导体电路(4),该导体电路包含连接焊接区;半导体芯片(2),在其第1面上设有连接端;和安装在电路板上的、覆盖电路板的外壳(5),其中将导体电路的连接焊接区和半导体芯片的连接端配置成互相面对的关系,并用导电粘接剂进行互相连接,半导体芯片的中性平面基本上与半导体组件的总的中性平面重合。
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